[發明專利]電容檢測裝置

有效

• 申請號: 202010167216.2
• 申請日: 2020-03-11
• 公開（公告）號: CN111399679B
• 公開（公告）日: 2022-04-08
• 發明（設計）人: 陳臣
• 申請（專利權）人: 北京集創北方科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 唐菲

1.一種電容檢測裝置，其特征在于，包括：

通道電容，用于根據感應信號，產生不同的電容值；

檢測電路，連接所述通道電容，用于接入脈沖信號，并檢測所述通道電容的電容值；

調整電路，連接在所述通道電容與所述檢測電路之間，用于抵消所述通道電容的基礎電容值，并生成所述通道電容的變化電容值；

所述檢測電路還用于，將所述通道電容的變化電容值轉換為輸出信號；

所述調整電路包括：

減基電容；

第一減基開關，一端連接所述減基電容的正極，另一端連接于所述通道電容；

第二減基開關，一端連接所述減基電容的負極，另一端連接于參考電平端口；

第一電平開關，一端連接所述減基電容的正極，另一端連接于第一電平端口；所述第一電平開關包括：第一子開關，一端連接在所述減基電容的正極，另一端連接于第一電平端口的低電平端口；第二子開關，一端連接在所述減基電容的正極，另一端連接于第一電平端口的高電平端口；

第二電平開關，一端連接所述減基電容負極，另一端連接于第二電平端口；所述第二電平開關包括：第三子開關，一端連接在所述減基電容的負極，另一端連接于第二電平端口的低電平端口；第四子開關，一端連接在所述減基電容的負極，另一端連接于第二電平端口的高電平端口；

其中，所述第一子開關與所述第四子開關采用第一時序同時控制斷開或閉合；第二子開關與所述第三子開關采用第二個時序同時控制斷開或閉合。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，還包括：

第一復位開關，第一端連接于所述檢測電路的正向輸入端，第二端連接所述檢測電路的反向輸入端。

3.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，還包括：

檢測開關，連接在所述第一復位開關的所述第二端與所述檢測電路的反向輸入端之間。

4.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述減基電容為電流源；所述減基電容包括：

第一電流源，所述第一電流源的輸入端連接所述第一減基開關。

5.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述減基電容還包括：

第二電流源；

第三減基開關，一端連接所述通道電容的正極，另一端連接所述第二電流源的輸出端。

6.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述檢測電路包括：

運算放大器，所述運算放大器的反向輸入端連接所述通道電容的正極，所述運算放大器的正向輸入端連接脈沖信號端口；

反饋電容，連接在所述運算放大器的反向輸入端和所述運算放大器的輸出端之間；

在運算放大器通過所述脈沖信號端口接入脈沖信號時，所述檢測電路用于檢測所述通道電容的變化電容值。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述檢測電路包括：

第二復位開關，并聯于所述反饋電容。