[發明專利]一種基于電子負載的精度自動校正方法及系統

有效

• 申請號: 202010164492.3
• 申請日: 2020-03-11
• 公開（公告）號: CN111273208B
• 公開（公告）日: 2022-05-10
• 發明（設計）人: 丘育文;蔣利
• 申請（專利權）人: 深圳市金銳顯數碼科技有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 王政

1.一種基于電子負載的精度自動校正方法，其特征在于，包括：

控制測試主機發送預設指令，以對待測主板進行不同電流檔位的背光電流數據測試，其中，所述待測主板與所述測試主機建立雙向通信；

控制電子負載進行ADC數據采集并反饋至所述測試主機，其中，所述電子負載與所述待測主板形成電流回路；

根據采集到的所述ADC數據與不同電流檔位的背光電流數據基準值得出電流差值，并控制所述待測主板對不同電流檔位補償相應的所述電流差值；

控制電子負載模塊進行ADC數據采集并反饋至所述測試主機具體包括：

掃描基準測試點的電壓數值，以獲取所述ADC數據，并反饋至所述測試主機；

控制所述待測主板接收到所述預設指令后進行開機，以便接收所述電子負載的輸出的所述電流差值；

待測主板開機初始化時會根據不同的電流檔位補償相對應的電流差值。

2.根據權利要求1所述的精度自動校正方法，其特征在于，還包括：

將所述電流差值以矩陣的方式寫入所述電子負載的緩存區域，以進行存儲。

3.根據權利要求1所述的精度自動校正方法，其特征在于，所述不同電流檔位包括：

第1檔:小于等于300毫安；

第2檔:大于300毫安且小于等于400毫安；

第3檔:大于400毫安且小于等于500毫安；

第4檔:大于500毫安且小于等于600毫安；

第5檔:大于600毫安且小于等于700毫安；

第6檔:大于700毫安且小于等于800毫安；

第7檔:大于800毫安且小于等于900毫安。

4.一種基于電子負載的精度自動校正系統，其特征在于，包括：

預設指令發送模塊，用于控制測試主機發送預設指令，以對待測主板進行不同電流檔位的背光電流數據測試，其中，所述待測主板與所述測試主機建立雙向通信；

ADC數據采集模塊，用于控制電子負載進行ADC數據采集并反饋至所述測試主機，其中，所述電子負載與所述待測主板形成電流回路；

電流差值補償模塊，用于根據采集到的所述ADC數據與不同電流檔位的背光電流數據基準值得出電流差值，并控制所述待測主板對不同電流檔位補償相應的所述電流差值；

開機模塊，用于控制所述待測主板接收到所述預設指令后進行開機，以便接收所述電子負載的輸出的所述電流差值；

所述ADC數據采集模塊的實現方式具體包括：

掃描基準測試點的電壓數值，以獲取所述ADC數據，并反饋至所述測試主機；

待測主板開機初始化時會根據不同的電流檔位補償相對應的電流差值。

5.根據權利要求4所述的精度自動校正系統，其特征在于，還包括：

儲存模塊，用于將所述電流差值以矩陣的方式寫入所述電子負載的緩存區域，以進行存儲。

6.根據權利要求4所述的精度自動校正系統，其特征在于，所述不同電流檔位包括：

第1檔:小于等于300毫安；

第2檔:大于300毫安且小于等于400毫安；

第3檔:大于400毫安且小于等于500毫安；

第4檔:大于500毫安且小于等于600毫安；

第5檔:大于600毫安且小于等于700毫安；

第6檔:大于700毫安且小于等于800毫安；

第7檔:大于800毫安且小于等于900毫安。