[發明專利]一種光纖FA結構及高回損光接收器件在審
| 申請號: | 202010160365.6 | 申請日: | 2020-03-10 |
| 公開(公告)號: | CN111367027A | 公開(公告)日: | 2020-07-03 |
| 發明(設計)人: | 鐘幸;陳麗瓊;聞小波;王一鳴;周紀承;許其建 | 申請(專利權)人: | 武漢華工正源光子技術有限公司 |
| 主分類號: | G02B6/42 | 分類號: | G02B6/42 |
| 代理公司: | 北京匯澤知識產權代理有限公司 11228 | 代理人: | 吳靜 |
| 地址: | 430223 湖北省武漢市東湖高*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 光纖 fa 結構 高回損光 接收 器件 | ||
1.一種光纖FA結構,其特征在于:包括二氧化硅基板、玻璃蓋板和光纖,所述二氧化硅基板上表面具有刻蝕形成的V型槽,且二氧化硅基板的一端面具有全反射斜面,該全反射斜面的傾斜角α為41±0.5°,所述光纖置于V型槽內,所述玻璃蓋板覆蓋部分光纖,且玻璃蓋板位于遠離全反射斜面一端。
2.如權利要求1所述的一種光纖FA結構,其特征在于:所述二氧化硅基板上的V型槽為一個或多個,且多個V型槽平行并排布置。
3.如權利要求1所述的一種光纖FA結構,其特征在于:所述光纖包括光纖包層段和無包層段,所述光纖包層段為光纖的光輸出端,所述玻璃蓋板覆蓋于光纖的無包層段。
4.一種高回損光接收器件,其特征在于:包括權利要求1~3任一項所述的光纖FA結構,用于光電轉換的光電探測器以及接收組件;所述光電探測器包括光電探測PD芯片和設置在光電探測PD芯片上表面的聚焦透鏡,所述光電探測PD芯片上表面具有電極和有效光探測面,所述聚焦透鏡的通光孔中心與所述光電探測PD芯片的有效光探測面中心在縱向上錯位且在橫向上對齊布置,所述光電探測器與所述接收組件通過電連接金線導通。
5.如權利要求4所述的一種高回損光接收器件,其特征在于:所述聚焦透鏡為硅材質,且聚焦透鏡的折射率為3.2~3.5。
6.如權利要求4所述的一種高回損光接收器件,其特征在于:所述聚焦透鏡表面鍍有與工作波長對應的增透膜。
7.如權利要求4所述的一種高回損光接收器件,其特征在于:所述聚焦透鏡與光電探測PD芯片之間通過與其折射率匹配的膠水層連接,所述膠水層厚度為10~20μm。
8.如權利要求4所述的一種高回損光接收器件,其特征在于:所述聚焦透鏡的兩側點有絕緣的焊盤保護膠,所述焊盤保護膠的折射率為2~3。
9.如權利要求4所述的一種高回損光接收器件,其特征在于:所述接收組件包括COC基座和PCB板一,所述光纖FA結構和光電探測器均設置在COC基座上,所述PCB板一位于靠近COC基座上光電探測器的一端,且PCB板一與光電探測器的電極通過電連接金線連接。
10.如權利要求4所述的一種高回損光接收器件,其特征在于:所述接收組件包括PCB板二,所述光纖FA結構和光電探測器均設置在該PCB板二上,所述光電探測器的電極通過電連接金線與PCB板二連接。
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