[發明專利]一種水下全密封裝置的密封檢測系統及檢測方法

在審

• 申請號: 202010149485.6
• 申請日: 2020-03-06
• 公開（公告）號: CN111189590A
• 公開（公告）日: 2020-05-22
• 發明（設計）人: 張澤元;鄧超;徐偉;解嫻
• 申請（專利權）人: 長沙金信諾防務技術有限公司
• 主分類號: G01M3/06
• 分類號: G01M3/06
• 代理公司: 長沙星耀專利事務所(普通合伙) 43205
• 代理人: 李西寶

一種水下全密封裝置的密封檢測系統及檢測方法，密封檢測系統具有壓力艙（1），與所述壓力艙（1）連接的觀察口（2）、過線機構（3）、排水閥（4）、泄壓閥（17）、供氣系統和供水系統；檢測過程包括以下步驟：將被檢水下全密封裝置（18）放入壓力艙（1）中；將過線機構（3）封閉，啟動供氣系統向壓力艙（1）內充入氣體；當壓力艙（1）內的氣體達到設定的壓力后，保壓到設定時間后，關閉供氣加壓裝置（12）；啟動供水系統將水注入壓力艙（1），置換出壓力艙（1）內的壓縮氣體；打開泄壓閥（17），使壓力艙（1）泄壓；觀察壓力艙（1）內的水面是否出現連續性氣泡；當水面出現連續性氣泡，則密封性能不符合要求；沒有氣泡溢出時密封性能符合要求。

技術領域

本發明涉及水下全密封裝置的密封檢測技術領域，尤其涉及一種水下全密封裝置的密封檢測系統及檢測方法。

背景技術

水下全密封裝置，工作在水下，要求密封可靠。多數水下全密封裝置接頭采用硫化工藝防水。在生產過程中，水下全密封裝置需進行水密檢測。在使用過程中因受到意外損傷，使用環境的影響，老化等因素常導致密封失效，密封失效時常導致水進入電路系統，損壞電路系統。目前多通過肉眼來評判其滲漏點，當發現密封失效后，水已進入電路系統，損失已經產生。

在使用過程中，出現密封失效后，方能通過肉眼來評判其滲漏點，多數情況下，即使密封失效后，也很難評判其滲漏點。目前針對水下全密封裝置的泄漏檢測方法，主要采取將水下全密封裝置置入水壓釜中進行測試，來確定水下全密封裝置是否發生泄漏。當密封失效后，多導致水進入水下全密封裝置的電路系統，而致損失。如何驗證水下全密封裝置的密封可靠，目前尚未見有好的方法和資料介紹。

發明內容

為了克服現有技術的不足，本發明所要解決的技術問題是提供一種能夠避免水進入水下全密封裝置的電路系統，在檢測時不損壞電路系統的水下全密封裝置的密封檢測系統及檢測方法。

為了解決上述技術問題，一方面，本發明提供一種水下全密封裝置的密封檢測系統，具有壓力艙，與所述壓力艙連接的觀察口，與所述壓力艙連接的過線機構，與所述壓力艙連通的排水閥，與所述壓力艙連通的泄壓閥，與所述壓力艙連通的供氣系統和供水系統。

作為本發明的進一步改進方案，本發明提供的水下全密封裝置的密封檢測系統，所述過線機構包括與壓力艙連接的過線套，所述過線套具有凸形通孔，過線機構還包括位于凸形通孔臺階底部的第一墊片，位于第一墊片遠離壓力艙腔室側的過線密封圈或堵頭密封圈，位于過線密封圈或堵頭密封圈遠離壓力艙腔室側的第二墊片，位于第二墊片遠離壓力艙腔室側、與所述凸形通孔螺紋連接的鎖緊螺母。

作為本發明的進一步改進方案，本發明提供的水下全密封裝置的密封檢測系統，所述過線密封圈為單開或對開結構；所述第一墊片、第二墊片為對開結構。

作為本發明的進一步改進方案，本發明提供的水下全密封裝置的密封檢測系統，所述供氣系統包括供氣加壓裝置，與所述供氣加壓裝置出口連通的單向閥，與所述單向閥出口連通的溢流減壓閥，設置在溢流減壓閥與壓力艙之間管路上的第一閥門；所述供水系統包括供水加壓裝置，與所述供水加壓裝置出口連通的溢流調壓閥，設置在供水加壓裝置與壓力艙之間管路上的第二閥門。

為了解決上述技術問題，另一方面，本發明提供一種水下全密封裝置的密封檢測方法，在水下全密封裝置的密封檢測系統內進行檢測，所述水下全密封裝置的密封檢測系統具有壓力艙，與所述壓力艙連接的觀察口，與所述壓力艙連接的過線機構，與所述壓力艙連通的排水閥，與所述壓力艙連通的泄壓閥，與所述壓力艙連通的供氣系統和供水系統；所述供氣系統包括供氣加壓裝置，與所述供氣加壓裝置出口連通的單向閥，與所述單向閥出口連通的溢流減壓閥，設置在溢流減壓閥與壓力艙之間管路上的第一閥門；所述供水系統包括供水加壓裝置，與所述供水加壓裝置出口連通的溢流調壓閥，設置在供水加壓裝置與壓力艙之間管路上的第二閥門；檢測過程包括以下步驟：

1）將被檢水下全密封裝置放入壓力艙中；