[發(fā)明專利]矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的直通-短路-短路校準(zhǔn)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010148419.7 | 申請(qǐng)日: | 2020-03-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111257814A | 公開(公告)日: | 2020-06-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吳昌英;劉育杰;高峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西北工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R35/00 | 分類號(hào): | G01R35/00 |
| 代理公司: | 西北工業(yè)大學(xué)專利中心 61204 | 代理人: | 云燕春 |
| 地址: | 710072 *** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 矢量 網(wǎng)絡(luò)分析 直通 短路 校準(zhǔn) 方法 | ||
1.一種矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的直通-短路-短路校準(zhǔn)方法,其特征在于具體步驟如下:
步驟一:直通校準(zhǔn);
將被測(cè)試裝置與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀兩端連接的部件作為矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀兩側(cè)的夾具,從被測(cè)試裝置的中心位置到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀左側(cè)夾具之間任選一個(gè)位置作為左側(cè)參考面;相應(yīng)的在被測(cè)試裝置的中心位置右側(cè)對(duì)應(yīng)位置再取一個(gè)參考面,作為右側(cè)參考面;
設(shè)左參考面與右參考面之間的距離設(shè)為l0,進(jìn)行直通校準(zhǔn),由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量得到直通校準(zhǔn)的測(cè)量值Tm;
步驟二:第一次短路校準(zhǔn);
選取厚度為d1的第一短路片作為短路校準(zhǔn)件,放入矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀兩端夾具中,左側(cè)參考面到所述第一短路片左側(cè)的距離為l1,右側(cè)參考面到所述第一短路片右側(cè)的距離為l2,滿足l1+l2+d1=l0,進(jìn)行第一次短路校準(zhǔn),由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量得到到第一次短路校準(zhǔn)的測(cè)量值M1、M2;
步驟三:第二次短路校準(zhǔn);
選取厚度為d2的第二短路片作為短路校準(zhǔn)件,放在第一次短路校準(zhǔn)時(shí)和所述第一短路片相同位置;所述第一短路片和第二短路片的厚度差為波長(zhǎng),即保證|d1-d2|=其中,λ為介質(zhì)波長(zhǎng);
或者選用厚度為d1的第一短路片作為短路校準(zhǔn)件,調(diào)整所述第一短路片的位置,使得所述第一短路片在第一次短路校準(zhǔn)和第二次短路校準(zhǔn)的位置的距離差為波長(zhǎng);
選擇上述第二種方法采用與步驟二相同的所述第一短路片,所述第一短路片左側(cè)到左側(cè)參考面的距離為l3,所述第一短路片右側(cè)到右側(cè)參考面的距離為l4,且滿足進(jìn)行第二次短路校準(zhǔn),由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量得到第二次短路校準(zhǔn)的測(cè)量值M3、M4:
步驟四:完成校準(zhǔn);
由步驟一、二、三得到的測(cè)量值Tm、M1、M2、M3、M4,對(duì)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的8項(xiàng)誤差a、b、c、d、f、g、x22、y22分別進(jìn)行計(jì)算,完成校準(zhǔn),公式如下:
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