[發(fā)明專利]電阻溫度系數(shù)值確定方法和治具

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010174332.7
• 申請日: 2020-03-13
• 公開（公告）號: CN113391123A
• 公開（公告）日: 2021-09-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 邱偉華;華能
• 申請（專利權(quán)）人: 常州市派騰電子技術(shù)服務(wù)有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01N25/00
• 代理公司: 常州智慧騰達(dá)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32328
• 代理人: 曹軍

1.一種電阻溫度系數(shù)值確定方法，其特征在于，所述方法包括：

向待檢測設(shè)備發(fā)送啟動(dòng)測試指令，所述啟動(dòng)測試指令用于觸發(fā)所述待檢測設(shè)備執(zhí)行預(yù)設(shè)測試程序，所述待檢測設(shè)備執(zhí)行所述預(yù)設(shè)測試程序的過程中控制發(fā)熱件持續(xù)發(fā)熱；

利用測溫模塊監(jiān)測所述待檢測設(shè)備的溫度變化；

根據(jù)所述待檢測設(shè)備的溫度變化確定出所述待檢測設(shè)備內(nèi)加熱件的TCR值；

將所述TCR值寫入所述待檢測設(shè)備的存儲器中。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述待檢測設(shè)備的溫度變化確定出所述待檢測設(shè)備內(nèi)加熱件的TCR值之后，所述方法還包括：

判斷所述TCR值是否在預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)；

如果所述TCR值在預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)，則執(zhí)行所述將所述TCR值寫入所述待檢測設(shè)備的存儲器中的步驟，以及展示用于提示所述待檢測設(shè)備的TCR值寫入成功的第一提示。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述待檢測設(shè)備的溫度變化確定出所述待檢測設(shè)備內(nèi)加熱件的TCR值之后，所述方法還包括：

判斷所述TCR值是否在預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)；

如果所述TCR值超出所述預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)范圍，生成所述待檢測設(shè)備為待再次檢測產(chǎn)品的第一記錄，以及將所述第一記錄寫入所述待檢測設(shè)備的存儲器中。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述將所述第一記錄寫入所述待檢測設(shè)備的存儲器中之后，所述方法還包括：

將所述待檢測設(shè)備輸送至二次檢測工位，所述二次檢測工位內(nèi)存放的所述待再次檢測產(chǎn)品被輸送裝置輸送至預(yù)檢測位重新檢測或輸送至分類問題區(qū)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述待檢測設(shè)備的溫度變化確定出所述待檢測設(shè)備內(nèi)加熱件的TCR值之后，所述方法還包括：

判斷所述TCR值是否在預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)；

如果所述TCR值超出所述預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)范圍，展示用于提示所述待檢測設(shè)備需要再次檢測的第二提示。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述向待檢測設(shè)備發(fā)送啟動(dòng)測試指令之前，所述方法還包括：

讀取所述待檢測設(shè)備上信息標(biāo)簽，分析所述信息標(biāo)簽得到第一產(chǎn)品信息；

讀取所述待檢測設(shè)備的存儲器中記錄的第二產(chǎn)品信息；

判斷所述第一產(chǎn)品信息與所述第二產(chǎn)品信息是否一致；

若所述第一產(chǎn)品信息與所述第二產(chǎn)品信息一致，則執(zhí)行所述向待檢測設(shè)備發(fā)送啟動(dòng)測試指令的步驟。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，判斷所述第一產(chǎn)品信息與所述第二產(chǎn)品信息是否一致之后，所述方法還包括：

若所述第一產(chǎn)品信息與所述第二產(chǎn)品信息不一致，則生成所述待檢測設(shè)備存在問題的第二記錄，將所述第二記錄寫入所述待檢測設(shè)備的存儲器中，以及發(fā)出警報(bào)或?qū)⑺龃龣z測設(shè)備轉(zhuǎn)移至問題產(chǎn)品區(qū)域；和/或，

若所述第一產(chǎn)品信息與所述第二產(chǎn)品信息不一致，則將所述待檢測設(shè)備輸送至二次檢測工位，所述二次檢測工位內(nèi)存放的所述待再次檢測產(chǎn)品被輸送裝置輸送至預(yù)檢測位重新檢測。

8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的方法，其特征在于，所述第一產(chǎn)品信息與第二產(chǎn)品信息記錄的信息類型包括加熱件信息、PCB板信息、軟件版本信息中至少一種。

9.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中存儲有一個(gè)或一個(gè)以上的指令，其特征在于，所述一個(gè)或一個(gè)以上的指令被電子煙內(nèi)的處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至8中任一所述的電阻溫度系數(shù)值確定方法。

10.一種電阻溫度系數(shù)值確定治具，其特征在于，包括：

存儲器和處理器；

所述存儲器中存儲有至少一條程序指令；

所述處理器，通過加載并執(zhí)行所述至少一條程序指令以實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至8中任一所述的電阻溫度系數(shù)值確定方法。