[發明專利]一種基站天線間隔離度的等效測試方法

在審

• 申請號: 202010169512.6
• 申請日: 2020-03-12
• 公開（公告）號: CN111371515A
• 公開（公告）日: 2020-07-03
• 發明（設計）人: 張新輝;趙華鵬;胡俊
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15;H04B17/29
• 代理公司: 電子科技大學專利中心 51203
• 代理人: 張冉

本發明公開了一種基站天線間隔離度的等效測試方法，屬于移動通信和電磁兼容測試技術領域。本發明所述方法基于弗里斯傳輸公式，通過將兩個基站天線之間的實際安裝距離縮小一定的倍數，可以測量縮小距離之后的兩個天線之間的隔離度去得到原來距離下的兩個天線之間的隔離度。本發明所述方法實際操作方便簡單，誤差小，可以在較小的空間內完成測試，節省了基站天線之間隔離度的測試的人力及物力成本。

技術領域

本發明屬于移動通信和電磁兼容測試技術領域，具體涉及一種基站天線間隔離度的等效測試方法。

背景技術

隨著移動通信技術的發展和5G的商用，如說明書附圖圖1所示，越來越多的基站天線被安裝在建筑物的頂部接收和發射信號，天線空間上的緊湊分布可能會造成天線間的相互干擾問題。天線的隔離度是描述兩個天線之間耦合強弱的重要參數，它的值越大，表明兩個天線之間的耦合越弱。

利用矢量網絡分析儀可以測量兩個基站天線的隔離度，然而實際中的測試可能面臨著以下問題：首先，基站天線為了保證通信的覆蓋范圍和通信質量，一般都安裝在建筑物的頂部，兩個基站天線之間的距離可能會比較遠，為此需要用很長的同軸線把兩個基站天線連接進行測試，同軸線的損耗是和長度呈線性關系的，這將可能導致我們的測量誤差過大。其次，真實的測試環境下，兩個天線的周圍可能分布著其它的正在工作的天線，這些天線將會產生電磁干擾進而影響我們的測試結果，此時無法保證兩個天線間隔離度的測試的正確性。最后，真實的測試環境需要攜帶矢量網絡分析儀和供電電源至建筑物的頂部，這可能會耗費大量的人力及物力成本。

微波暗室可以屏蔽外部信號的干擾。同時，微波暗室的四周都安裝有吸波材料，這可以減小電磁波的多徑效應。盡管微波暗室內測量天線間的隔離度忽略了基站天線實際工作環境中的多徑效應，但微波暗室內的測試結果可以作為一個理想的參考值，這可以去評估和指導實際中基站天線的安裝。然而，兩個基站天線之間的距離可能會比較大且基站天線都固定在一個具有一定高度的支架上，若要在微波暗室內測試則需要一個空間比較大的暗室，這對我們的暗室測試環境提出了要求。

綜上所述，現有的方法測量基站天線間的隔離度面臨著較大的挑戰。

發明內容

本發明的目的是克服上述現有技術的缺陷，提供一種基站天線間隔離度的等效測試方法。

本發明所提出的技術問題是這樣解決的：

一種基站天線間隔離度的等效測試方法，包括以下步驟：

步驟1.測量真實環境下安裝的兩個基站天線的水平距離L和兩個基站天線的高度H₁、H₂，記錄兩個基站天線的相對安裝方向；

步驟2.將待測量隔離度的兩個基站天線之間的水平距離L縮小N倍，N為正整數，，待測量隔離度的兩個基站天線之間的高度差ΔH＝H₂-H₁也縮小N倍，此時的直線距離r/N仍需要使接收天線處于發射天線的遠場區，

步驟3.將兩個基站天線安裝在測試支架上,并且保證兩個基站天線的相對安裝方向不變；微波暗室地面上安裝有一定高度的吸波材料,為減小地面反射對測試的影響，測試支架具有一定高度，一般為1米；

步驟4.用已校準矢量網絡分析儀分別測量同軸線A和同軸線B的衰減，分別記為L_A和L_B；

步驟5.同軸線A和同軸線B分別連接兩個基站天線，另一端分別接入矢量網絡分析儀的兩個端口，讀取矢量網絡分析儀的隔離度數據，記為C'；

步驟6.根據下式，真實環境下安裝的兩個基站天線之間的隔離度為：

C＝C′+20log(N)-L_A-L_B。

本發明的有益效果是：