[發(fā)明專利]一種基于級(jí)聯(lián)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的表面疵點(diǎn)檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010173891.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-03-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111402226A | 公開(公告)日: | 2020-07-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 朱威;任振峰;陳悅峰;岑寬;何德峰;鄭雅羽 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 浙江工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T7/62;G06N3/04 |
| 代理公司: | 杭州賽科專利代理事務(wù)所(普通合伙) 33230 | 代理人: | 郭薇 |
| 地址: | 310014 浙*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 級(jí)聯(lián) 卷積 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) 表面 疵點(diǎn) 檢測(cè) 方法 | ||
1.一種基于級(jí)聯(lián)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的表面疵點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于:
所述方法包括以下步驟:
步驟1:搭建基于Cascade R-CNN的疵點(diǎn)檢測(cè)網(wǎng)絡(luò);
步驟2:訓(xùn)練并優(yōu)化所述疵點(diǎn)檢測(cè)網(wǎng)絡(luò);
步驟3:使用工業(yè)相機(jī)實(shí)時(shí)采集待檢測(cè)產(chǎn)品的圖像;
步驟4:利用訓(xùn)練并優(yōu)化后的疵點(diǎn)檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)對(duì)圖像進(jìn)行檢測(cè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于級(jí)聯(lián)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的表面疵點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于:所述步驟1中,基于Cascade R-CNN的疵點(diǎn)檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)包括順次配合設(shè)置的以下結(jié)構(gòu):
(1)ResNeXt網(wǎng)絡(luò),作為特征提取網(wǎng)絡(luò),輸出的特征圖輸入至FPN;
(2)特征金字塔FPN,F(xiàn)PN所有輸出的新特征圖輸入至RPN網(wǎng)絡(luò);
(3)區(qū)域建議網(wǎng)絡(luò)RPN,用于在FPN生成的所有新特征圖上生成不同大小、不同尺寸的錨點(diǎn)框,由兩個(gè)3×3卷積層分別預(yù)測(cè)這些錨點(diǎn)框的分?jǐn)?shù)和坐標(biāo)修正值,錨點(diǎn)框經(jīng)坐標(biāo)修正后,作為候選框輸入至后續(xù)的級(jí)聯(lián)網(wǎng)絡(luò)中;
(4)級(jí)聯(lián)網(wǎng)絡(luò)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于級(jí)聯(lián)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的表面疵點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于:所述ResNeXt網(wǎng)絡(luò)包括5個(gè)卷積部分,每個(gè)卷積部分由若干個(gè)基本的卷積單元塊堆疊組成,每個(gè)卷積部分中均采用可變形卷積,輸入圖像在經(jīng)過(guò)每個(gè)卷積部分的運(yùn)算后即生成特征圖,且每經(jīng)過(guò)一個(gè)卷積部分,特征圖的分辨率縮小一半,后四個(gè)卷積部分輸出的特征圖均輸入至FPN。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于級(jí)聯(lián)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的表面疵點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于:所述ResNeXt網(wǎng)絡(luò)其中,C為卷積部分個(gè)數(shù),x、y分別為輸入和輸出,Ti(x)為單個(gè)卷積部分中卷積單元塊的堆疊結(jié)構(gòu)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于級(jí)聯(lián)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的表面疵點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于:所述ResNeXt網(wǎng)絡(luò)中,每個(gè)卷積部分使用3×3的可變形卷積核,卷積后輸出的像素值為y(p0),其中,p0為當(dāng)前卷積窗口的中心點(diǎn),p0+pn為標(biāo)準(zhǔn)卷積窗口中的每個(gè)采樣點(diǎn),△pn為對(duì)標(biāo)準(zhǔn)卷積核中的每個(gè)采樣點(diǎn)的位置增加的偏移變量,R為卷積核的大小,w為卷積核中的系數(shù),x為當(dāng)前卷積窗口中每個(gè)像素點(diǎn)的像素值。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于級(jí)聯(lián)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的表面疵點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于:所述特征金字塔FPN將ResNeXt網(wǎng)絡(luò)中四個(gè)部分輸出的特征圖分別連接一個(gè)1×1卷積層,每個(gè)卷積層的卷積結(jié)果與下一個(gè)分辨率的特征圖的上采樣結(jié)果進(jìn)行相加,最后連接一個(gè)3×3的卷積層,得到4個(gè)新的特征圖;再將ResNeXt網(wǎng)絡(luò)的第5個(gè)特征圖經(jīng)過(guò)步長(zhǎng)為2的最大值池化操作后,得到新的第5個(gè)特征圖;FPN所有輸出的特征圖輸入至RPN網(wǎng)絡(luò)中。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于級(jí)聯(lián)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的表面疵點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于:所述區(qū)域建議網(wǎng)絡(luò)RPN中,設(shè)置參數(shù)用于生成錨點(diǎn)框,所述參數(shù)包括生成錨點(diǎn)框的長(zhǎng)寬比ratios、生成錨點(diǎn)框面積scales和生成錨點(diǎn)框的比例數(shù)量;以θ1用于檢測(cè)橫向的細(xì)長(zhǎng)疵點(diǎn),θ1的取值范圍為[10,50],以θ2用于檢測(cè)縱向的細(xì)長(zhǎng)疵點(diǎn),θ2的取值范圍為[0.02,0.1]。
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于級(jí)聯(lián)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的表面疵點(diǎn)檢測(cè)方法,其特征在于:所述級(jí)聯(lián)網(wǎng)絡(luò)包括三組對(duì)應(yīng)設(shè)置的區(qū)域?qū)R層ROI Align和R-CNN網(wǎng)絡(luò);每個(gè)R-CNN網(wǎng)絡(luò)包括兩層全連接層,這兩層全連接層的輸出分別輸入至分類層和回歸層、用于預(yù)測(cè)分類和目標(biāo)框修正值;每個(gè)R-CNN網(wǎng)絡(luò)中,回歸層的輸出將經(jīng)過(guò)區(qū)域?qū)R層ROI Align固定成7×7尺寸后輸入至下一個(gè)R-CNN結(jié)構(gòu)中進(jìn)一步分類和修正。
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