[發明專利]一種測試設備的信號校準方法

有效

• 申請號: 202010162249.8
• 申請日: 2020-03-10
• 公開（公告）號: CN111352021B
• 公開（公告）日: 2022-08-09
• 發明（設計）人: 蔣海軍
• 申請（專利權）人: 上海御渡半導體科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R35/00
• 代理公司: 上海天辰知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31275
• 代理人: 陶金龍;馬盼

本發明公開了一種測試設備的信號校準方法，包括如下步驟：S01：設定測試設備信號的起始值、結束值和步長；在測試設備的校準寄存器中寫入默認值；S02：驅動測試設備從起始值開始輸出信號，并依次增加步長，直至輸出結束值；S03：記錄并存儲測試設備對應的實際輸出信號值；S04：將設置的信號值和實際輸出信號值輸入至分段校準算法模塊中，所述分段校準算法模塊求出分段點以及各分段區間的校準系數；S05：根據各分段區間的校準系數進行對應分段區間輸出信號的校準。本發明提供的一種測試設備的信號校準方法，可以在全量程范圍內分段進行校準、還可以自動尋找有效的分段點，進一步降低測試設備的輸出信號的誤差。

技術領域

本發明涉及測試設備信號校準領域，具體涉及一種測試設備的信號校準方法。

背景技術

目前ATE測試設備的校準采用的是通過調節ATE芯片內部校準寄存器來校正ATE芯片的輸出信號的誤差，現有技術中通過設置校準寄存器的增益和偏置因子對設定信號進行校準。

如附圖1所示，現有技術中先設定輸出值，之后計算對應的輸出code值(十六進制碼值)，并將輸出值對應的code值寫入輸出寄存器；同時求出校準系數，計算對應的校準code值，并將校準系數對應的code值寫入校準寄存器，輸出寄存器和校準寄存器共同作用，輸出設定值對應的輸出信號。上述方法是先通過驅動測試設備輸出校準信號來求出校準系數，計算對應的校準Code值，并寫入校準寄存器以校正測試設備的輸出信號的誤差，由于ATE芯片的內部寄存器存在校準缺陷，且內部寄存器有字長限制，往往只能往一個方向上進行校正，導致校正后的系統仍然存在誤差。

在上述校準過程中，校準寄存器通過增益和偏置共同對設定值進行校準，如附圖2所示，現有技術中驅動設備輸出信號的最大值與最小值，并記錄對應的輸出實際值的最大值與最小值，求出增益誤差系數Gain，其中，Vout_max,Vout_min分別為輸出實際值的最大值和最小值，Vset_max,Vset_min分別為驅動設備輸出信號的最大值和最小值。驅動設備輸出信號的中間值(一般為零點值)，并記錄對應的實際值，以求出偏移量誤差系數Offset；Offset＝Vout_mid-Vset_mid；其中，Vout_mid即為對應的輸出實際值，Vset_mid即為驅動設備輸出信號的中間值。保存校準系數Gain與Offset值，并寫入校準寄存器。目前的ATE測試設備的校準采用的是在全量程范圍內進行一次校正，沒有分多個量程進行校準，即校準寄存器的值在全量程范圍內只有一個值。由于全量程范圍的量程比較大，導致校準后的系統在某些量程處的誤差比較小，其他量程的誤差相對較大，無法保證在全量程范圍內的精度要求。

發明內容

本發明的目的是提供一種測試設備的信號校準方法，可以在全量程范圍內分段進行校準、還可以自動尋找有效的分段點，進一步降低測試設備的輸出信號的誤差。

為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案：一種測試設備的信號校準方法，包括如下步驟：

S01：設定測試設備信號的起始值、結束值和步長；在測試設備的校準寄存器中寫入默認值；

S02：驅動測試設備從起始值開始輸出信號，并依次增加步長，直至輸出結束值；

S03：記錄并存儲測試設備對應的實際輸出信號值；

S04：將設置的信號值和實際輸出信號值輸入至分段校準算法模塊中，所述分段校準算法模塊求出分段點以及各分段區間的校準系數；

S05：根據各分段區間的校準系數進行對應分段區間輸出信號的校準。

進一步地，所述步驟S04中分段校準算法模塊采用自動線性校準分段算法求出分段點以及各分段區間的校準系數。

進一步地，采用自動線性校準分段算法求出分段點以及各分段區間的校準系數包括如下步驟：

S041：將分割點設置為起始點后移x位，計算起始點和分割點之間分割區間的擬合度；x為大于0的整數；