[發明專利]一種同時定量分析胺溶液中亞硫酸根和硫酸根離子的方法

在審

• 申請號: 202010167889.8
• 申請日: 2020-03-11
• 公開（公告）號: CN111157666A
• 公開（公告）日: 2020-05-15
• 發明（設計）人: 郭東方;汪世清;王金意;劉練波;郜時旺
• 申請（專利權）人: 中國華能集團清潔能源技術研究院有限公司
• 主分類號: G01N30/88
• 分類號: G01N30/88
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 姚詠華

1.一種同時定量分析胺溶液中亞硫酸根和硫酸根離子的方法，其特征在于，包括以下步驟：

1)離子色譜儀調試，達到測定要求；

2)離子色譜儀達到測定要求后，將分析樣品放入進樣器中，進行進樣測定，待測量結束后，得到出峰圖；

3)利用SO₄^2-以及SO₃^2-的離子標準曲線對分析樣品進行定量測定。

2.根據權利要求1所述的一種同時定量分析胺溶液中亞硫酸根和硫酸根離子的方法，其特征在于，SO₄^2-以及SO₃^2-的離子標準曲線為分析樣品測定時測定獲得，或者分析樣品測定前獲得。

3.根據權利要求1所述的一種同時定量分析胺溶液中亞硫酸根和硫酸根離子的方法，其特征在于，標準曲線通過以下步驟獲得：

a)、標準溶液的配制：配置標準亞硫酸鈉標準溶液和硫酸鈉標準溶液，并分別裝入樣品瓶中，形成標準樣品；

b)、離子色譜儀調試，達到測定要求；

c)、離子色譜儀達到測定要求后，將標準樣品放入進樣器中，進行進樣測定，待測量結束后，得到各樣品出峰圖；

d)利用離子色譜數據處理功能，對樣品出峰圖進行處理，除去雜峰保留有效峰，選用線性關系，對標準溶液SO₄^2-以及SO₃^2-樣品出峰圖做峰面積與濃度之間的標準曲線，分別得到SO₄^2-以及SO₃^2-的離子標準曲線。

4.根據權利要求1所述的一種同時定量分析胺溶液中亞硫酸根和硫酸根離子的方法，其特征在于，利用標準曲線對分析樣品進行定量測定具體為：對分析樣品峰進行定量測量出峰時間和色譜峰面積，利用繪制的標準曲線，采用插值法得到分析樣品中SO₄^2-以及SO₃^2-的含量。

5.根據權利要求3所述的一種同時定量分析胺溶液中亞硫酸根和硫酸根離子的方法，其特征在于，利用高純度亞硫酸鈉配制質量濃度為1％的溶液，待其完全溶解后，取少量亞硫酸鈉溶液，用去離子水分別稀釋至C(Na₂SO₃)＝100mg/L、60mg/L、10mg/L，三種濃度亞硫酸鈉溶液混合完全獲得亞硫酸鈉標準溶液，利用公式P(SO₃^2-)＝C(Na₂SO₃)*80/126，獲得亞硫酸鈉標準溶液中P(SO₃^2-)的濃度。

6.根據權利要求4所述的一種同時定量分析胺溶液中亞硫酸根和硫酸根離子的方法，其特征在于，利用高純度硫酸鈉配制質量濃度為1％的溶液，待其完全溶解后，取少量硫酸鈉溶液，用去離子水分別稀釋至C(Na₂SO₄)＝100mg/L、50mg/L、40mg/L、5mg/L，四種濃度硫酸鈉溶液混合完全獲得硫酸鈉標準溶液，利用公式P(SO₄^2-)＝C(Na₂SO₄)*96/142，獲得硫酸鈉標準溶液中P(SO₄^2-)的濃度。