[發(fā)明專利]一種激光掃描數(shù)字水準(zhǔn)儀在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010138435.8 | 申請(qǐng)日: | 2020-03-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111141257A | 公開(公告)日: | 2020-05-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳曙霞;呂雨;夏家庭 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)十七冶集團(tuán)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01C5/00 | 分類號(hào): | G01C5/00 |
| 代理公司: | 馬鞍山市金橋?qū)@碛邢薰?34111 | 代理人: | 許瑞祥 |
| 地址: | 243000 安徽*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 激光 掃描 數(shù)字 水準(zhǔn)儀 | ||
本發(fā)明公開了一種激光掃描數(shù)字水準(zhǔn)儀,涉及工程測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域。該激光掃描數(shù)字水準(zhǔn)儀,包括條碼水準(zhǔn)尺、物鏡、調(diào)焦器及調(diào)焦透鏡、補(bǔ)償器及其監(jiān)視器、掃描測(cè)距傳感器、十字絲分劃板、中央處理器CPU、目鏡、圓水準(zhǔn)器、腳螺旋和中心螺旋孔,所述物鏡、調(diào)焦透鏡、補(bǔ)償器、掃描測(cè)距傳感器和目鏡均位于同一直線上,所述調(diào)焦器與調(diào)焦透鏡配合設(shè)置,所述中央處理器CPU與掃描測(cè)距傳感器電性連接。該激光掃描數(shù)字水準(zhǔn)儀,采用激光掃描技術(shù)代替目前數(shù)字水準(zhǔn)儀廣泛采用的照相法,使水準(zhǔn)測(cè)量不再受限于外界環(huán)境光,提高數(shù)字水準(zhǔn)測(cè)量的場(chǎng)合,提高工作效率的同時(shí)方便了使用者的使用。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及工程測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種激光掃描數(shù)字水準(zhǔn)儀。
背景技術(shù)
數(shù)字水準(zhǔn)儀代替光學(xué)水準(zhǔn)儀使用水準(zhǔn)測(cè)量數(shù)字化,大大提高了水準(zhǔn)測(cè)量的速度與精度,提高了水準(zhǔn)測(cè)量的效率。目前數(shù)字水準(zhǔn)儀的測(cè)量原理主要有相關(guān)法,徠卡數(shù)字水準(zhǔn)儀主要采用這種原理,蔡司數(shù)字水準(zhǔn)儀采用幾何法,其他個(gè)別數(shù)字水準(zhǔn)儀主要采用相位法。
而現(xiàn)有技術(shù)中的測(cè)量方法均受限于外界環(huán)境光,容易出現(xiàn)由于外界環(huán)境光線不適應(yīng)而導(dǎo)致的測(cè)量誤差增加,降低工作效率的同時(shí)給使用者的使用帶來(lái)不便。
發(fā)明內(nèi)容
(一)解決的技術(shù)問(wèn)題
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明提供了一種激光掃描數(shù)字水準(zhǔn)儀,解決了現(xiàn)有技術(shù)中的測(cè)量方法均受限于外界環(huán)境光,容易出現(xiàn)由于外界環(huán)境光線不適應(yīng)而導(dǎo)致的測(cè)量誤差增加,降低工作效率的同時(shí)給使用者的使用帶來(lái)不便的問(wèn)題。
(二)技術(shù)方案
為實(shí)現(xiàn)以上目的,本發(fā)明通過(guò)以下技術(shù)方案予以實(shí)現(xiàn):一種激光掃描數(shù)字水準(zhǔn)儀,包括條碼水準(zhǔn)尺、物鏡、調(diào)焦器及調(diào)焦透鏡、補(bǔ)償器及其監(jiān)視器、掃描測(cè)距傳感器、十字絲分劃板、中央處理器CPU、目鏡、圓水準(zhǔn)器、腳螺旋和中心螺旋孔,所述物鏡、調(diào)焦透鏡、補(bǔ)償器、掃描測(cè)距傳感器和目鏡均位于同一直線上,所述調(diào)焦器與調(diào)焦透鏡配合設(shè)置,所述中央處理器CPU與掃描測(cè)距傳感器電性連接。
優(yōu)選的,所述掃描測(cè)距傳感器的上、中、下三絲,掃描角度范圍34′23″,相當(dāng)于光學(xué)水準(zhǔn)儀乘常數(shù)是100,工作時(shí),掃描測(cè)距傳感器從下向上或從上向下掃描時(shí)采樣100000點(diǎn),每掃描一次0.1秒時(shí)間,可重復(fù)5次測(cè)量取平均值。
優(yōu)選的,所述條碼水準(zhǔn)尺為透光材料或銦鋼材料鍍上反光很差材料,從下向上粘10mm的高反光膜,間隔不反光或弱反光段的高差從10.2mm增加,每間隔不反光或弱反光層增加0.2mm長(zhǎng)。
(三)有益效果
本發(fā)明提供了一種激光掃描數(shù)字水準(zhǔn)儀。具備以下有益效果:該激光掃描數(shù)字水準(zhǔn)儀,采用激光掃描技術(shù)代替目前數(shù)字水準(zhǔn)儀廣泛采用的照相法,使水準(zhǔn)測(cè)量不再受限于外界環(huán)境光,提高數(shù)字水準(zhǔn)測(cè)量的場(chǎng)合,提高工作效率的同時(shí)方便了使用者的使用。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明激光掃描數(shù)字水準(zhǔn)儀的光路圖;
圖2為本發(fā)明激光掃描測(cè)量原理圖
圖3為激光測(cè)距修正傾斜誤差原理示意圖。
圖中:1、條碼水準(zhǔn)尺,2、物鏡,3、調(diào)集器,4、補(bǔ)償器,5、補(bǔ)償器監(jiān)視,6、掃描測(cè)距傳感器,7、十字絲分劃板,8、處理器,9、目鏡,10、圓水準(zhǔn)器,11、調(diào)焦透鏡,12、腳螺旋,13、中心螺旋孔,14、水準(zhǔn)尺底部,15、10mm明亮反光膜,16、不反光的暗條,17、下絲掃描開始點(diǎn),18、中絲位置,19、上絲掃描結(jié)束點(diǎn),20、水準(zhǔn)尺背面的圓氣泡,21、水準(zhǔn)尺頂部,22、水準(zhǔn)儀測(cè)距的相位中心,23、水準(zhǔn)尺底部,24、10mm明亮反光膜,25、不反光的暗條,26、下絲掃描開始點(diǎn),27、中絲位置,28、上絲掃描結(jié)束點(diǎn),29、水準(zhǔn)尺背面的圓氣泡,30、水準(zhǔn)尺頂部,31、水準(zhǔn)儀測(cè)距的相位中心。
具體實(shí)施方式
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)十七冶集團(tuán)有限公司,未經(jīng)中國(guó)十七冶集團(tuán)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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