[發明專利]數據存儲媒體的損壞數據列的篩選方法

有效

• 申請號: 202010146533.6
• 申請日: 2020-03-05
• 公開（公告）號: CN113254257B
• 公開（公告）日: 2022-09-30
• 發明（設計）人: 黃圣元
• 申請（專利權）人: 慧榮科技股份有限公司
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 陳亮

1.一種損壞數據列的篩選方法，適用于一數據存儲媒體，所述數據存儲媒體耦接于一控制單元，且數據存儲媒體包括有多個物理塊，其特征在于，各所述物理塊包括多個數據列，而所述多個數據列被劃分為多個組塊，所述損壞數據列的篩選方法包括：

（a）所述控制單元計算各個組塊中多個損壞數據列的數量，并據以對所述多個組塊以損壞數據列數量的多寡排序，其中所述多個損壞數據列是選自于所述多個數據列；

（b）所述控制單元以多個損壞數據列群，依序對各個組塊中的所述多個損壞數據列標注或記錄，其中各個損壞數據列群標注或記錄各個組塊中一損壞數據列位置及一損壞數據列數量；

（c）所述控制單元計算各個組塊的一容量，并加總所述多個組塊的多個容量，以求得所述多個組塊的一總容量，并判斷所述總容量是否滿足一最低需求容量；

（d）當判斷為否時，判斷所述多個組塊中是否有至少一損壞數據列未被標注或記錄于所述多個損壞數據列群，其中所述至少一損壞數據列未包含于所述多個損壞數據列；

（e）當判斷為是時，所述控制單元將任二個相隔為K個數據列的損壞數據列之間的K個數據列皆當作損壞數據列并將損壞數據列記錄于同一個損壞數據列群，其中K為正整數；

（f）計算各個組塊中所述損壞數據列群的數量，并據以對這所述多個組塊依照所述損壞數據列群的數量多寡進行排序；

（g）所述控制單元以所述多個損壞數據列群來依序對各個組塊中的所述多個損壞數據列及任二個相隔為K個數據列之間的所述多個損壞數據列標注或記錄，其中各個損壞數據列群標注或記錄各個組塊中所述損壞數據列位置及所述損壞數據列數量；

（h）所述控制單元計算各個組塊的所述容量，并加總所述多個組塊的多個容量，以求得所述多個組塊的所述總容量，并判斷所述總容量是否滿足所述最低需求容量；以及

（i）當判斷為否時，調整K的數值并執行步驟e。