[發(fā)明專利]一種光源模式測量儀

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010155748.4
• 申請日: 2020-03-09
• 公開（公告）號: CN111337126B
• 公開（公告）日: 2023-01-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鮑文霞;阮于華;尹正茂;王年;唐俊
• 申請（專利權(quán)）人: 安徽大學(xué)
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42
• 代理公司: 北京科迪生專利代理有限責(zé)任公司 11251
• 代理人: 楊學(xué)明;顧煒

1.一種光源模式測量儀，其特征在于：包括光源(1)或者光源適配器(601)，用于反射各發(fā)光模式光線的柱面鏡(2)，光電探測器(PD)(3)；光源(1)發(fā)出的某一適當(dāng)角度的光線，對應(yīng)于某種發(fā)光的橫模模式，經(jīng)過柱面鏡(2)反射后，被匯聚反射進光電探測器(PD)(3)，沿著柱面鏡(2)軸線方向移動光電探測器(PD)(3)，即可依次記錄光電探測器(PD)(3)的光電信號值，便可依次得到光源不同角度的光強模式分布；其中，光源(1)位于柱面反射鏡軸線上，正對軸線方向發(fā)光，不同模式的光線經(jīng)過柱面鏡(2)被反射匯聚于柱面鏡的軸線上，光電探測器(PD)(3)沿軸線移動依次接收不同模式光線，用于檢測光源模式或光輻出特性。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光源模式測量儀，其特征在于：在光源發(fā)光模式豐富的情況下，選擇LED光源時，為消除多徑效應(yīng)的影響，光線經(jīng)過2次反射后與經(jīng)過1次反射后光線同時被光電探測器(PD)(3)檢測而造成的測試結(jié)果錯誤，將柱面鏡(2)替換為可以隨光電探測器移動的小長度尺寸的環(huán)形模式選擇鏡(21)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光源模式測量儀，其特征在于：在光源(1)模式不是特別豐富且光源光功率較強的情況下，選擇LD光源、光纖端面輸出光源時，為了增強光電探測器(PD)(3)的適應(yīng)能力和器件的通用互換性，將光電探測器(PD)(3)的感光面反向而采取背向放置，并增加全反射鏡(4)，將由環(huán)形模式選擇鏡(21)反射選擇的不同模式的光線從背離光源的方向反向入射至光電探測器(PD)(3)的感光面，以避免光源的強光小角度直射光電探測器(PD)(3)造成光電探測器(PD)(3)容易達到光功率檢測飽和上限，同時減小0級模式光線(即光源(1)不經(jīng)環(huán)形模式選擇鏡2反射而直接直射進入光電探測器(PD)(3)的光線)對其他模式光線的測試準(zhǔn)確度影響，或者，在增加全反射鏡(4)的同時，將光電探測器(PD)(3)直接改用雙面光電探測器(PD)可以同時用背面檢測經(jīng)環(huán)形模式選擇鏡(21)反射的各種模式的光線和用光電探測器(PD)正面檢測光源(1)直射至光電探測器(PD)的0級模式光線光功率。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光源模式測量儀，其特征在于：在光源(1)出射角比較小即模式不是非常豐富的情況下，為了減少光路長度即實際表現(xiàn)為減少模式測量儀的長度尺寸，同時增加測試靈敏度，可以增加擴束凹透鏡(5)用以增加各模式的發(fā)散角度。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光源模式測量儀，其特征在于：光源(1)與光源適配器(601)適配，該光源適配器(601)可進行更換適用于FC、SC、ST、LC多種常見的跳線頭類型，也可直接使用裸纖插芯或LD、LED光源。