[發明專利]目標檢測方法及相關裝置

在審

• 申請號: 202010167999.4
• 申請日: 2020-03-11
• 公開（公告）號: CN111414821A
• 公開（公告）日: 2020-07-14
• 發明（設計）人: 宋廣錄;劉宇
• 申請（專利權）人: 北京市商湯科技開發有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06K9/20;G06K9/46;G06N3/04
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 熊永強;董文俊

1.一種目標檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

根據區域檢測模型，確定目標圖像的第一原始區域建議框；

根據所述原始區域建議框，確定定位任務在目標圖像上的第一定位區域建議框，以及根據所述原始區域建議框，確定分類任務在所述目標圖像上的第一分類區域建議框；

根據所述第一定位區域建議框確定第一特征，以及根據所述第一分類區域建議框確定第二特征；

根據所述第一特征和所述第二特征，得到目標檢測結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一原始區域建議框，確定定位任務在目標圖像上的第一定位區域建議框，包括：

根據所述第一原始區域建議框確定出第一偏移量；

根據所述第一原始區域建議框和所述第一偏移量，確定所述第一定位區域建議框。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一原始區域建議框確定出第一偏移量，包括：

根據所述第一原始區域建議框確定第三特征；

將所述第三特征輸入到第一運算網絡進行運算，以得到第一運算結果；

根據所述第一原始區域建議框的寬度值、高度值和所述第一運算結果，確定所述第一偏移量。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一原始區域建議框，確定分類任務在所述目標圖像上的第一分類區域建議框，包括：

根據所述第一原始區域建議框，確定出M個第二偏移量，M為正整數；

根據所述M個第二偏移量，確定出所述第一分類區域建議框。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一原始區域建議框，確定出M個第二偏移量，包括：

將所述第一原始區域建議框劃分為k*k個子區域；

將所述第三特征輸入到第二運算網絡進行運算，得到第二運算結果；

根據所述第一原始區域建議框的寬度值、高度值和所述第二運算結果，確定出所述k*k個子區域中的每個子區域的偏移量，以得到所述M個第二偏移量，M等于k*k。

6.根據權利要求3或5所述的方法，其特征在于，所述第一運算網絡與所述第二運算網絡的第一層為同一層。

7.根據權利要求1-6任一項所述的方法，其特征在于，所述目標檢測方法通過目標檢測神經網絡實現，所述方法還包括：

通過樣本圖像及所述樣本圖像的樣本標注對所述目標檢測神經網絡進行訓練，以得到訓練后的目標檢測神經網絡。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述通過樣本圖像及所述樣本圖像的樣本標注對所述目標檢測神經網絡進行訓練，以得到訓練后的目標檢測神經網絡，包括：

根據所述區域檢測模型，確定所述樣本圖像的第二原始區域建議框；

根據所述第二原始區域建議框，確定定位任務在樣本圖像上的第二定位區域建議框，以及根據所述第二原始區域建議框，確定分類任務在所述樣本圖像上的第二分類區域建議框；

根據所述第二定位區域建議框確定第四特征，以及根據所述第二分類區域建議框確定第五特征；至少根據所述第四特征、所述第五特征和所述樣本標注，確定目標損失函數；

根據所述目標損失函數對所述目標檢測神經網絡進行調整，得到訓練后的目標檢測神經網絡。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，所述至少根據所述第四特征、所述第五特征和所述樣本標注，確定目標損失函數，包括：

根據所述第四特征和所述樣本標注，確定出所述定位任務的第一損失函數；

根據所述第五特征和所述樣本標注，確定出所述分類任務的第二損失函數；

根據所述第一損失函數和所述第二損失函數，確定出所述目標損失函數。