[發(fā)明專利]一種3D激光雷達(dá)及激光雷達(dá)實(shí)現(xiàn)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010151527.X | 申請(qǐng)日: | 2020-03-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111308497A | 公開(公告)日: | 2020-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 溫運(yùn)生 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市方騰網(wǎng)絡(luò)技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01S17/894 | 分類號(hào): | G01S17/894;G01S7/48;G01S7/481;G01S7/4863 |
| 代理公司: | 深圳市卓科知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44534 | 代理人: | 邵妍;張金玲 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市福田區(qū)*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 激光雷達(dá) 實(shí)現(xiàn) 方法 | ||
1.一種3D激光雷達(dá),其特征在于:包括激光雷達(dá),所述激光雷達(dá)包括殼體、光學(xué)系統(tǒng)、旋轉(zhuǎn)臺(tái)和控制系統(tǒng),光學(xué)系統(tǒng)、旋轉(zhuǎn)臺(tái)和控制模塊安裝于殼體內(nèi)部,光學(xué)系統(tǒng)安裝于旋轉(zhuǎn)臺(tái)上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的3D激光雷達(dá),其特征在于:光學(xué)系統(tǒng)包括APD陣列、透鏡陣列、第一透鏡、分光器、2D焦平面NxM陣列、第二透鏡、激光器、線準(zhǔn)直透鏡、環(huán)形器和第三透鏡;
環(huán)形器、線準(zhǔn)直透鏡和激光器之間平行相對(duì)設(shè)置,激光器產(chǎn)生的激光經(jīng)線準(zhǔn)直透鏡傳遞至環(huán)形器中;
分光器安裝于環(huán)形器上端,激光從環(huán)形器的2端口射出,并進(jìn)入分光器中,直至分別通過第二、第三透鏡進(jìn)入透鏡陣列和2D焦平面NxM陣列,激光經(jīng)透鏡陣列被APD陣列接收;
第一透鏡設(shè)置于環(huán)形器左側(cè),環(huán)形器射出的激光經(jīng)過第一透鏡設(shè)置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的3D激光雷達(dá),其特征在于:旋轉(zhuǎn)臺(tái)包括電機(jī)和支撐平臺(tái),電機(jī)的轉(zhuǎn)軸安裝于支撐平臺(tái)的底面上。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的3D激光雷達(dá),其特征在于:控制系統(tǒng)包括主控模塊、電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊、算法模塊、邏輯控制模塊和電源模塊;
主控模塊分別與電機(jī)驅(qū)動(dòng)模塊、算法模塊和邏輯控制模塊電連接,算法模塊用于目標(biāo)物體特性提取,邏輯模塊用于光信號(hào)產(chǎn)生及光反射信號(hào)的提取,電源模塊用于對(duì)本裝置供電。
5.一種激光雷達(dá)的實(shí)現(xiàn)方法,其特征在于:t時(shí)刻的目標(biāo)物體采樣數(shù)據(jù)的獲取;不同時(shí)刻的目標(biāo)物體采樣數(shù)據(jù)的獲取;數(shù)據(jù)的擬合;360°采樣數(shù)據(jù)的獲取。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的激光雷達(dá)的實(shí)現(xiàn)方法,其特征在于:t時(shí)刻的目標(biāo)物體采樣數(shù)據(jù)的獲取:
紅外光激光器輸出非可見光,通過線準(zhǔn)直器后輸出匯聚的、垂直水平面的線激光(后面簡(jiǎn)稱垂線激光),該垂線激光,從環(huán)形器的3端口注入,從環(huán)形器的1端口輸出,再經(jīng)過第一透鏡匯聚為準(zhǔn)直光投射到目標(biāo)物體上;
目標(biāo)物體反射回的垂線激光,先通過第一透鏡匯聚,從環(huán)形器的1端口注入,從環(huán)形器的2端口輸出,注入分光器;
假設(shè)分光器的功率分配比為x:y,經(jīng)分光器后輸出x和y兩個(gè)支路的光;
x路光向上,經(jīng)過第三透鏡匯聚后,到1xK的APD陣列,由APD陣列進(jìn)行檢測(cè),輸出A1t,k=xt(t,dkt,k),其中,t為采樣的時(shí)刻;K為APD的個(gè)數(shù),dkt為第APD中第k個(gè)APD在t時(shí)刻到目標(biāo)物體的距離,A1t,k為第k個(gè)APD在t時(shí)刻APD檢測(cè)目標(biāo)物體反射回來的光功率值;
另一路y光向右,經(jīng)過第二透鏡匯聚后,投放到2D焦平面上,由2D焦平面陣列進(jìn)行檢測(cè),設(shè)2D焦平面為NxM點(diǎn)陣,輸出A2=y(tǒng)t[n,m]數(shù)據(jù),其中:
t:為采樣的時(shí)刻;
n:為2D焦平面上水平方向第n個(gè)像素點(diǎn),其中1≤n≤N(N為2D焦平面上水平方像素點(diǎn)的總數(shù));M為2D焦平面垂直像素的點(diǎn)數(shù);
m:為2D焦平面上垂直方向上第m個(gè)像素點(diǎn),其中1≤n≤M(M為2D焦平面上垂直方向像素點(diǎn)的總數(shù))。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的激光雷達(dá)的實(shí)現(xiàn)方法,其特征在于:不同時(shí)刻的目標(biāo)物體采樣數(shù)據(jù)的獲取:
3D激光雷達(dá)的光學(xué)系統(tǒng),放在一個(gè)旋轉(zhuǎn)臺(tái)上,該旋轉(zhuǎn)臺(tái)由精密的步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng),可在水平方向上360°轉(zhuǎn)動(dòng);
假設(shè)電機(jī)步進(jìn)一步對(duì)應(yīng)的角度為θ°;旋轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)一圈對(duì)應(yīng)的掃描點(diǎn)數(shù)為:J=360/θ;
旋轉(zhuǎn)臺(tái)每步進(jìn)一次,目標(biāo)物體的采樣數(shù)據(jù)有:
APD的采樣輸出為:A1t,k=xt(t,dkt,k)
2D焦平面采樣輸出為:A2=y(tǒng)t[n,m]。
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G01S 無線電定向;無線電導(dǎo)航;采用無線電波測(cè)距或測(cè)速;采用無線電波的反射或再輻射的定位或存在檢測(cè);采用其他波的類似裝置
G01S17-00 應(yīng)用除無線電波外的電磁波的反射或再輻射系統(tǒng),例如,激光雷達(dá)系統(tǒng)
G01S17-02 .應(yīng)用除無線電波外的電磁波反射的系統(tǒng)
G01S17-66 .應(yīng)用除無線電波外的電磁波的跟蹤系統(tǒng)
G01S17-74 .應(yīng)用除無線電波外的電磁波的再輻射系統(tǒng),例如IFF,即敵我識(shí)別
G01S17-87 .應(yīng)用除無線電波外電磁波的系統(tǒng)的組合
G01S17-88 .專門適用于特定應(yīng)用的激光雷達(dá)系統(tǒng)
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