[發明專利]一種基于硅光電倍增器的局部放電檢測裝置

在審

• 申請號: 202010155882.4
• 申請日: 2020-03-06
• 公開（公告）號: CN111308290A
• 公開（公告）日: 2020-06-19
• 發明（設計）人: 任明;王思云;夏昌杰;王彬;李信哲
• 申請（專利權）人: 西安交通大學
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G01R31/14;G01R31/16
• 代理公司: 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429
• 代理人: 覃婧嬋

1.一種基于硅光電倍增器的局部放電檢測裝置，包括：

硅光電倍增器，置于被測電力設備內部，用于接收被測電力設備內局部放電產生的微弱光信號并輸出電流信號；

信號處理單元，與所述硅光電倍增器連接，用于對所述硅光電倍增器輸出的電流信號進行處理并輸出低頻脈沖信號；

信號采集單元，與所述信號處理單元連接，用于采集所述信號處理單元輸出的低頻脈沖信號；

直流供電單元，通過所述信號處理單元與硅光電倍增器連接，用于向所述硅光電倍增器提供工作電壓。

2.根據權利要求1所述的裝置，其中，優選的，所述信號處理單元包括：

電流-電壓轉換電路，用于將所述硅光電倍增器輸出的電流信號轉換為第一電壓信號；

信號放大電路，用于接收所述第一電壓信號并放大，生成第二電壓信號；

檢波電路，用于對所述第二電壓信號進行檢波，獲得低頻脈沖信號。

3.根據權利要求2所述的裝置，其中，所述電流-電壓轉換電路包括第一反相放大器和第一反饋電阻，所述第一反相放大器的反相輸入端連接所述硅光電倍增器，且同時通過所述第一反饋電阻與輸出端連接形成負反饋電路，所述第一反相放大器的同相輸入端接地。

4.根據權利要求3所述的裝置，其中，所述信號放大電路包括第二反相放大器、第二反饋電阻、接地電阻和第一負載電阻，所述第二反相放大器的反相輸入端連接至所述電流-電壓轉換電路的輸出端，同時，所述第二反相放大器的反相輸入端通過所述第二反饋電阻與輸出端連接形成負反饋電路，所述第二反相放大器的同相輸入端通過接地電阻接地，所述第二反相放大器的輸出端連接第一負載電阻。

5.根據權利要求4所述的裝置，其中，所述檢波電路包括檢波二極管、高頻濾波電容和第二負載電阻，所述檢波二極管的正極通過第一負載電阻與所述第二反相放大器的輸出端連接，負極分別與所述高頻濾波電容和第二負載電阻連接，所述高頻濾波電容和第二負載電阻并聯構成低通濾波器。

6.根據權利要求1所述的裝置，其中，所述信號采集單元包括采集卡。

7.根據權利要求1所述的裝置，其中，所述裝置還包括顯示單元，用于顯示被測電力設備內局部放電檢測結果。

8.一種根據權利要求1所述的裝置，其中，所述裝置還包括法蘭，所述法蘭置于被測電力設備開口處，用于將所述硅光電倍增器密封于被測電力設備中。

9.一種基于硅光電倍增器的局部放電檢測方法，包括如下步驟：

S100：當被測電力設備內發生局部放電時，接收局部放電產生的微弱光信號并輸出電流信號；

S200：對所述電流信號進行電流-電壓轉換，輸出第一電壓信號；

S300：對所述第一電壓信號進行放大，生成第二電壓信號；

S400：對所述第二電壓信號進行檢波，獲得低頻脈沖信號；

S500：采集所述低頻脈沖信號，實現放電檢測。