[發明專利]一種在役盆式絕緣子的X射線數字成像檢測方法有效
| 申請號: | 202010141639.7 | 申請日: | 2020-03-03 |
| 公開(公告)號: | CN111157558B | 公開(公告)日: | 2022-08-09 |
| 發明(設計)人: | 楊為;張國寶;趙恒陽;朱太云;朱勝龍;宋東波;陳忠;蔡夢怡;曾德華;周維超 | 申請(專利權)人: | 國網安徽省電力有限公司電力科學研究院;四川賽康智能科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/18 | 分類號: | G01N23/18 |
| 代理公司: | 成都中絡智合知識產權代理有限公司 51300 | 代理人: | 喻依豐 |
| 地址: | 230000 安徽省*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 役盆式 絕緣子 射線 數字 成像 檢測 方法 | ||
1.一種在役盆式絕緣子的X射線數字成像檢測方法,用于檢測單相單箱在役盆式絕緣子(2)存在的缺陷,其特征在于:采用高頻或者直流X射線源和數字平板探測器(4)進行檢測,具體包括以下檢測步驟:
步驟S01 垂直透照,將X射線源的焦點d沿待檢測盆式絕緣子(2)軸線垂直的方向對盆式絕緣子(2)進行垂直透照,所述X射線源的焦點d發出的中心射線與完整覆蓋所述盆式絕緣子(2)的盆子的數字平板探測器(4)垂直并交于數字平板探測器(4)的中心點O;
步驟S02 傾斜透照,將步驟S01中的X射線源的焦點d對盆式絕緣子(2)進行傾斜透照,保持X射線源的焦點d發出的中心射線始終垂直交于數字平板探測器(4)的中心點O,X射線源的焦點d發出的中心射線與GIS殼體(3)的夾角為β,所述盆式絕緣子(2)的曲面與GIS殼體(3)的夾角為a,所述a與β之和為90°;
步驟S03 多角度成像,按照步驟S02中的傾斜透照步驟,所述X射線源的焦點d和數字平板探測器(4)的相對安裝位置不變并同時以所述盆式絕緣子(2)的軸線旋轉N次,使得1-N次成像范圍覆蓋整個盆式絕緣子(2);
步驟S04 分析步驟S03中獲得的1-N次成像數據,判斷缺陷是否存在,并與現有缺陷數據特征進行對比獲得盆式絕緣子(2)的缺陷構成;所述步驟S02傾斜透照具體包括:
步驟S021 數字平板探測器(4)安裝位置確定的步驟;將數字平板探測器(4)的平面與GIS殼體(3)保持a夾角,數字平板探測器(4)的左側邊緣相對于法蘭(1)向盆式絕緣子(2)一側水平偏移距離為l3,所述l3的計算方式如下:
θ= -a
l3=
其中,θ為射線dA與GIS殼體的夾角;為X射線源焦點d到探測器的距離;n為探測器有效成像長度;a為盆式絕緣子曲面與GIS殼體的夾角;D為盆式絕緣子直徑尺寸;
步驟S022 X射線源的焦點d安裝位置確定的步驟,所述X射線源的焦點d始終與所述數字平板探測器(4)垂直且距離為,X射線源的焦點d相對于法蘭(1)水平偏移距離為l2,所述l2的計算方式如下:
l2=cosθ- l5 -
其中,l5為法蘭厚度;
所述步驟S03 多角度成像具體還包括確定成像次數N的步驟,具體計算方式如下:
其中,K:射線透照厚度比值,即最大裂紋檢出角,取1.1;
γ:盆式絕緣子有效透照范圍對應圓心角的半值;
ω:射線束邊界與盆式絕緣子中心的夾角;
η:有效射線束角度的半值。
2.根據權利要求1所述的一種在役盆式絕緣子的X射線數字成像檢測方法,其特征在于:所述垂直透照步驟中,X射線源的焦點d在水平方向上相對所述盆式絕緣子(2)固定連接的法蘭(1)偏移范圍為0-150mm。
3.根據權利要求2所述的一種在役盆式絕緣子的X射線數字成像檢測方法,其特征在于:所述X射線源的焦點d的中心射線到最近GIS殼體的距離f值不低于500mm。
4.根據權利要求3所述的一種在役盆式絕緣子的X射線數字成像檢測方法,其特征在于:所述步驟S02中的a角度值通過步驟S01垂直透照后獲得的數字成像,提取盆式絕緣子(2)的曲面輪廓線和GIS殼體(3)的輪廓線夾角測得夾角a的值。
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