[發明專利]一種偏光顯微鏡偏振方向校準工具及校準方法

在審

• 申請號: 202010164663.2
• 申請日: 2020-03-11
• 公開（公告）號: CN111258047A
• 公開（公告）日: 2020-06-09
• 發明（設計）人: 陶興泉
• 申請（專利權）人: 重慶奧特光學儀器有限責任公司
• 主分類號: G02B21/00
• 分類號: G02B21/00;G02B27/28
• 代理公司: 重慶德創至道知識產權代理事務所(普通合伙) 50245
• 代理人: 陳先權

本發明公開了一種偏光顯微鏡偏振方向校準工具及校準方法，其特征在于：包括半蔭片及半蔭片托板，其中所述半蔭片為兩片對稱布置的偏振片，所述半蔭片托板中部具有圓孔，所述半蔭片遮擋在圓孔處，所述偏振片的偏振方向與其對稱線呈37°夾角。本發明的有益效果包括：降低了偏光顯微鏡的校準難度，可明顯判斷平行和垂直的光強差別，偏光顯微鏡校準簡單易操作。

技術領域

本發明涉及偏振光的儀器、工具的校準、檢驗工具的領域，具體涉及一種偏光顯微鏡偏振方向校準工具及校準方法。

背景技術

當以偏振光為基本工作原理的儀器或顯微鏡，需要對被測樣本進行定量分析的時候，那么就不得不對儀器所使用的偏振光部件，進行方向校正。但是在普通觀察手段下，只能識別光能量是否變弱，而無法判斷出偏振方向。以偏光顯微鏡為例，以往判斷偏振光基準方向一般有兩種工具，帶有黑云母礦物的礦片(礦物切片)，使用薄膜偏振片或石英等礦物制作的半蔭片。現有技術中雖然使用黑云母的礦物切片可以判斷出初始光學器件的偏振方向，是水平的0°，還是豎直的90°的大致方向。但其往往作為教學工具使用，需要具有一定知識性質的辨識度，不具有普遍性。在工廠校準工作中，顯得尋的慢，不易操作，且需要工人具有較多的專業知識。而且認為判斷誤差較大。

發明內容

針對上述現有技術中的不足之處，本發明提供一種偏光顯微鏡偏振方向校準工具及校準方法，其結構簡單，可以根據圖像結果判斷顯微鏡的偏振部的偏振方向，方便調節。

為了達到上述目的，本發明采用了以下技術方案：

一種偏光顯微鏡偏振方向校準工具，其特征在于：包括半蔭片及半蔭片托板，其中所述半蔭片為兩片對稱布置的偏振片，所述半蔭片托板中部具有圓孔，所述半蔭片遮擋在圓孔處，所述偏振片的偏振方向與其對稱線呈37°夾角。

進一步地，所述半蔭片托板為矩形板，四周倒圓角，所述半蔭片的對稱軸線與所述半蔭片托板的長邊垂直。

進一步地，所述半蔭片托板為金屬薄板，其正面蝕刻有半蔭片的偏振方向符號及偏振角度數值。

一種偏光顯微鏡偏振方向校準方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、在偏光顯微鏡的偏振部前方設置點光源；

S2、將偏振方向為37°的半蔭片放置在偏光顯微鏡的偏振部后方，觀察結果；

S3、根據觀察到的圖像結果判斷偏光顯微鏡的偏振部偏振方向；

S4、根據觀察結果調整偏光顯微鏡的偏振部的方向。

進一步地，步驟S3中觀察的結果為一半明一半暗則說明偏振部偏振方向與所述半蔭片的對稱軸方向的夾角為銳角；當S3中觀察的結果為明暗一致，且整體亮度偏亮則說明偏振部偏振方向與所述半蔭片的對稱軸方向平行；當S3中觀察的結果為明暗一致，且整體亮度偏暗則說明偏振部偏振方向與所述半蔭片的對稱軸方向垂直。

本發明的有益效果包括：降低了偏光顯微鏡的校準難度，可明顯判斷平行和垂直的光強差別，偏光顯微鏡校準簡單易操作。

附圖說明

圖1是本發明的結構示意圖；

圖2是本發明校準方法的原理圖；

圖3是本發明部分圖像對應的偏振情況圖。

具體實施方式

下面結合具體實施例及附圖來進一步詳細說明本發明。