[發明專利]一種反光柱的檢測方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202010147775.7
• 申請日: 2020-03-05
• 公開（公告）號: CN111366896A
• 公開（公告）日: 2020-07-03
• 發明（設計）人: 王玥
• 申請（專利權）人: 三一機器人科技有限公司
• 主分類號: G01S5/16
• 分類號: G01S5/16;G01S17/50;G01S7/48;G06K9/62
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 何少巖

1.一種反光柱的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括：

獲取激光掃描設備發送的掃描數據；所述掃描數據包括各個掃描點到所述激光掃描設備之間的距離、各個掃描點的反光強度、各個掃描點到所述激光掃描設備的光束和所述激光掃描設備發射的水平光束之間的角度；

根據各個掃描點對應的反光強度和距離，對各個掃描點進行聚類，得到第一聚類；

根據各個第一聚類中掃描點的數量和/或掃描點的反光強度，從所述第一聚類中，篩選出對應的掃描點來自反光柱有效聚類；

根據每個有效聚類中的掃描點，計算每個有效聚類對應的反光柱的中心坐標。

2.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，在所述獲取激光掃描設備發送的掃描數據之前，所述檢測方法還包括：

獲取所述激光掃描設備在掃描距離范圍內的各個距離處，向所述反光柱發射激光產生的掃描數據；所述掃描數據包括每個距離對應的多個掃描點的反光強度；

針對每個距離，根據每個距離對應的多個掃描點的反光強度，確定每個距離對應的反光強度的上限值和下限值。

3.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述根據各個掃描點對應的反光強度和距離，對各個掃描點進行聚類，得到第一聚類，包括：

根據各個掃描點對應的反光強度，從掃描數據中，篩選出滿足反光強度條件的掃描點；

將篩選出的滿足反光強度條件的掃描點中，對應的距離差小于所述反光柱的半徑的任一兩個掃描點劃分至一個聚類，得到所述第一聚類。

4.根據權利要求3所述的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法還包括根據以下步驟確定滿足所述反光強度條件的掃描點：

針對任一掃描點，若所述掃描點對應的反光強度大于或等于第一預設強度，則將所述掃描點確定為滿足所述反光強度條件的掃描點；

其中，所述第一預設強度是由所述掃描點對應的反光強度的下限值確定的。

5.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述根據各個第一聚類中掃描點的數量和/或掃描點的反光強度，從所述第一聚類中，篩選出對應的掃描點來自反光柱有效聚類，包括：

將至少兩個第一聚類進行合并，得到第二聚類；

根據各個第二聚類中掃描點的數量和/或掃描點的反光強度，從所述第二聚類中，篩選出對應的掃描點來自反光柱有效聚類。

6.根據權利要求5所述的檢測方法，其特征在于，所述將至少兩個第一聚類進行合并，得到第二聚類，包括：

針對每個第一聚類，獲取所述第一聚類中編號為中間值的掃描點對應的距離和角度；

針對任一兩個第一聚類，將對應的距離差小于所述反光柱的半徑，和/或角度差小于預設角度的所述兩個第一聚類進行合并，得到第二聚類；

其中，所述預設角度是由所述兩個第一聚類中編號為中間值的兩個掃描點分別對應的距離和所述反光柱的半徑確定的。

7.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述根據各個第一聚類中掃描點的數量和/或掃描點的反光強度，從所述第一聚類中，篩選出對應的掃描點來自反光柱有效聚類，包括：

從所述第一聚類中，選取對應的反光強度的最大值大于或等于第二預設強度，和/或選取包含的掃描點的數量大于或等于預設點數的第一聚類，確定為所述有效聚類；

其中，所述第二預設強度是由反光強度的最大值的掃描點對應的反光強度的上限值確定的；所述預設點數是由所述激光掃描設備的角分辨率、所述反光柱的半徑和所述反光強度的最大值的掃描點對應的距離確定的。

8.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述根據每個有效聚類中的掃描點，計算每個有效聚類對應的反光柱的中心坐標，包括：

針對每個有效聚類，通過所述有效聚類中各個掃描點的位置坐標進行圓擬合，得到每個有效聚類對應的反光柱的中心坐標。