[發明專利]亮度不均勻補償方法、裝置和顯示面板有效
| 申請號: | 202010171559.6 | 申請日: | 2020-03-12 |
| 公開(公告)號: | CN113393811B | 公開(公告)日: | 2022-06-28 |
| 發明(設計)人: | 劉子涵;陳宥燁 | 申請(專利權)人: | 咸陽彩虹光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/34 | 分類號: | G09G3/34 |
| 代理公司: | 深圳精智聯合知識產權代理有限公司 44393 | 代理人: | 夏聲平 |
| 地址: | 712000 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 亮度 不均勻 補償 方法 裝置 顯示 面板 | ||
本發明涉及一種亮度不均勻補償方法、裝置及顯示面板,所述方法包括:獲取亮度不均勻信息及其灰階補償數據;將所述補償數據以非等間距補償表進行儲存;開機后讀取所述補償表對待顯示的灰階數據進行補償;輸出補償后的灰階數據進行畫面顯示;其中,所述非等間距補償表在垂直和水平方向均為非等間距。通過動態可變塊容量模式,對常規亮度不均勻使用8X8塊容量,對較小亮度不均勻選擇更高精度的塊容量,在有效節約存儲器空間的情況下,補償精度較高的亮度不均勻,可節省Flash容量和TCON內的SRAM容量,可實現不同面板的差異化補償。
技術領域
本發明屬于液晶顯示技術領域,具體涉及亮度不均勻補償方法、裝置和顯示面板。
背景技術
現有的液晶顯示器大部分為背光型液晶顯示器,包括殼體、設于殼體內的液晶面板(panel)和背光模組。通常液晶面板由一彩色濾光片(Color Filter,CF)基板、一薄膜晶體管(Thin Film Transistor,TFT)陣列基板以及一填充于兩基板間的液晶層所構成,其工作原理是通過在CF基板和TFT陣列基板上施加驅動電壓來控制液晶層中的液晶分子旋轉,從而控制光的輸出量,將背光模組的光線折射出來產生畫面。
在顯示面板制作完成之后,由于制程工藝的限制,各個顯示面板均會產生不同程度的亮度不均勻(mura或灰階mura)現象,現有的Demura(亮度不均勻補償)技術就是針對顯示面板在生產過程中造成的亮度不均勻現象的補償技術,用以補償顯示面板mura區域的灰階。Demura技術是先通過CCD相機拍攝面板在不同灰階的畫面,獲取或提取面板的mura信息,然后根據該顯示畫面的亮暗差異通過算法得出mura的灰階補償數據,最終得到所選灰階的補償表(Demura table)供硬件調用進行修正,補償表通常燒錄在存儲設備(例如Flash)中。
時序控制器(Tcon IC或TCON)上電后先通過所述灰階補償數據對待顯示的灰階數據進行補償,然后再輸出補償后的灰階數據進行畫面顯示,從而提高顯示面板的亮暗均一性。
然而,現有的Demura技術按照固定的Block size(區塊大小、塊容量或區域范圍)做數據壓縮,如分辨率為3840X2160的面板常用的Block size為8X8,即每8X8大小的像素共用一個補償(數據)值,因此存儲在Flash中的每個補償表大小為481X271,其他像素點的補償數據通過插值計算獲得;這種方法具有效率高,節約成本的特點,但是也存在一些缺點,例如:
1.對于小于8X8像素的mura,如暗點、亮點,受Block size精度限制,無法補償;
2.對于銳度較大的mura類型,如H-line(水平線)mura、V-line(垂直線)mura等缺陷,插值計算方式無法抹平這種缺陷,補償效果差;
3.提高Block size精度,可以解決上述問題,但是統一提高Block size精度時,所需補償表增加,進而資料(數據)量增加,如附圖1所示,使得Flash容量和TCON內的SRAM(Static Random-Access Memory,靜態隨機存取存儲器)容量需求大幅增加,繼而增加硬件成本,而現行4K屏使用的Demura flash通常僅為8Mbits(兆比特)。
發明內容
為了解決現有技術中存在的至少一種問題,本發明提供了亮度不均勻補償(Demura)方法、裝置和顯示面板。本發明要解決的技術問題通過以下技術方案實現:
本發明的一個方面提供了一種亮度不均勻補償(Demura)方法,包括:
步驟一、獲取亮度不均勻(mura)信息及其灰階補償數據;
步驟二、將所述非等間距補償數據以非等間距補償表進行儲存;
步驟三、開機后讀取所述補償表對待顯示的灰階數據進行補償;
步驟四、輸出補償后的灰階數據進行畫面顯示;
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