[發(fā)明專利]測試方法、電子設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010170789.0
• 申請日: 2020-03-12
• 公開（公告）號: CN111367812A
• 公開（公告）日: 2020-07-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鞠鑫
• 申請（專利權(quán)）人: 北京奇藝世紀(jì)科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京銀龍知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;黃燦

本發(fā)明實施例提供了一種測試方法、電子設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)，其中，上述測試方法包括：在接收到用戶的第一輸入的情況下，向第二電子設(shè)備發(fā)送第一指令與第二指令，接收所述第二電子設(shè)備發(fā)送的測試結(jié)果。本發(fā)明實施例提供的測試方法克服了現(xiàn)有技術(shù)中通過手動操作應(yīng)用程序進(jìn)行測試帶來的費時費力的缺陷，提高了測試過程的自動化程度，節(jié)省人力和時間成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種測試方法、電子設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

眾所周知，在應(yīng)用程序(Application，APP)的開發(fā)中，開發(fā)者通常具有對自身或競爭對手的APP進(jìn)行測試，以獲取APP性能參數(shù)的需求。現(xiàn)有技術(shù)中，通常采用在電子設(shè)備上手動操作APP的方式進(jìn)行測試，整個測試過程費時費力。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施例的目的在于提供一種測試方法、電子設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)，以克服現(xiàn)有技術(shù)中通過手動操作應(yīng)用程序進(jìn)行測試帶來的費時費力的缺陷。具體技術(shù)方案如下：

在本發(fā)明實施的第一方面，首先提供了一種測試方法，應(yīng)用于第一電子設(shè)備，所述方法包括：

在接收到用戶的第一輸入的情況下，向第二電子設(shè)備發(fā)送第一指令與第二指令，其中，所述第一指令用于控制所述第二電子設(shè)備對被測設(shè)備進(jìn)行檢測，所述第二指令用于觸發(fā)所述第二電子設(shè)備控制被測設(shè)備針對目標(biāo)應(yīng)用程序執(zhí)行目標(biāo)操作；

接收所述第二電子設(shè)備發(fā)送的測試結(jié)果，所述測試結(jié)果與目標(biāo)性能指標(biāo)測試數(shù)據(jù)相對應(yīng)，所述目標(biāo)性能指標(biāo)測試數(shù)據(jù)為所述被測設(shè)備中所述目標(biāo)應(yīng)用程序執(zhí)行所述目標(biāo)操作時，所述第二電子設(shè)備檢測到的所述目標(biāo)應(yīng)用程序的性能指標(biāo)所關(guān)聯(lián)的測試數(shù)據(jù)。

在本發(fā)明實施的第二方面，還提供了一種測試方法，應(yīng)用于第二電子設(shè)備，所述方法包括：

接收第一電子設(shè)備發(fā)送的第一指令與第二指令；

響應(yīng)于所述第二指令，控制被測設(shè)備針對目標(biāo)應(yīng)用程序執(zhí)行目標(biāo)操作；

響應(yīng)于所述第一指令，檢測被測設(shè)備中所述目標(biāo)應(yīng)用程序執(zhí)行所述目標(biāo)操作時，所述目標(biāo)應(yīng)用程序的性能指標(biāo)所關(guān)聯(lián)的測試數(shù)據(jù)；

將與所述測試數(shù)據(jù)對應(yīng)的測試結(jié)果發(fā)送至所述第一電子設(shè)備。

在本發(fā)明實施的第三方面，還提供了第一電子設(shè)備，包括：

發(fā)送模塊，用于在接收到用戶的第一輸入的情況下，向第二電子設(shè)備發(fā)送第一指令與第二指令，其中，所述第一指令用于控制所述第二電子設(shè)備對被測設(shè)備進(jìn)行檢測，所述第二指令用于觸發(fā)所述第二電子設(shè)備控制被測設(shè)備針對目標(biāo)應(yīng)用程序執(zhí)行目標(biāo)操作；

接收模塊，用于接收所述第二電子設(shè)備發(fā)送的測試結(jié)果，所述測試結(jié)果與目標(biāo)性能指標(biāo)測試數(shù)據(jù)相對應(yīng)，所述目標(biāo)性能指標(biāo)測試數(shù)據(jù)為所述被測設(shè)備中所述目標(biāo)應(yīng)用程序執(zhí)行所述目標(biāo)操作時，所述第二電子設(shè)備檢測到的所述目標(biāo)應(yīng)用程序的性能指標(biāo)所關(guān)聯(lián)的測試數(shù)據(jù)。

在本發(fā)明實施的第四方面，還提供了第二電子設(shè)備，包括：

接收模塊，用于接收第一電子設(shè)備發(fā)送的第一指令與第二指令；

控制模塊，用于響應(yīng)于所述第二指令，控制被測設(shè)備針對目標(biāo)應(yīng)用程序執(zhí)行目標(biāo)操作；

檢測模塊，用于響應(yīng)于所述第一指令，檢測被測設(shè)備中所述目標(biāo)應(yīng)用程序執(zhí)行所述目標(biāo)操作時，所述目標(biāo)應(yīng)用程序的性能指標(biāo)所關(guān)聯(lián)的測試數(shù)據(jù)；

發(fā)送模塊，用于將與所述測試數(shù)據(jù)對應(yīng)的測試結(jié)果發(fā)送至所述第一電子設(shè)備。

在本發(fā)明實施的又一方面，還提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，所述計算機可讀存儲介質(zhì)中存儲有指令，當(dāng)其在計算機上運行時，使得計算機執(zhí)行上述任一所述的測試方法。