[發明專利]一種檢測物體接近距離的方法

在審

• 申請號: 202010157222.X
• 申請日: 2020-03-09
• 公開（公告）號: CN111220063A
• 公開（公告）日: 2020-06-02
• 發明（設計）人: 孫滕諶;張大華;莊瑋
• 申請（專利權）人: 北京他山科技有限公司
• 主分類號: G01B7/02
• 分類號: G01B7/02
• 代理公司: 北京金之橋知識產權代理有限公司 11137
• 代理人: 林建軍;耿慕白

1.一種檢測物體接近距離的方法，至少具有第一電極和第二電極，第一電極構成第一電容傳感器單元，第二電極構成第二電容傳感器單元；第一電極和第二電極布置成朝向待檢測物體接近的方向，其特征在于，所述第一電極與第二電極在物體接近方向上成相互有距離差的布置，并且該距離差大于1mm；還包括電容檢測電路和計算處理裝置，檢測電路分別連接至第一、第二電容傳感器單元，分別檢測第一、第二電容傳感器單元的電容值；計算處理裝置采用除法運算獲得二個電容傳感器單元電容值的比值，該比值與物體接近電容傳感器的距離成反比關系的單調函數關系，通過該比值依據下列公式即可計算出物體接近電容傳感器的基礎距離，其公式為：

其中d1為物體離第一電容傳感器的電極的距離；△d為第一電極與第二電極的距離差，k為二個電極結構設置確定后的一個常數。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述電容檢測電路為電容數字轉換電路。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括第三電極構成第三電容傳感器單元，第三電極與所述的第一、第二電極在物體接近方向上有距離差，依據第三電極與第一、第二電極的電容值的比值，計算出物體接近的距離，再與上述基礎距離進行算術平均，以消除誤差。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，第一電極與第二電極相鄰設置。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，第一電極與第二電極在投影上，一個包容另外一個的方式設置。

6.根據權利要求1至5中任一項所述的方法，其特征在于，電極為曲面電極。

7.根據權利要求1至5中任一項所述的方法，其特征在于，上述電極為平面電極，電極相對于物體接近方向傾斜設置。