[發明專利]一種高精度頻譜校正方法有效
| 申請號： | 202010150163.3 | 申請日： | 2020-03-06 |
| 公開（公告）號： | CN111257815B | 公開（公告）日： | 2022-04-05 |
| 發明（設計）人： | 李波;羅永睦;張林山;周年榮;曹敏;王浩;楊超;付志紅;賴強;朱全聰;利佳;鄒京希 | 申請（專利權）人： | 云南電網有限責任公司電力科學研究院 |
| 主分類號： | G01R35/00 | 分類號： | G01R35/00;G01R23/16 |
| 代理公司： | 北京弘權知識產權代理有限公司 11363 | 代理人： | 逯長明;許偉群 |
| 地址： | 650217 云南省昆*** | 國省代碼： | 云南;53 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 高精度 頻譜 校正 方法 | ||
1.一種高精度頻譜校正方法，其特征在于，包括：
采集短時離散采樣信號；
對所述短時離散采樣信號加窗并進行DFT計算，得到變換后頻譜函數；
通過局部峰值搜索所述變換后頻譜函數，得到峰值；
選取峰值所在譜線及相鄰的兩條譜線作為目標譜線，對所述目標譜線對應的實部和虛部進行拆分，生成實部拆分結果和虛部拆分結果；
對所述實部拆分結果進行三點插值計算，得到實部計算結果；
對所述虛部拆分結果進行三點插值計算，得到虛部計算結果；
對所述實部計算結果和所述虛部計算結果進行數學平均計算，得到高精度頻譜校正結果；
所述數學平均計算為對所述實部計算結果和所述虛部計算結果的乘積取平方根。
2.根據權利要求1所述的高精度頻譜校正方法，其特征在于，對所述短時離散采樣信號加窗并進行DFT計算，得到變換后頻譜函數，包括：
利用窗函數對所述短時離散采樣信號進行加窗處理，得到加窗后頻譜函數；
對所述加窗后頻譜函數進行DFT計算，得到變換后頻譜函數。
3.根據權利要求2所述的高精度頻譜校正方法，其特征在于，所述窗函數為H項余弦窗函數，表示為：
式中，N為采樣點數，ah為窗函數系數；H為窗函數的階數。
4.根據權利要求1所述的高精度頻譜校正方法，其特征在于，對所述實部計算結果和所述虛部計算結果進行數學平均計算，得到高精度頻譜校正結果，包括：
對所述實部計算結果進行歸一化處理，得到實部歸一化結果；
對所述虛部計算結果進行歸一化處理，得到實部歸一化結果；
對所述實部歸一化結果和所述實部歸一化結果進行數學平均計算，得到高精度頻譜校正結果。
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