[發(fā)明專(zhuān)利]一種金屬材料動(dòng)力學(xué)響應(yīng)診斷裝置及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010156721.7 | 申請(qǐng)日: | 2020-03-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111307843B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-05-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何衛(wèi)華;席濤;辛建婷;于明海;儲(chǔ)根柏;曾發(fā);稅敏;盧峰;趙永強(qiáng) | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)工程物理研究院激光聚變研究中心 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N23/20008 | 分類(lèi)號(hào): | G01N23/20008;G01N23/207 |
| 代理公司: | 北京高沃律師事務(wù)所 11569 | 代理人: | 楊媛媛 |
| 地址: | 621000 四*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 金屬材料 動(dòng)力學(xué) 響應(yīng) 診斷 裝置 方法 | ||
1.一種金屬材料動(dòng)力學(xué)響應(yīng)診斷裝置,其特征在于,包括:納秒束激光源、皮秒束激光源、金屬微絲背光靶和DXRD診斷包;
所述納秒束激光源發(fā)出的納秒激光束輻照至待檢測(cè)金屬樣品的上表面;所述皮秒束激光源發(fā)出的皮秒激光束輻照至所述金屬微絲背光靶,所述皮秒激光束輻照至所述金屬微絲背光靶后產(chǎn)生X射線(xiàn)源,所述X射線(xiàn)源用于對(duì)所述待檢測(cè)金屬樣品的動(dòng)力學(xué)響應(yīng)過(guò)程進(jìn)行X射線(xiàn)衍射成像;所述DXRD診斷包包括屏蔽模塊和IP成像板,所述IP成像板置于所述屏蔽模塊內(nèi)部,所述IP成像板用于記錄所述X射線(xiàn)衍射成像后的成像數(shù)據(jù),所述屏蔽模塊用于屏蔽背光源中雜散光對(duì)所述待檢測(cè)金屬樣品衍射成像的影響;所述IP成像板記錄的成像數(shù)據(jù)用于對(duì)所述待檢測(cè)金屬樣品的相關(guān)特性進(jìn)行分析;
所述金屬微絲背光靶指向衍射光路方向,所述皮秒激光束與所述金屬微絲背光靶的法向夾角為30度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬材料動(dòng)力學(xué)響應(yīng)診斷裝置,其特征在于,所述皮秒激光束的脈寬為1~10皮秒。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬材料動(dòng)力學(xué)響應(yīng)診斷裝置,其特征在于,所述金屬微絲背光靶的直徑為20μm,長(zhǎng)度為500μm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬材料動(dòng)力學(xué)響應(yīng)診斷裝置,其特征在于,還包括:鉭屏蔽裝置,所述鉭屏蔽裝置固定于所述待檢測(cè)金屬樣品與所述DXRD診斷包之間,所述X射線(xiàn)源輻照所述待檢測(cè)金屬樣品后產(chǎn)生的衍射譜線(xiàn)穿過(guò)所述鉭屏蔽裝置內(nèi)部通路到達(dá)所述IP成像板。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬材料動(dòng)力學(xué)響應(yīng)診斷裝置,其特征在于,所述屏蔽模塊包括:鋁殼、鉛層和聚四氟乙烯層;所述IP成像板外部依次包覆所述聚四氟乙烯層、所述鉛層和所述鋁殼。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的金屬材料動(dòng)力學(xué)響應(yīng)診斷裝置,其特征在于,所述IP成像板的位置在水平方向可調(diào)節(jié),調(diào)節(jié)范圍為5mm~100mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的金屬材料動(dòng)力學(xué)響應(yīng)診斷裝置,其特征在于,所述納秒激光束的加載脈寬為2~5ns,加載激光能量為10~150J,功率密度為1012w/cm2。
8.一種金屬材料動(dòng)力學(xué)響應(yīng)診斷方法,其特征在于,所述金屬材料動(dòng)力學(xué)響應(yīng)診斷方法應(yīng)用于權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的金屬材料動(dòng)力學(xué)響應(yīng)診斷裝置,所述金屬材料動(dòng)力學(xué)響應(yīng)診斷方法包括:
采用納秒激光束輻照至待檢測(cè)金屬樣品的上表面;
采用皮秒激光束輻照至金屬微絲背光靶,產(chǎn)生X射線(xiàn)源;所述X射線(xiàn)源輻照至所述待檢測(cè)金屬樣品的下表面;
采用IP成像板記錄X射線(xiàn)衍射成像后的成像數(shù)據(jù);
根據(jù)所述金屬微絲背光靶的幾何結(jié)構(gòu)排布和衍射譜線(xiàn)在所述IP成像板上的相對(duì)位置關(guān)系,計(jì)算得到在沖擊加載前后所述待檢測(cè)金屬樣品的晶格結(jié)構(gòu)變化的壓縮度數(shù)據(jù);
根據(jù)所述壓縮度數(shù)據(jù)和所述IP成像板記錄的成像數(shù)據(jù),對(duì)所述待檢測(cè)金屬樣品的相關(guān)特性進(jìn)行分析;
所述金屬微絲背光靶指向衍射光路方向,所述皮秒激光束與所述金屬微絲背光靶的法向夾角為30度。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的金屬材料動(dòng)力學(xué)響應(yīng)診斷方法,其特征在于,根據(jù)所述金屬微絲背光靶的幾何結(jié)構(gòu)排布和衍射譜線(xiàn)在所述IP成像板上的相對(duì)位置關(guān)系,計(jì)算得到在沖擊加載前后所述待檢測(cè)金屬樣品的晶格結(jié)構(gòu)變化的壓縮度數(shù)據(jù),具體包括:
利用公式η=Δd/d0=1-sinθ0/sinθ1計(jì)算所述待檢測(cè)金屬樣品的晶格結(jié)構(gòu)變化的壓縮度數(shù)據(jù);其中η為所述待檢測(cè)金屬樣品的晶格結(jié)構(gòu)變化的壓縮度數(shù)據(jù);Δd為相對(duì)于沖擊加載前,待檢樣品沖擊加載后的晶面間距變化量;d0為待檢樣品沖擊加載前的初始晶面間距;θ0為靜態(tài)衍射線(xiàn)的衍射角,θ1為動(dòng)態(tài)衍射線(xiàn)的衍射角。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的金屬材料動(dòng)力學(xué)響應(yīng)診斷方法,其特征在于,所述根據(jù)所述壓縮度數(shù)據(jù)和所述IP成像板記錄的成像數(shù)據(jù),對(duì)所述待檢測(cè)金屬樣品的相關(guān)特性進(jìn)行分析,具體包括:
根據(jù)所述IP成像板記錄的成像數(shù)據(jù),判斷沖擊加載后所述待檢測(cè)金屬樣品的衍射圖譜圖上除了動(dòng)靜態(tài)衍射線(xiàn),相比于沖擊加載前是否出現(xiàn)新的衍射譜線(xiàn);
當(dāng)沖擊加載后所述待檢測(cè)金屬樣品的衍射圖譜圖上除了動(dòng)靜態(tài)衍射線(xiàn),相比于沖擊加載前出現(xiàn)新的衍射譜線(xiàn),確定所述待檢測(cè)金屬樣品發(fā)生相變動(dòng)態(tài)力學(xué)響應(yīng)過(guò)程;
根據(jù)所述壓縮度數(shù)據(jù)和所述IP成像板記錄的成像數(shù)據(jù),對(duì)所述待檢測(cè)金屬樣品的相變動(dòng)力學(xué)響應(yīng)相關(guān)特性進(jìn)行分析;
當(dāng)沖擊加載后所述待檢測(cè)金屬樣品的衍射圖譜圖上除了動(dòng)靜態(tài)衍射線(xiàn),相比于沖擊加載前未出現(xiàn)新的衍射譜線(xiàn),確定所述待檢測(cè)金屬樣品發(fā)生了動(dòng)態(tài)壓縮力學(xué)響應(yīng)過(guò)程;
根據(jù)所述壓縮度數(shù)據(jù)和所述IP成像板記錄的成像數(shù)據(jù),對(duì)所述待檢測(cè)金屬樣品的動(dòng)態(tài)壓縮特性進(jìn)行分析。
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G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線(xiàn)、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
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