[發明專利]一種閃爍體面陣列伽馬射線廢物桶掃描設備及其使用方法

有效

• 申請號: 202010158326.2
• 申請日: 2020-03-09
• 公開（公告）號: CN111736200B
• 公開（公告）日: 2023-01-06
• 發明（設計）人: 王德忠;顧衛國;楊檜;周文濤;張新煜;馬元巍;唐新海;王江瑋
• 申請（專利權）人: 上海交通大學
• 主分類號: G01T1/20
• 分類號: G01T1/20;G01T1/16;G01T1/178
• 代理公司: 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236
• 代理人: 胡晶

1.一種閃爍體面陣列伽馬射線廢物桶掃描設備，其特征在于，包括閃爍體面陣列探測裝置、廢物桶(7)旋轉臺、透射源(9)；

所述閃爍體面陣列探測裝置包括探測裝置底座(3)，所述探測裝置底座(3)上方設置有鉛板(1)，所述鉛板(1)上開設有若干行鉛板(1)準直孔陣列，每行鉛板(1)準直孔陣列包括若干鉛板(1)準直孔；所述鉛板(1)準直孔遠離廢物桶(7)旋轉臺的一端分別設置有閃爍探測器(2)；透射源(9)通過鉛板(1)準直孔發射到每個探測器上，透射源(9)和探測器(2)分別分布在廢物桶的兩側；

所述閃爍體面陣列探測裝置下方設置有位移組件；位移組件用于控制閃爍體面陣列探測裝置、探測裝置底座(3)移動；

所述位移組件包括導軌(4)、與導軌(4)平行設置的絲杠(5)，所述探測裝置底座(3)開設有與絲杠(5)相配合的螺紋孔；

所述螺紋孔的中軸線與鉛板(1)所在平面的夾角大于0°小于90°；

其特征在于，所述導軌(4)、絲杠(5)所在直線與鉛板(1)所在平面的夾角大于0°小于90°。

2.根據權利要求1所述的閃爍體面陣列伽馬射線廢物桶掃描設備，其特征在于，所述鉛板(1)呈扇環形。

3.根據權利要求1所述的閃爍體面陣列伽馬射線廢物桶掃描設備，其特征在于，所述透射源(9)還包括屏蔽器。

4.根據權利要求1所述的閃爍體面陣列伽馬射線廢物桶掃描設備，其特征在于，所述鉛板(1)內置不銹鋼支架，所述透射源(9)下方設置有透射源支架(10)，所述位移組件下方設置有探測器系統底座(6)。

5.一種閃爍體面陣列伽馬射線廢物桶掃描設備，其特征在于，包括閃爍體面陣列探測裝置、廢物桶(7)旋轉臺、透射源(9)；所述透射源(9)還包括準直器；

所述閃爍體面陣列探測裝置包括探測裝置底座(3)，所述探測裝置底座(3)上方設置有鉛板(1)，所述鉛板(1)呈扇環形；所述鉛板(1)上開設有若干行鉛板(1)準直孔陣列，每行鉛板(1)準直孔陣列包括若干鉛板(1)準直孔；所述鉛板(1)準直孔遠離廢物桶(7)旋轉臺的一端分別設置有閃爍探測器(2)；透射源(9)通過鉛板(1)準直孔發射到每個探測器上；

所述閃爍體面陣列探測裝置下方設置有位移組件；位移組件用于控制閃爍體面陣列探測裝置、探測裝置底座(3)移動；

所述位移組件包括導軌(4)、與導軌(4)平行設置的絲杠(5)，所述探測裝置底座(3)開設有與絲杠(5)相配合的螺紋孔；所述鉛板(1)內置不銹鋼支架，所述透射源(9)下方設置有透射源支架(10)，所述位移組件下方設置有探測器系統底座(6)

所述螺紋孔的中軸線與鉛板(1)所在平面的夾角大于0°小于90°；所述導軌(4)、絲杠(5)所在直線與鉛板(1)所在平面的夾角大于0°小于90°。

6.一種根據權利要求1或4的閃爍體面陣列伽馬射線廢物桶掃描設備的使用方法，其特征在于，包括如下步驟：

A、將廢物桶(7)垂直方向分為M層，從底部至頂部段層編號分別為K1，K2，……KM，首先在K2位置處開始測量K1、K2、K3段層；

B、旋轉廢物桶(7)的同時探測器陣列進行測量并計數；當旋轉一周后，探測器陣列沿著導軌(4)平移，廢物桶(7)依然按照之前旋轉的角度進行旋轉，直至完成一周的測量后，探測器陣列繼續沿著導軌(4)平移，廢物桶(7)重復上述旋轉過程，探測器分別計數直至完成當前段層；沿著導軌(4)平移次數為2次；

C、當K1、K2、K3段層測量完成后，閃爍體面陣列探測裝置和透射源(9)同時向上移動三個位置，即K5層，重復步驟B的測量步驟，測量K4、K5、K6段層，直至完成所有段層的測量；

D、采用三維數據重建算法，分別得到廢物桶(7)內每個體素的密度和活度，從而實現層析γ掃描。