[發(fā)明專利]探針、檢查夾具及檢查組件

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010150221.2
• 申請日: 2020-03-06
• 公開（公告）號: CN111856090A
• 公開（公告）日: 2020-10-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 笹野直哉;寺西宏真;酒井貴浩
• 申請（專利權(quán)）人: 歐姆龍株式會社
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R1/04
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105
• 代理人: 張勁松

本發(fā)明提供一種探針、檢查夾具及檢查組件，探針接觸可靠性高，檢查夾具具備探針，檢查組件具備檢查夾具。探針具備：彈性部，其可沿著第一方向彈性變形；第一接觸部，其設(shè)置于彈性部的第一方向的一端；第二接觸部，其設(shè)置于彈性部的第一方向的另一端。彈性部具有多個(gè)橫向帶部及至少一個(gè)彎曲帶部。第一接觸部及第二接觸部各自相對于穿過彈性部的第二方向的中心且沿著第一方向延伸的第一中心線配置于同一側(cè)。從第二方向觀察，至少第一接觸部的側(cè)面具有相對于穿過第三方向的中心且沿著第一方向延伸的第二中心線不對稱的形狀。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種探針、檢查夾具及檢查組件。

背景技術(shù)

通常，在照相機(jī)或液晶面板等電子部件模塊中，通常，在其制造工序中，進(jìn)行導(dǎo)通檢查及動作特性檢查等。這些檢查通過使用探針將用于與設(shè)置于電子部件模塊的主體基板連接的端子和檢查裝置的端子連接來進(jìn)行。

作為這樣的探針，專利文獻(xiàn)1中記載了一種探針。該探針具備能夠分別與電子部件的電極端子及被連接電子部件的電極端子接觸的一對觸頭和介于一對觸頭之間并連接一對觸頭的曲折部。

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：日本特開2002－134202號公報(bào)

發(fā)明所要解決的問題

在所述探針中，各觸頭構(gòu)成為與電極端子在一個(gè)點(diǎn)接觸，因此，例如，在各觸頭的前端附著有非導(dǎo)體的異物的情況下，因該異物而在所述探針與電極端子之間發(fā)生導(dǎo)通不良，有時(shí)接觸可靠性降低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于，提供一種接觸可靠性高的探針、具備該探針的檢查夾具及具備該檢查夾具的檢查組件。

用于解決問題的技術(shù)方案

本發(fā)明的一例的探針具備：彈性部，其可沿第一方向彈性變形；第一接觸部，其設(shè)置于所述彈性部的所述第一方向的一端；第二接觸部，其設(shè)置于所述彈性部的所述第一方向的另一端，所述彈性部具有：沿與所述第一方向交叉的第二方向延伸并且在所述第一方向隔開間隔配置的多個(gè)橫向帶部、與相鄰的所述橫向帶部連接的至少一個(gè)彎曲帶部，所述第一接觸部及所述第二接觸部各自相對于穿過所述彈性部的所述第二方向的中心且沿著所述第一方向延伸的第一中心線配置于同一側(cè)，并具有在與所述第一方向及所述第二方向交叉的第三方向相對的一對板面和與所述一對板面交叉的側(cè)面，從所述第二方向觀察，至少所述第一接觸部的所述側(cè)面具有相對于穿過所述第三方向的中心且沿著所述第一方向延伸的第二中心線不對稱的形狀。

另外，本發(fā)明的一例的檢查夾具具備：所述探針；殼體，其內(nèi)部收納有所述探針。

另外，本發(fā)明的一例的檢查組件具備至少一個(gè)所述檢查夾具。

發(fā)明效果

根據(jù)所述探針，第一接觸部及第二接觸部各自相對于穿過彈性部的第二方向的中心且沿著第一方向延伸的第一中心線配置于同一側(cè)。另外，從第二方向觀察，至少第一接觸部的側(cè)面具有相對于穿過第三方向的中心且沿著第一方向延伸的第二中心線不對稱的形狀。通過這種結(jié)構(gòu)，例如，若使檢查對象物或檢查裝置的連接端子在與第一接觸部接觸的狀態(tài)下，沿著第一方向朝著第二接觸部移動，則第一接觸部在與檢查對象物或檢查裝置的連接端子接觸的狀態(tài)下，在包括第一方向及第二方向的第一平面上相對于第二接觸部旋轉(zhuǎn)，同時(shí)在包括第一方向及第三方向的與第一平面交叉的第二平面上相對于第二接觸部旋轉(zhuǎn)。即，能夠?qū)z查對象物或檢查裝置的連接端子同時(shí)進(jìn)行兩個(gè)不同方向的擦拭動作。其結(jié)果，例如，即使第一接觸部的與連接端子接觸的部分附著有非導(dǎo)體的異物，也能夠容易地除去該異物，因此，能夠?qū)崿F(xiàn)接觸可靠性高的探針。

根據(jù)所述檢查夾具，利用所述探針能夠?qū)崿F(xiàn)接觸可靠性高的檢查夾具。

根據(jù)所述檢查組件，利用所述檢查夾具能夠?qū)崿F(xiàn)接觸可靠性高的檢查組件。

附圖說明