[發(fā)明專利]一種自動切換式反射率測試支架及測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010158724.4 | 申請日: | 2020-03-09 |
| 公開(公告)號: | CN111272778B | 公開(公告)日: | 2022-10-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐向明;李寧;茍菲;楊麗 | 申請(專利權(quán))人: | 北京環(huán)境特性研究所 |
| 主分類號: | G01N22/00 | 分類號: | G01N22/00 |
| 代理公司: | 北京格允知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11609 | 代理人: | 周嬌嬌 |
| 地址: | 100854*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 自動 切換 反射率 測試 支架 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種自動切換式反射率測試支架及測試方法,包括基座、主軸、小低散射支架、測試件連接裝置和材料板,主軸轉(zhuǎn)動連接在基座上,若干個(gè)小低散射支架架設(shè)在主軸上,若干個(gè)測試件連接裝置架設(shè)在小低散射支架上,若干個(gè)材料板架設(shè)在測試件連接裝置上,其中一個(gè)測試件連接裝置上安裝有定標(biāo)基準(zhǔn)板,本發(fā)明具有不僅可降低支架對測試背景的影響,保證了測試穩(wěn)定性、一致性,更大大提高了測試效率,具備良好的工程應(yīng)用價(jià)值的優(yōu)點(diǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及雷達(dá)吸波材料反射率測試技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種自動切換式反射率測試支架及測試方法。
背景技術(shù)
目前在RAM(雷達(dá)吸波材料)反射率測試領(lǐng)域,對于平板型吸波材料,國內(nèi)微波暗室常采用遠(yuǎn)場RCS測試法檢測RAM反射率,該方法利用定標(biāo)基準(zhǔn)板進(jìn)行定標(biāo)后,分別測得同尺寸良導(dǎo)體金屬平板的反射功率和平板型RAM材料板的反射功率,通過兩者的比值,計(jì)算得到平板型RAM的反射率。
在測量平板型RAM反射率時(shí),需要消除環(huán)境的影響,其中樣品支架的影響至關(guān)重要,由于目前主要采用低散射泡沫支架,而泡沫支架在長時(shí)間使用后,性能下降,雜散提高,對測試的影響難以消除。同時(shí),材料樣板的測試姿態(tài)也很重要,直接關(guān)系到測量精度。每測一塊材料樣品,均需要測試人員利用工具進(jìn)行水平與垂直度的調(diào)整,費(fèi)時(shí)費(fèi)力,同時(shí),由于人的局限性,很難保證每一次更換材料樣板的姿態(tài)準(zhǔn)確性。
因此,針對以上不足,需要提供一種自動切換式反射率測試支架及測試方法。
發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問題
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是解決常規(guī)方法所存在泡沫支架對背景的影響、因頻繁更換樣品所引起的測試一致性誤差、以及低效率的弊端的問題。
(二)技術(shù)方案
為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供了一種自動切換式反射率測試支架,包括基座、主軸、小低散射支架、測試件連接裝置和材料板,主軸轉(zhuǎn)動連接在基座上,若干個(gè)小低散射支架架設(shè)在主軸上,若干個(gè)測試件連接裝置架設(shè)在小低散射支架上,若干個(gè)材料板架設(shè)在測試件連接裝置上,其中一個(gè)測試件連接裝置上安裝有定標(biāo)基準(zhǔn)板。
通過采用上述技術(shù)方案,測試時(shí),配合電控自動切換一個(gè)定標(biāo)基準(zhǔn)板和十七個(gè)測試材料板到測試位置,無需人工更換材料板,即可任意切換多塊測試材料板,完成多波段的反射率測試,不僅可降低支架對測試背景的影響,保證了測試穩(wěn)定性、一致性,更大大提高了測試效率,具備良好的工程應(yīng)用價(jià)值。
作為對本發(fā)明的進(jìn)一步說明,優(yōu)選地,基座前架設(shè)有遮蔽屏,遮蔽屏外徑大于材料板圍成的總外徑,遮蔽屏頂部開設(shè)有窗口,所述窗口外徑與單一材料板外徑相同。
通過采用上述技術(shù)方案,保證僅所需測試的材料板能夠反射雷達(dá)波,以保證能通過捕捉到的反射信號來準(zhǔn)確判斷該材料板的多波段反射率。
作為對本發(fā)明的進(jìn)一步說明,優(yōu)選地,小低散射支架截面為三角形,小低散射支架錐角端指向材料板。
通過采用上述技術(shù)方案,避免小低散射支架反射雷達(dá)波而與材料板反射的雷達(dá)波混合,影響試驗(yàn)人員對材料板反射率的判斷,降低金屬物對電磁波的影響,保證測試的準(zhǔn)確性。
作為對本發(fā)明的進(jìn)一步說明,優(yōu)選地,測試件連接裝置包括工裝和磁性表座,工裝固連在小低散射支架上,磁性表座固連在工裝上,材料板吸附在磁性表座上。
通過采用上述技術(shù)方案,可快速安裝材料板,無需再進(jìn)行調(diào)整,保證測試材料的一致性和準(zhǔn)確性,且此裝置可二維調(diào)整,一次定位后可保持長時(shí)間,無需再調(diào)整。
作為對本發(fā)明的進(jìn)一步說明,優(yōu)選地,遮蔽屏包括屏板和屏尖,屏板為方形板,屏尖為四棱錐狀,若干個(gè)屏尖呈矩陣式分布在屏板遠(yuǎn)離材料板的一側(cè)。
通過采用上述技術(shù)方案,屏尖采用吸波材料,可以吸收雷達(dá)波,從而消除金屬支架對雷達(dá)波的影響。
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