[發明專利]高頻解凍裝置

在審

• 申請號: 202010140408.4
• 申請日: 2020-03-03
• 公開（公告）號: CN111657418A
• 公開（公告）日: 2020-09-15
• 發明（設計）人: 岸本卓士
• 申請（專利權）人: 夏普株式會社
• 主分類號: A23L3/365
• 分類號: A23L3/365;H05B6/46;H05B6/62
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 郝家歡

1.一種加熱高頻解凍裝置，其特征在于，具備：

加熱室，

上部電極和下部電極，平行配置在該加熱室內且被解凍物插入于其間，

電壓施加部，將高頻電壓施加到所述上部電極和所述下部電極之間，

反射功率檢測部，檢測通過所述電壓施加部施加的高頻電壓的反射功率，

解凍完成判斷部，基于從在所述反射功率檢測部的檢測信號的從解凍開始時以來的變化，推定所述被解凍物的進展狀態并判斷解凍完成，

控制部，基于所述解凍完成判斷部的判斷，控制所述電壓施加部。

2.根據權利要求1所述的高頻解凍裝置，其特征在于，所述解凍完成判斷部，當所述檢測信號從表示反射功率的急速增加的增加區域改變成未表示急速增加的穩定區域，則判斷解凍已完成。

3.根據權利要求2所述的高頻解凍裝置，其特征在于，具備：

延長加熱模式，所述檢測信號改變成所述穩定區域以后也延長加熱，

所述控制部將從加熱開始到所述檢測信號達到所述穩定區域的時間作為決定在所述延長加熱模式中的延長加熱時間的要素利用。

4.根據權利要求3所述的高頻解凍裝置，其特征在于，所述控制部進一步將所述被解凍物的加熱開始之前的溫度信息作為決定在所述延長加熱模式中的延長加熱的時間的要素利用。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的高頻解凍裝置，其特征在于，所述電壓施加部具備匹配電路，對所述高頻電壓的入射功率的反射功率的比率超過閾值，則進行阻抗調整，

所述解凍完成判斷部在所述匹配電路阻抗調整之后，在即使過了預先決定的時間，反射功率對所述高頻電壓的入射功率的比率也不超過所述閾值的情況下，判斷解凍已完成。