[發明專利]調試方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202010172039.7
• 申請日: 2020-03-12
• 公開（公告）號: CN111400177B
• 公開（公告）日: 2023-08-15
• 發明（設計）人: 米慶安;李琳;周冰;李小海;于芹
• 申請（專利權）人: 咪咕文化科技有限公司;中國移動通信集團有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06F8/34
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 苗曉靜

本發明實施例提供一種調試方法、裝置、電子設備及存儲介質，所述調試方法包括：獲取懸浮在待調試頁面上層的調試控件的第一位置坐標；確定所述待調試頁面上的功能控件的第二位置坐標；根據所述第一位置坐標以及所述第二位置坐標，從所述待調試頁面上的功能控件中確定目標功能控件；展示針對所述目標功能控件的可視化調試界面，以使用戶通過所述可視化調試界面對所述目標功能控件進行可視化調試。本發明實施例由于利用懸浮在待調試頁面上層的調試控件對待調試頁面上的功能控件進行可視化調試，因此不需要再由開發人員根據經驗進行代碼層的調試，因而使得界面調試功能變得直觀和方便。

技術領域

本發明涉及計算機技術領域，尤其涉及一種調試方法、裝置、電子設備及存儲介質。

背景技術

界面調試是APP進行調試時的一種調試類型，主要用于調試界面上的控件的位置關系，大小，屬性等信息。

目前在進行界面調試時，一般無法直觀展示調試界面，需要依賴開發者憑借其經驗進行調試。例如，開發者憑借其經驗調整代碼層中某個或某些參數的大小。

然而，目前這樣的界面調試方式，對調試人員的要求較高，需要開發者擁有豐富的專業技能和經驗。由此可見，在代碼層面進行調試，存在費時、費力的問題。

發明內容

針對現有技術中的問題，本發明實施例提供一種調試方法、裝置、電子設備及存儲介質。

具體地，本發明實施例提供了以下技術方案：

第一方面，本發明實施例提供了一種調試方法，所述方法包括：

獲取懸浮在待調試頁面上層的調試控件的第一位置坐標；

確定所述待調試頁面上的功能控件的第二位置坐標；

根據所述第一位置坐標以及所述第二位置坐標，從所述待調試頁面上的功能控件中確定目標功能控件；

展示針對所述目標功能控件的可視化調試界面，以使用戶通過所述可視化調試界面對所述目標功能控件進行可視化調試。

進一步地，根據所述第一位置坐標以及所述第二位置坐標，從所述待調試頁面上的功能控件中確定目標功能控件，具體包括：

根據所述第一位置坐標以及所述第二位置坐標，從所述待調試頁面上的功能控件中確定與所述調試控件距離最近的功能控件作為目標功能控件。

進一步地，獲取懸浮在待調試頁面上層的調試控件的第一位置坐標，具體包括：

獲取懸浮在待調試頁面上層且移動距離大于距離閾值以及移動速度小于速度閾值的調試控件的第一位置坐標。

進一步地，展示針對所述目標功能控件的可視化調試界面，以使用戶通過所述可視化調試界面對所述目標功能控件進行可視化調試，具體包括：

獲取所述目標功能控件的引用句柄；

根據所述引用句柄展示針對所述目標功能控件的可視化調試界面，以使用戶通過所述可視化調試界面對所述目標功能控件進行可視化調試。

進一步地，在根據所述第一位置坐標以及所述第二位置坐標，從所述待調試頁面上的功能控件中確定目標功能控件之后，所述方法還包括：

控制所述目標功能控件處于高亮顯示狀態。

進一步地，在獲取懸浮在待調試頁面上層的調試控件的第一位置坐標之前，所述方法還包括：