[發(fā)明專利]工具機調(diào)整方法與其調(diào)整系統(tǒng)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010172021.7
• 申請日: 2020-03-12
• 公開（公告）號: CN113204211A
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 郭晨暉;侯天祐;孫嘉呈;蓋震宇;林勇志
• 申請（專利權(quán)）人: 財團法人工業(yè)技術(shù)研究院
• 主分類號: G05B19/404
• 分類號: G05B19/404
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105
• 代理人: 李芳華

1.一種工具機調(diào)整方法，用以調(diào)整一工具機，其特征在于，包括：

使所述工具機開始一循圓測試；

由一測量儀器取得一測量誤差量E_m，且所述測量誤差量E_m是由所述工具機執(zhí)行所述循圓測試時實際循圓軌跡與預(yù)設(shè)循圓軌跡之差異所決定；

由所述測量誤差量E_m，判斷所述工具機的誤差狀況；

判斷所述誤差狀況是否小于一設(shè)定目標(biāo)，若否則依所述誤差狀況決定一補償參數(shù)，以及設(shè)定所述補償參數(shù)以使所述工具機依所設(shè)定之所述補償參數(shù)開始另一循圓測試并重復(fù)上述步驟，直到判斷所述誤差狀況小于一設(shè)定目標(biāo)；以及

若判斷所述誤差狀況小于所述設(shè)定目標(biāo)，結(jié)束所述循圓測試，并完成調(diào)整所述工具機。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的工具機調(diào)整方法，其特征在于，由所述測量誤差量E_m判斷所述工具機的誤差狀況的步驟包括：

由所述測量誤差量E_m，計算半徑偏差量R_d與軸偏置量A_d；

由所述半徑偏差量R_d與所述軸偏置量A_d，計算修正后軸座標(biāo)值；以及

由修正后軸座標(biāo)值，計算修正誤差量E_c，其中，

所述測量誤差量E_m由所述工具機執(zhí)行所述循圓測試時的所述實際循圓軌跡的實際半徑r_a與在開始所述循圓測時前所設(shè)定之所述預(yù)設(shè)循圓軌跡的預(yù)設(shè)半徑r_d二者之差值所決定；

所述半徑偏差量n為取得所述測量誤差量的次數(shù)；

所述軸偏置量E_m’為所述測量誤差量E_m的單軸分量；

所述修正后軸座標(biāo)值可透過下列公式計算：

修正后第1軸座標(biāo)值x′₁＝-第1軸偏置量A_d1+(所述預(yù)設(shè)半徑r_d+所述測量誤差量E_m–所述半徑偏差量R_d)×cosθ，

修正后第2軸座標(biāo)值x′₂＝-第2軸偏置量A_d2+(所述預(yù)設(shè)半徑r_d+所述測量誤差量E_m–所述半徑偏差量R_d)×sinθ，

且θ介于0至360度之間；

以及

所述修正誤差量E_c可透過下列公式計算：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的工具機調(diào)整方法，其特征在于，由所述測量誤差量E_m判斷所述工具機的誤差狀況的步驟還包括：

由所述修正誤差量E_c隨時間變化的一關(guān)系圖，找出所述工具機執(zhí)行所述循圓測試時的過象限起始時點A與尖角結(jié)束時點B；以及

取得所述修正誤差量E_c于過象限起始時點A時的A點誤差量E_cA、所述修正誤差量E_c于所述尖角結(jié)束時點B時的B點誤差量E_cB，并計算所述A點誤差量E_cA與所述B點誤差量E_cB的差值以得到所述工具機執(zhí)行所述循圓測試的背隙量，其中所述背隙量反應(yīng)所述工具機的所述誤差狀況。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的工具機調(diào)整方法，其特征在于，由所述測量誤差量E_m判斷所述工具機的誤差狀況的步驟還包括：

取得所述修正誤差量E_c最大值的最大誤差量E_cM；以及

計算所述最大誤差量E_cM與所述B點誤差量E_cB的差值以得到所述工具機執(zhí)行所述循圓測試的尖角突起量，其中所述尖角突起量反應(yīng)所述工具機的所述誤差狀況。