[發明專利]永磁電機調整方法、裝置、設備以及存儲介質

有效

• 申請號: 202010175890.5
• 申請日: 2020-03-13
• 公開（公告）號: CN113394922B
• 公開（公告）日: 2022-06-14
• 發明（設計）人: 薛秀慧;侯曉軍;耿濤;張磊;姜琛;趙宇坤;郭嵐嵐
• 申請（專利權）人: 中車永濟電機有限公司
• 主分類號: H02K15/00
• 分類號: H02K15/00;H02P23/00;H02P29/028;H02P29/032
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 朱穎;劉芳

1.一種永磁電機調整方法，其特征在于，所述方法應用于控制器，所述方法包括：

獲取反電勢參數、待調整的永磁電機的電磁結構信息、以及待調整的永磁電機的任意短路線圈的最小阻抗值，其中，所述反電勢參數為永磁電機在最高轉速下的反電勢值；

根據所述反電勢參數、所述電磁結構信息、以及所述最小阻抗值，確定所述短路線圈的運行時長；

若所述運行時長不符合預設時長，則向生產設備發送調整指令，所述調整指令用于指示所述生產設備調整所述待調整的永磁電機的電磁結構，以使所述生產設備調整待調整的永磁電機的電磁結構。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取反電勢參數，包括：

向測試永磁電機發送獲取指令，并接收測試永磁電機根據所述獲取指令返回的所述反電勢參數；

或者，通過模擬仿真技術，確定永磁電機在最高轉速下的反電勢值。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述反電勢參數、所述電磁結構信息、以及所述最小阻抗值，確定所述短路線圈的運行時長，包括：

根據所述反電勢參數和所述最小阻抗值，確定所述短路線圈的發熱值；

根據所述短路線圈的發熱值和所述電磁結構信息，確定所述短路線圈的運行時長。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：獲取待調整的永磁電機的線圈的線圈參數；

根據所述反電勢參數和所述最小阻抗值，確定所述短路線圈的發熱值，包括：

根據所述反電勢參數和所述最小阻抗值，確定所述短路線圈的電流值；

根據所述線圈參數和所述電流值，確定所述短路線圈的電流密度；

根據所述電流密度和所述最小阻抗值，確定所述短路線圈的發熱值。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述待調整的永磁電機的電磁結構信息包括以下信息中的一種或多種：電機冷卻結構信息、絕緣材料熔點、永磁體參數、電機槽型參數、電磁線參數。

6.根據權利要求1-5任一項所述的方法，其特征在于，所述調整指令具體用于指示所述生產設備調整所述待調整的永磁電機的以下內容中的一種或多種：永磁體參數、更換絕緣材料、調整電機冷卻結構、調整槽型參數、調整電磁線參數。

7.根據權利要求1-5任一項所述的方法，其特征在于，所述方法，還包括：

根據所述電磁結構信息、所述最小阻抗值、以及永磁電機的目標運行時長，確定所述待調整的永磁電機的目標轉速；

根據所述目標轉速，確定調整參數；

根據所述調整參數，調整所述待調整的永磁電機的運行轉速。

8.一種永磁電機調整裝置，其特征在于，所述裝置包括：

第一獲取單元，用于獲取反電勢參數、待調整的永磁電機的電磁結構信息、以及待調整的永磁電機的任意短路線圈的最小阻抗值，其中，所述反電勢參數為永磁電機在最高轉速下的反電勢值；

第一處理單元，用于根據所述反電勢參數、所述電磁結構信息、以及所述最小阻抗值，確定所述短路線圈的運行時長；

判斷單元，用于判斷所述運行時長是否符合預設時長；

第一調整單元，若所述運行時長不符合預設時長，則用于向生產設備發送調整指令，所述調整指令用于指示所述生產設備調整所述待調整的永磁電機的電磁結構，以使所述生產設備調整待調整的永磁電機的電磁結構。

9.根據權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述第一獲取單元在用于獲取所述反電勢參數時，具體用于：

向永磁電機發送獲取指令，并接收永磁電機根據所述獲取指令返回的所述反電勢參數；

或者，通過模擬仿真技術，確定永磁電機在最高轉速下的反電勢值。