[發明專利]半導體裝置及調試系統

有效

• 申請號: 202010171828.9
• 申請日: 2020-03-12
• 公開（公告）號: CN111694697B
• 公開（公告）日: 2023-09-19
• 發明（設計）人: 西山高浩
• 申請（專利權）人: 羅姆股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F13/16;G06F13/32
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287
• 代理人: 林斯凱

本發明的課題在于使調試系統以簡單的構成且較少的開銷實現從外部向半導體裝置的訪問。本發明涉及一種半導體裝置及調試系統。LSI(11)具備：CPU(20)、調試控制部(21)、內部總線(22)、連接于內部總線的存儲部(23、24、26)、及選擇器(27)。選擇器基于來自CPU的選擇控制信號(CNT)，成為將來自CPU的信號傳輸至內部總線的CPU選擇狀態、與將來自調試控制部的信號傳輸至內部總線的調試器選擇狀態中的任一者。原則上設為CPU選擇狀態。在通過調試控制部從外部裝置(12、13)接收到規定指令時，通過將與該規定指令對應的信號從調試控制部發送至CPU，而將選擇器暫時地設為調試器選擇狀態，從而通過調試器控制部向內部總線進行訪問。

技術領域

本發明涉及一種半導體裝置及調試系統。

背景技術

在具備執行程序的CPU(Central?Processing?Unit，中央處理單元)等的半導體裝置中，在開發要執行的程序時，大多數情況下會使用用于支援程序的調試作業的調試系統。

在調試作業中，期望在程序的動作中從外部對半導體裝置內的存儲部(為寄存器或未分類為寄存器的存儲器等，以下稱為內部資源)進行訪問。為了響應該期望，大量調試系統具有如下構成，即從包含LSI(Large?Scale?Integration，大規模集成電路)等的半導體裝置的外部利用串列通信等對內部資源進行訪問，且能夠進行必要的讀寫。

此時，也有時在執行指定的地址的命令時使CPU停止(中斷)而向內部資源進行訪問。但，有的裝置也存在開始執行程序后CPU停止的問題。例如在馬達控制裝置中，如果CPU停止則存在無法控制馬達的旋轉而破壞裝置的情況，所以應避免程序執行開始后的CPU停止。因此，應用于此種裝置的調試系統要求不使CPU停止而向內部資源進行訪問。

[背景技術文獻]

[專利文獻]

[專利文獻1]日本專利第5400443號公報

[專利文獻2]日本專利特開2004-86447號公報

發明內容

[發明要解決的問題]

為了調試而搭載于半導體裝置的電路與原本的半導體裝置的動作沒有關系，所以期望盡可能地制成小規模的電路。

另外，在不使CPU停止而一面使程序進行動作一面進行調試作業的情況下，為了盡可能地不干擾程序的動作，較理想為以極小的開銷(時脈開銷)完成從外部向內部資源的訪問。

此外，在專利文獻1的調試系統中，在設置于半導體裝置的調試電路內需要DMA(direct?memory?access，直接內存訪問)控制器，所以電路規模變大(參考專利文獻1的圖4)。另外，需要將用于對CPU的存儲器訪問與調試器的存儲器訪問進行仲裁的總線仲裁電路設置于半導體裝置內(參考專利文獻1的圖7)，也因此導致電路規模變大，另外，用于獲得訪問權的開銷(時脈開銷)也變大。也就是說，在專利文獻1的調試系統中，如果進入中斷處理，則CPU以向中斷專用的地址產生分支，由中斷專用的調試程序進行控制的方式進行動作，所以調試動作所需的時脈數(也就是說開銷)變大。

另外，在專利文獻2的數據系統中，為了從外部向內部資源進行訪問，而使用相當于半導體裝置(微型計算機)原本所具備的DMA控制器的構成要素。反過來說，專利文獻2的方法無法應用于不具有DMA控制器的半導體裝置。另外，在專利文獻2的方法中，為了利用調試(模擬)用的程序向內部資源實施訪問，半導體裝置的內部需要調試程序專用的RAM(Random?Access?Memory，隨機訪問存儲器)(ERAM(Embedded?RAM，嵌入式RAM))。結果為，設置于半導體裝置的調試用電路的規模變大，且調試動作所需的時脈數(也就是說開銷)也變大。

本發明的目的在于提供一種以簡單的構成且較少的開銷實現外部訪問的半導體裝置及調試系統。