[發(fā)明專利]發(fā)光二極管及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010143181.9 | 申請日: | 2020-03-04 |
| 公開(公告)號: | CN111554782B | 公開(公告)日: | 2021-08-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王國斌;王建峰;徐科 | 申請(專利權(quán))人: | 江蘇第三代半導(dǎo)體研究院有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/06 | 分類號: | H01L33/06;H01L33/00;H01L33/12;H01L33/14;H01L33/32 |
| 代理公司: | 上海盈盛知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31294 | 代理人: | 孫佳胤 |
| 地址: | 215123 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 發(fā)光二極管 及其 制造 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種發(fā)光二極管,包括自支撐襯底層,以及所述自支撐襯底表面的n型半導(dǎo)體層、發(fā)光層、以及p型半導(dǎo)體層,所述發(fā)光層包括電子擴展層、超晶格有源區(qū)、和空穴增強層。上述結(jié)構(gòu)能夠提高在小電流密度下的出光效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體照明領(lǐng)域,尤其涉及一種發(fā)光二極管。
背景技術(shù)
GaN基的發(fā)光二極管(LED)因其發(fā)光層可以混合窄禁帶的InGaN材料 (對應(yīng)長波長光)和寬禁帶的AlGaN材料(對應(yīng)短波長),從而可實現(xiàn)全光譜的發(fā)光,被廣泛應(yīng)用于照明顯示及其相關(guān)應(yīng)用。附圖1所示是現(xiàn)有技術(shù)中一種芯片尺寸的GaN基LED外延結(jié)構(gòu)示意圖,一般用于100微米以上尺寸的芯片,主要由襯底、n型區(qū)、發(fā)光有源區(qū)和p型區(qū)組成。其中發(fā)光有源區(qū)用的是In (Al)GaN的多量子阱結(jié)構(gòu)(MQW),通過調(diào)制In(Al)組分,理論上可以實現(xiàn)整個可見光范圍內(nèi)的波長。具體的結(jié)構(gòu)包括:藍寶石等異質(zhì)襯底、非摻雜GaN 層、n型GaN層、前壘層(FB)、應(yīng)力釋放層(SRL)、影子量子阱(SMQW)、量子阱有源區(qū)(MQW-SZ)、電子阻擋層(EBL)和p型GaN層等。
一般在藍寶石/硅/碳化硅等異質(zhì)襯底上生長非摻雜的GaN體材料,目的是減少由異質(zhì)襯底帶來的位錯,為后面生長器件結(jié)構(gòu)提供好的晶體質(zhì)量。盡管如此,由于能生長的體材料厚度有限,其位錯密度仍然達到108cm-2量級以上。而這樣的位錯密度在傳統(tǒng)芯片尺寸下,還可以勉強滿足出光效率的要求,原因是GaN系材料對位錯不像其他半導(dǎo)體材料那么敏感。但是,在100微米以下的Micro-LED芯片尺寸,位錯密度會急劇上升1~2個數(shù)量級,此時的缺陷密度引起的Shock-Read-Hall(SRH)非輻射復(fù)合將不容忽視。
由于異質(zhì)襯底的原因,會存在很大的應(yīng)力,現(xiàn)有外延結(jié)構(gòu)在生長以多量子阱(MQWs)為發(fā)光有源區(qū)之前,需要生長一些外延層來消除影響,像應(yīng)力釋放層(StrainRelease Layer)和影子量子阱(Shellow Well)等。而通常的前壘層(FB)是為了開V型坑來提高出光效率的,在100微米以下的Micro-LED 芯片尺寸,這種V型坑(也即缺陷)和其帶來的不均勻性將會被放大,此時缺陷密度引起的SRH復(fù)合將占主導(dǎo)作用。再者,當芯片縮小到Micro-LED尺寸時,電流密度變低,nGaN與MQW之間的那些外延層的作用將被減弱,量子阱中的電子、空穴波函數(shù)空間分離會加劇。電子相比空穴,不論是濃度還是遷移率,都要高出1~2個數(shù)量級。在上述極化場效應(yīng)影響下,多量子阱的有源區(qū)結(jié)構(gòu)中,電子被最后一個阱捕獲的概率上升。即發(fā)光復(fù)合只在最后1個阱內(nèi)發(fā)生,載流子的匹配變差,內(nèi)量子效率降低。
在p型區(qū)的電子阻擋層(EBL),除了阻擋從量子阱有源區(qū)溢出的電子外,更重要的作用是為了填補前面的V型坑,而當尺寸減小后,更多電子被最后一個阱捕獲,電子阻擋層的效果也被減弱。
綜上,微尺寸Micro-LED形成如下趨勢:峰值效率向大電流密度區(qū)域偏移、同時伴隨著出光效率的急劇下降。如何避免在小電流密度注入下,峰值效率向非工作區(qū)域偏移,同時避免出光效率急劇下降,是現(xiàn)有技術(shù)面臨的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是,提供一種發(fā)光二極管,能夠提高在小電流密度下的出光效率。
為了解決上述問題,本發(fā)明提供了一種發(fā)光二極管,包括自支撐襯底層,以及所述自支撐襯底表面的n型半導(dǎo)體層、發(fā)光層、以及p型半導(dǎo)體層,所述發(fā)光層包括電子擴展層、超晶格有源區(qū)、和空穴增強層。
可選的,所述超晶格有源區(qū)包括多層交替生長的發(fā)光阱層和發(fā)光壘層。包括不少于30層彼此交替的發(fā)光阱層和發(fā)光壘層,發(fā)光阱層的單層厚度區(qū)間為 2~3nm,發(fā)光壘層的單層厚度區(qū)間為4~8nm,以形成小電流密度下的電子空穴的隧穿效應(yīng)。
可選的,電子擴展層的厚度大于100nm,空穴增強層厚度小于30nm。
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