[發(fā)明專利]一種光子晶體光纖的散射功率三維分布測量裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010164367.2
• 申請日: 2020-03-11
• 公開（公告）號: CN111238775A
• 公開（公告）日: 2020-06-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 胡雪妍;鄭勝亨;周維;王冠中;趙博望;王芳;黃小霞;郭懷文;鄧武;鐘偉;張崑
• 申請（專利權(quán)）人: 中國工程物理研究院激光聚變研究中心
• 主分類號: G01M11/00
• 分類號: G01M11/00
• 代理公司: 北京方圓嘉禾知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11385
• 代理人: 馮靜

1.一種光子晶體光纖的散射功率三維分布測量裝置，其特征在于，包括：光源、待測光纖、透光圓筒、旋轉(zhuǎn)臺、光電探測器以及與所述光電探測器電連接的鎖相放大器；

所述光源的調(diào)制頻率與所述鎖相放大器的調(diào)制頻率相同；

所述待測光纖一端固定在第一旋轉(zhuǎn)軸承上，所述待測光纖的另一端穿過所述透光圓筒固定在第二旋轉(zhuǎn)軸承上，以使所述第一旋轉(zhuǎn)軸承和所述第二旋轉(zhuǎn)軸承工作時(shí)所述待測光纖繞自身軸線旋轉(zhuǎn)；

所述透光圓筒內(nèi)裝有與自身折射率相同的折射率匹配液，且位于所述透光圓筒內(nèi)部的待測光纖為剝掉涂覆層的光纖；

所述光電探測器安裝在所述旋轉(zhuǎn)臺上，以使所述光電探測器繞著所述透光圓筒內(nèi)部的剝掉涂覆層的光纖旋轉(zhuǎn)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光子晶體光纖的散射功率三維分布測量裝置，其特征在于，位于所述透光圓筒外部的待測光纖為套有不透光黑管的光纖。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光子晶體光纖的散射功率三維分布測量裝置，其特征在于，還包括放置有所述待測光纖、所述透光圓筒、所述旋轉(zhuǎn)臺以及所述光電探測器的黑箱。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種光子晶體光纖的散射功率三維分布測量裝置，其特征在于，還包括放大器；所述放大器的一端與所述光電探測器連接，所述放大器的另一端與所述鎖相放大器連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種光子晶體光纖的散射功率三維分布測量裝置，其特征在于，還包括信號發(fā)生器和光開關(guān)；

所述信號發(fā)生器通過所述光開關(guān)與所述光源連接；

所述信號發(fā)生器與所述鎖相放大器連接；

所述信號發(fā)生器用于產(chǎn)生方波信號并同時(shí)發(fā)送至所述光開關(guān)和所述鎖相放大器，以使所述光源的調(diào)制頻率與所述鎖相放大器的調(diào)制頻率相同。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種光子晶體光纖的散射功率三維分布測量裝置，其特征在于，還包括位于所述黑箱內(nèi)部的第一同步步進(jìn)電機(jī)和第二同步步進(jìn)電機(jī)；

所述第一旋轉(zhuǎn)軸承固定在所述第一同步步進(jìn)電機(jī)上，所述第二旋轉(zhuǎn)軸承固定在所述第二同步步進(jìn)電機(jī)上。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光子晶體光纖的散射功率三維分布測量裝置，其特征在于，還包括遮光筒；

所述遮光筒設(shè)置在所述待測光纖散射光出射方向上以使所述待測光纖的散射光全部直接進(jìn)入所述光電探測器。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光子晶體光纖的散射功率三維分布測量裝置，其特征在于，所述光源為中心波長為1550nm的激光光源。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光子晶體光纖的散射功率三維分布測量裝置，其特征在于，所述透光圓筒為玻璃圓筒。