[發明專利]一種印刷電路板總成測試方法和裝置有效
| 申請號: | 202010154777.9 | 申請日: | 2020-03-08 |
| 公開(公告)號: | CN111367744B | 公開(公告)日: | 2022-07-08 |
| 發明(設計)人: | 郭毅 | 申請(專利權)人: | 蘇州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/22 | 分類號: | G06F11/22;G01N23/00 |
| 代理公司: | 北京連和連知識產權代理有限公司 11278 | 代理人: | 楊帆 |
| 地址: | 215100 江蘇省蘇州市吳*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 印刷 電路板 總成 測試 方法 裝置 | ||
本發明公開了一種印刷電路板總成測試方法和裝置,該方法包括:從使用者接收對自動X光檢測參數的數值修改并確認類型;響應于類型為接受告警的數值修改,根據預先確定的第一范圍確定接受告警的數值修改是否超范圍;響應于修改超范圍而發出要求使用者確認接受告警的數值修改是否正確并反饋可用的超范圍理由的第一超范圍告警;響應于數值修改正確和超范圍理由可用而允許接受告警的數值修改保存并在自動X光檢測參數中生效,根據該數值修改調整用于不接受告警的數值修改的第二范圍;基于經過修改的自動X光檢測參數執行自動X光檢測以測試印刷電路板總成是否符合生產要求。本發明能夠有效監控參數設置,減少操作失誤和消耗的檢查時間,提高測試效果。
技術領域
本發明涉及計算機技術領域,更具體地,特別是指一種印刷電路板總成測試方法和裝置。
背景技術
自動X光檢測為印刷電路板總成生產過程中的一項重要測試工站,主要測試元件的多件、少件、多錫、少錫、氣泡、偏移等不良現象。這些不良現象的判定是由機臺的具體參數來管控。不同印刷電路板會產生不同的測試程序,在測試程序的調試過程中,若參數設定錯誤,會導致測試的覆蓋率不夠,導致異常板卡的流出。
針對現有技術中自動X光檢測的參數設定易錯導致異常板卡流出的問題,目前尚無有效的解決方案。
發明內容
有鑒于此,本發明實施例的目的在于提出一種印刷電路板總成測試方法和裝置,能夠有效監控參數設置,減少操作失誤和消耗的檢查時間,提高測試效果。
基于上述目的,本發明實施例的第一方面提供了一種印刷電路板總成測試方法,包括執行以下步驟:
在調試過程中,從使用者接收對自動X光檢測參數的數值修改,并確認所述數值修改為接受告警的數值修改還是不接受告警的數值修改;
響應于所述數值修改為接受告警的數值修改,根據預先確定的自動X光檢測參數的第一范圍確定接受告警的數值修改是否超范圍;
響應于確定接受告警的數值修改超范圍,而發出要求使用者確認接受告警的數值修改是否正確并反饋可用的超范圍理由的第一超范圍告警;
響應于從使用者接收到接受告警的數值修改正確和超范圍理由可用,而允許接受告警的數值修改保存并在自動X光檢測參數中生效,并根據接受告警的所述數值修改來調整用于所述不接受告警的數值修改的預設第二范圍;
響應于從使用者接收到接受告警的數值修改錯誤或超范圍理由不存在或不可用,而阻止接受告警的數值修改;
在調試結束后,基于經過修改的自動X光檢測參數執行自動X光檢測以測試印刷電路板總成是否符合生產要求。
在一些實施方式中,第一范圍初始與第二范圍相同;根據接受告警的所述數值修改來調整用于所述不接受告警的數值修改的預設第二范圍還包括:還將第二范圍更新為兼容接受告警的數值修改;
方法還包括:
響應于所述數值修改為不接受告警的自動X光檢測參數的數值修改,根據第二范圍確定接受不告警的數值修改是否超范圍;
響應于確定不接受告警的數值修改超范圍而發出要求使用者確認不接受告警的數值修改是否正確并反饋可用的超范圍理由的第二超范圍告警;
響應于從使用者接收到不接受告警的數值修改正確和超范圍理由可用而允許不接受告警的數值修改保存并在自動X光檢測參數中生效,將第二范圍更新為兼容不接受告警的數值修改;
響應于從使用者接收到不接受告警的數值修改錯誤或超范圍理由不存在或不可用而阻止不接受告警的數值修改。
在一些實施方式中,方法還包括:
響應于確定接受告警的數值修改或不接受告警的數值修改超范圍而直接允許接受告警的數值修改或不接受告警的數值修改保存并在自動X光檢測參數中生效。
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