[發明專利]天線測試方法、設備及計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 202010144917.4
• 申請日: 2020-03-04
• 公開（公告）號: CN113359065B
• 公開（公告）日: 2022-08-30
• 發明（設計）人: 陳小平;熊德林;陳國丞;常建偉;林錚;陳智勇
• 申請（專利權）人: 佛山市云米電器科技有限公司;陳小平
• 主分類號: G01R31/66
• 分類號: G01R31/66
• 代理公司: 深圳市力道知識產權代理事務所(普通合伙) 44507
• 代理人: 賀小旺

1.一種天線測試方法，其特征在于，所述方法應用于天線測試設備，所述天線測試設備包括第一探針和第二探針，所述天線測試設備用于測試待測電路板，所述待測電路板包括多個天線電路和導線端口，各所述天線電路與所述導線端口連接，以使各所述天線電路并聯，每個所述天線電路包括待測天線，所述方法包括：

控制所述第一探針移動，以使所述第一探針與一個所述待測天線接觸；

控制所述第二探針移動，以使所述第二探針分別與其余的每個所述待測天線接觸，使得所述第一探針、第一探針接觸的所述待測天線、第二探針和第二探針接觸的所述待測天線四者形成天線測試回路；

在每次形成所述天線測試回路時，檢測所述天線測試回路是否為通路，得到每個所述待測天線的連接測試結果。

2.如權利要求1所述的天線測試方法，其特征在于，所述天線測試設備包括攝像頭，所述待測電路板放置于天線檢測平臺，所述天線檢測平臺位于所述攝像頭的拍攝范圍內；所述控制所述第一探針移動，以使所述第一探針與一個所述待測天線接觸，包括：

控制預置攝像頭對所述待測電路板進行俯拍，得到包含所述待測電路板的俯拍圖像；

根據所述俯拍圖像，確定每個所述待測天線在所述天線檢測平臺中的位置坐標；

獲取所述第一探針投影在所述天線檢測平臺上的投影點的第一預設位置坐標；

根據每個所述待測天線的位置坐標和所述第一預設位置坐標，確定目標待測天線；

根據所述第一預設位置坐標、所述目標待測天線的所述位置坐標和預設距離，控制所述第一探針移動，以使所述第一探針與所述目標待測天線接觸。

3.如權利要求2所述的天線測試方法，其特征在于，所述根據每個所述待測天線的位置坐標和所述第一預設位置坐標，確定目標待測天線，包括：

根據每個所述待測天線的位置坐標和所述第一預設位置坐標，確定每個所述待測天線與所述第一探針之間的水平距離；

將所述水平距離最短的所述待測天線作為目標待測天線。

4.如權利要求1所述的天線測試方法，其特征在于，所述天線測試設備包括攝像頭，所述待測電路板放置于天線檢測平臺，所述天線檢測平臺位于所述攝像頭的拍攝范圍內；所述控制所述第二探針移動，以使所述第二探針分別與其余的每個所述待測天線接觸，使得所述第一探針、第一探針接觸的所述待測天線、第二探針和第二探針接觸的所述待測天線四者形成天線測試回路，包括：

控制預置攝像頭對所述待測電路板進行俯拍，得到包含所述待測電路板的俯拍圖像；

根據所述俯拍圖像，確定其余每個所述待測天線在所述天線檢測平臺中的位置坐標；

獲取所述第二探針投影在所述天線檢測平臺上的投影點的第二預設位置坐標；

根據其余每個所述待測天線的位置坐標和所述第二預設位置坐標，確定所述第二探針的移動軌跡；

根據所述移動軌跡控制第二探針移動，以使所述第二探針分別與其余的每個所述待測天線接觸，使得所述第一探針、第一探針接觸的所述待測天線、第二探針和第二探針接觸的所述待測天線四者形成天線測試回路。

5.如權利要求1所述的天線測試方法，其特征在于，所述檢測所述天線測試回路是否為通路，包括：

檢測所述天線測試回路是否有電流；

若檢測到所述天線測試回路有電流，則確定所述天線測試回路為通路；

若檢測到所述天線測試回路無電流，則確定所述天線測試回路為斷路。

6.如權利要求1所述的天線測試方法，其特征在于，所述方法還包括：

在得到每個所述待測天線的連接測試結果后，根據每個所述待測天線的連接測試結果，確定連接異常的所述待測天線；

獲取連接異常的所述待測天線的天線編號，并顯示所述天線編號。