[發明專利]一種光學零件中心厚度自動檢測裝置及方法

在審

• 申請號: 202010174665.X
• 申請日: 2020-03-13
• 公開（公告）號: CN111272085A
• 公開（公告）日: 2020-06-12
• 發明（設計）人: 王滔;王志華;高峰;仝若男
• 申請（專利權）人: 南京理工大學
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 北京君泊知識產權代理有限公司 11496
• 代理人: 李丹

1.一種光學零件中心厚度自動檢測裝置，其特征在于：包括傳送帶（1）、抓取機器人（3）測量組件及數據處理單元（4），所述測量組件包括測量臺（5）及依次設置在測量臺的測試光源（6）、橫向移臺（8）、矩陣CCD（7），所述測試光源（6）水平設置且通過升降系統（61）連接于測量臺（5）；

所述抓取機器人（3）用于將傳送帶（1）上的待測產品搬運至橫向移臺（8）；

所述橫向移臺（8）用于固定待測工件，橫向移臺（8）的移動方向平行于矩陣CCD（7）的所在平面；

所述數據處理單元（4）用于控制抓取機器人（3）、測量組件。

2.根據權利要求1所述的一種光學零件中心厚度自動檢測裝置，其特征在于：所述傳送帶（1）的傳送末端還設有用于避免產品脫落的限位（2）。

3.根據權利要求1所述的一種光學零件中心厚度自動檢測裝置，其特征在于：所述橫向移臺（8）的兩側設有用于限制產品的擋邊（81）。

4.根據權利要求1所述的一種光學零件中心厚度自動檢測裝置，其特征在于：所述抓取機器人（3）將待測工件豎向放置在橫向移臺（8）。

5.根據權利要求1所述的一種光學零件中心厚度自動檢測裝置，其特征在于：所述測試光源（6）是單色紅光光源。

6.一種光學零件中心厚度自動檢測方法，其特征在于：按照以下步驟工作：

傳送帶（1）將待測產品輸送至抓取機器人（3）的工作范圍內，

抓取機器人（3）將待測產品抓起并旋轉至豎向且平行于矩陣CCD（7）所在平行的位置上，并放置在橫向移臺（8）；

測試光源（6）將光束照向待測工件，測試光源（6）豎向移動、橫向移臺（8）橫向移動，矩陣CCD（7）接收透過待測工件的光束，并將信號反饋至數據處理單元（4）；

數據處理單元（4）根據測試光源（6）、橫向移臺（8）的位置信息以及接收的矩陣CCD（7）信息計算出待測工件的中心厚度。

7.根據權利要求6所述的一種光學零件中心厚度自動檢測方法，其特征在于：數據處理單元（4）根據測試光源（6）、橫向移臺（8）的位置信息以及接收的矩陣CCD（7）信息計算出待測工件中心厚度的具體步驟是：

移動測試光源（6）、橫向移臺（8），當待測工件兩側的光束共線時則認定光束穿過待測工件的中心位置；

移動測試光源（6）、橫向移臺（8）中的任意一個，根據待測工件與矩陣CCD（7）的距離、測試光源（6）或橫向移臺（8）相對于中心位置的偏移量，選取至少兩個偏移量；

根據兩個偏移量計算待測工件中心位置的厚度。