[發明專利]測試方法以及測試系統

在審

• 申請號: 202010155221.1
• 申請日: 2020-03-06
• 公開（公告）號: CN111666182A
• 公開（公告）日: 2020-09-15
• 發明（設計）人: 菲利普·迪哥曼
• 申請（專利權）人: 羅德施瓦茲兩合股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 王蓉

本發明提供了對復雜的被測試設備的改進測試，特別是對被測試設備的信號的并行分析。可以獲取被測試設備的多個信號，并且可以確定所獲取的信號的特征參數。可以存儲多個信號的所確定的特征參數。具體地，特征參數可以以數組、表格或電子數據表的形式存儲。

技術領域

本發明涉及用于測試被測試設備的方法。本發明還涉及用于測試被測試設備的測試系統。具體地，本發明涉及測試復雜的被測試設備。

背景技術

盡管在原則上可應用于任何電子設備，但是在下文中將結合測試現場可編程門陣列(FPGA)來描述本發明及其潛在問題。

必須為許多現代集成電路(如FPGA和專用集成電路(ASIC))提供許多不同的電壓。根據應用，必須向這種集成電路提供二十個甚至更多電壓。為了這些電路的正確操作，必須以明確定義的序列提供各個電壓，該明確定義的序列被稱為術語“上電序列”。此外，除了適當的電壓電平和施加各個電壓的正確序列之外，在提供各個電壓時還必須保證諸如轉換速率、單調性等之類的要求。

為了測試需要具有明確定義的關系的多個電壓的這種復雜設備的操作，需要一起測量、記錄和分析所有這些電壓。然而，由于電壓信號數量很多，各個信號的正確分析，特別是各個信號之間的關系的正確分析是一項有挑戰性的任務。例如，當在示波器等的顯示器上顯示各個信號的所有波形時，用戶將很難識別各個信號波形的屬性且將很難確定信號波形是否滿足希望的要求。

在這種背景下，本發明要解決的問題是提供對復雜的被測試設備的改進且通用的測試。具體地，本發明旨在提供通過并行分析大量信號對復雜設備的測試。

發明內容

本發明通過具有獨立權利要求的特征的測試方法和測試系統來解決這個問題。另外的有利的實施例是從屬權利要求的主題。

根據第一方面，提供用于測試被測試設備的測試方法。該測試方法包括：獲取被測試設備的至少兩個信號的序列；確定所獲取的序列中的每個信號的特征參數；以及將所確定的特征參數存儲在測量存儲器中。

根據另一方面，提供用于測試被測試設備的測試系統。該測試系統包括處理器和測量存儲器。該處理器被配置為：獲取被測試設備的至少兩個信號的序列；以及確定所獲取的至少兩個信號中的每個信號的特征參數。該測量存儲器被配置為存儲所確定的特征參數。

本發明基于以下事實：復雜設備的測試可能需要對大量信號序列的并行分析。例如，必須考慮各個信號之間的關系。出于該目的，可以考慮多個信號序列的特征屬性，并且在測試復雜的被測試設備的多個序列時，必須確保多個信號序列中的特征參數的正確定時。然而，傳統測試設備所提供的大量信號波形的視覺呈現難以可靠地識別各個信號波形的正確屬性和信號改變的定時。

因此，本發明考慮這個發現，并且旨在提供通過并行分析大量信號對復雜的被測試設備的改進測試。出于該目的，本發明適用于獲取包括來自被測試設備的多個信號的序列，并關于這些信號，自動確定該序列中的特征參數。此外，該序列中的所確定的特征參數被存儲以用于進一步分析。具體地，該序列的所存儲的特征參數可以由測量存儲器以某種形式提供，該形式可以容易地用于將特征參數與復雜的被測試設備的期望要求進行比較。以這種方式，簡化了復雜的被測試設備的測試，并且提高了測試結果的可靠性。

可以通過用于測量被測試設備的電信號的探針來測量信號。探針可以是任何種類的適當探針。例如，探針可以包括用于測量特定位置處的電壓的測量尖端，例如集成電路的引腳。然而，探針也可以包括任何種類的適當的傳感器，例如用于測量電流的電流傳感器。具體地，可以針對每個待測量信號提供單獨的探針。如上所述，諸如FPGA或ASIC之類的復雜設備可能需要大量信號(特別是電壓)，這些信號必須以明確定義的方式被施加。因此，可以使用單獨的探針來測量此大量信號中的每個信號。例如，可以通過單獨的測量纜線將由多個探針中的一個探針測量的每個信號提供給測量設備。