[發明專利]一種獲取試樣的顯微圖像信息的方法與設備有效
| 申請號: | 202010171393.8 | 申請日: | 2020-03-12 |
| 公開(公告)號: | CN113393407B | 公開(公告)日: | 2023-02-10 |
| 發明(設計)人: | 張大慶 | 申請(專利權)人: | 平湖萊頓光學儀器制造有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/50 | 分類號: | G06T5/50;G06T3/40;G06T15/08;G06T11/60;G02B21/36 |
| 代理公司: | 上海三和萬國知識產權代理事務所(普通合伙) 31230 | 代理人: | 周建華 |
| 地址: | 314299 浙江省嘉興市平*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 獲取 試樣 顯微 圖像 信息 方法 設備 | ||
本申請的目的是提供一種獲取試樣的顯微圖像信息的方法與設備,包括:通過獲取關于試樣的整體區域的多個顯微子圖像信息,根據所述多個顯微子圖像信息生成關于所述試樣的綜合顯微圖像信息,其中,所述綜合圖像信息包括關于所述整體區域中部分區域的三維圖像,以及所述整體區域中除所述部分區域外的其他區域的二維圖像。本方案可以根據用戶需求獲取用戶感興趣的部分區域對應的三維圖像,并結合其他區域的二維圖像,得到綜合顯微圖像信息,所述綜合顯微圖像信息相比于單純的三維圖像,數據量小,相比于單純的二維圖像,能夠獲取到更詳細的關鍵信息,提高了資源利用率同時,保證了圖像的質量,提升了用戶的使用體驗。
技術領域
本申請涉及顯微圖像處理領域,尤其涉及一種獲取試樣的顯微圖像信息的技術。
背景技術
顯微光學成像,通常也稱光學顯微成像,或光學顯微術(OpticalMicroscopy,或Light Microscopy),是指透過樣品或從樣品反射回來的可見光,通過一個或多個透鏡后,能夠得到微小樣品的放大圖像的技術。所得圖像可以通過目鏡直接用眼睛觀察,也可以用感光板或數字化圖像探測器如CCD、CMOS進行記錄,還可以在計算機上進行顯示和分析處理。當然,通過與攝像裝置相結合,還可以錄制關于樣品在視野范圍內的視頻等。但是,顯微鏡能夠觀察到的視野范圍有限,當觀察的樣品大小超出當前視野范圍時,對于樣品整體的狀況很難觀察,當更換物鏡的倍數,擴大當前視野范圍時,又會對樣品的細節的精度有所損失。
發明內容
本申請的一個目的是提供一種獲取試樣的顯微圖像信息的方法與設備。
根據本申請的一個方面,提供了一種獲取試樣的顯微圖像信息的方法,應用于設備,該方法包括:
獲取關于試樣的整體區域的多個顯微子圖像信息;
根據所述多個顯微子圖像信息生成關于所述試樣的綜合顯微圖像信息,其中,所述綜合圖像信息包括關于所述整體區域中部分區域的三維圖像,以及所述整體區域中除所述部分區域外的其他區域的二維圖像。
根據本申請的另一個方面,提供了一種獲取試樣的顯微圖像信息的設備,該設備包括:
呈現所述試樣的綜合顯微圖像信息,其中,所述綜合圖像信息包括關于所述整體區域中部分區域的三維圖像,以及所述整體區域中除所述部分區域外的其他區域的二維圖像。
根據本申請的一個方面,提供了一種獲取試樣的顯微圖像信息的設備,該設備包括:
一一模塊,用于獲取關于試樣的整體區域的多個顯微子圖像信息;
一二模塊,用于根據所述多個顯微子圖像信息生成關于所述試樣的綜合顯微圖像信息,其中,所述綜合圖像信息包括關于所述整體區域中部分區域的三維圖像,以及所述整體區域中除所述部分區域外的其他區域的二維圖像。
根據本申請的一個方面,提供了一種獲取試樣的顯微圖像信息的設備,該設備包括:
二一模塊,用于呈現所述試樣的綜合顯微圖像信息,其中,所述綜合圖像信息包括關于所述整體區域中部分區域的三維圖像,以及所述整體區域中除所述部分區域外的其他區域的二維圖像。
根據本申請的一個方面,提供了一種獲取試樣的顯微圖像信息的設備,該設備包括:
處理器;以及
被安排成存儲計算機可執行指令的存儲器,所述可執行指令在被執行時使所述處理器執行如上所述任一方法的操作。
根據本申請的一個方面,提供了一種存儲指令的計算機可讀介質,所述指令在被執行時使得系統進行如上所述任一方法的操作。
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