[發(fā)明專利]一種帶密鑰銷毀的密碼機(jī)及密鑰銷毀方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010145985.2 | 申請日: | 2020-03-05 |
| 公開(公告)號: | CN111327422A | 公開(公告)日: | 2020-06-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 于傳江;劉磊;王謹(jǐn)旗;郭家喜;滕靖國;鄭海森 | 申請(專利權(quán))人: | 中安云科科技發(fā)展(山東)有限公司 |
| 主分類號: | H04L9/08 | 分類號: | H04L9/08 |
| 代理公司: | 濟(jì)南譽豐專利代理事務(wù)所(普通合伙企業(yè)) 37240 | 代理人: | 李茜 |
| 地址: | 250000 山東省濟(jì)南市歷*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 密鑰 銷毀 密碼機(jī) 方法 | ||
1.一種帶密鑰銷毀的密碼機(jī),包括密碼機(jī)殼體和蓋板,所述密碼機(jī)殼體和所述蓋板活動連接,其特征在于,所述密碼機(jī)殼體內(nèi)設(shè)置有密碼卡,所述密碼卡被配置為低電平觸發(fā)密鑰銷毀,所述密碼機(jī)殼體上設(shè)置有第一控制開關(guān),所述密碼機(jī)殼體與所述蓋板封裝處設(shè)置有第二控制開關(guān),所述第一控制開關(guān)和所述第二控制開關(guān)通過連接線與所述密碼卡電連接,控制所述第一控制開關(guān)和/或所述第二控制開關(guān)控制所述密碼卡的通斷電。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶密鑰銷毀的密碼機(jī),其特征在于,所述密碼卡設(shè)置有檢測管腳,所述檢測管腳分別與所述第一控制開關(guān)和所述第二控制開關(guān)電連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的帶密鑰銷毀的密碼機(jī),其特征在于,所述第一控制開關(guān)為主動控制開關(guān),所述第一控制開關(guān)為鑰匙開關(guān),所述鑰匙開關(guān)與所述檢測管腳電連接,所述鑰匙開關(guān)設(shè)置有控制鑰匙,通過所述控制鑰匙旋轉(zhuǎn)所述鑰匙開關(guān)控制所述密碼卡的通斷電。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的帶密鑰銷毀的密碼機(jī),其特征在于,所述第二控制開關(guān)為被動控制開關(guān),所述第二控制開關(guān)包括第一連接件和第二連接件,所述第一連接件固定設(shè)置在所述密碼機(jī)殼體上,所述第二連接件的一端與所述第一連接件的一端固定且電連接,所述第一連接件的另一端與所述檢測管腳電連接,所述第二連接件的第二端在所述密碼機(jī)殼體和蓋板密封封裝時與所述蓋板相接觸,所述密碼卡通電;當(dāng)所述蓋板打開時,所述密碼卡斷電。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的帶密鑰銷毀的密碼機(jī),其特征在于,所述密碼卡設(shè)置有主控芯片,所述主控芯片包括密鑰存儲區(qū),所述密鑰存儲區(qū)與所述檢測管腳之間配置中斷檢測進(jìn)程,所述中斷檢測進(jìn)程用于當(dāng)所述檢測管腳檢測到低電平信號時觸發(fā)對所述密鑰存儲區(qū)的密鑰進(jìn)行銷毀。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的帶密鑰銷毀的密碼機(jī),其特征在于,所述密碼卡上還設(shè)置有電源模塊,所述電源模塊與所述主控芯片電連接。
7.一種密鑰銷毀方法,其特征在于,采用權(quán)利要求1-6任一項所述的帶密鑰銷毀的密碼機(jī),所述方法包括:
密碼機(jī)內(nèi)部的密碼卡通過檢測管腳實時檢測電平信號;
當(dāng)需要進(jìn)行密鑰銷毀或所述密碼機(jī)被非法打開時,所述電平信號由高電平轉(zhuǎn)為低電平;
所述密碼卡內(nèi)部的主控芯片根據(jù)低電平信號觸發(fā)密鑰銷毀。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的密鑰銷毀方法,其特征在于,需要進(jìn)行密鑰銷毀時,通過控制鑰匙旋轉(zhuǎn)鑰匙開關(guān),對所述密碼卡進(jìn)行斷電。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的密鑰銷毀方法,其特征在于,當(dāng)密碼機(jī)殼體和蓋板被拆開時,確定為密碼機(jī)被非法打開,第二控制開關(guān)的第二連接件從壓合狀態(tài)彈開,所述密碼卡斷電。
10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的密鑰銷毀方法,其特征在于,所述密碼卡內(nèi)部的主控芯片根據(jù)低電平信號觸發(fā)密鑰銷毀,包括:所述主控芯片內(nèi)部配置的中斷檢測進(jìn)程檢測到檢測管腳處的信號為低電平信號時,調(diào)用寫FLASH函數(shù)將密鑰存儲區(qū)的數(shù)據(jù)全部寫為OxFF。
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