[發明專利]一種具有檢測功能的衍射光學鏡片及其制作方法有效
| 申請號: | 202010137061.8 | 申請日: | 2020-03-02 |
| 公開(公告)號: | CN111208649B | 公開(公告)日: | 2023-09-29 |
| 發明(設計)人: | 王敏銳;孫旭 | 申請(專利權)人: | 蘇州中為聯創微納制造創新中心有限公司 |
| 主分類號: | G02B27/42 | 分類號: | G02B27/42;G06V40/16 |
| 代理公司: | 蘇州簡理知識產權代理有限公司 32371 | 代理人: | 楊瑞玲;楊曉東 |
| 地址: | 215123 江蘇省蘇州市工業*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 具有 檢測 功能 衍射 光學鏡片 及其 制作方法 | ||
1.一種具有檢測功能的衍射光學鏡片,其特征在于,包括:
石英薄片(7),其被設置為接收來自外部設備的光束,所述石英薄片(7)具有上表面(71)以及與所述上表面(71)相對設置的下表面(72),所述上表面(71)具有衍射光柵(711),所述下表面(72)具有若干凹槽;
金屬電阻(8),其被設置的檢測所述石英薄片(7)的電導率,所述金屬電阻(8)嵌入所述凹槽內,所述金屬電阻(8)在所述石英薄片(7)的下表面(72)形成連續的金屬電阻網絡回路;
所述外部光束自所述衍射光柵(711)的一側穿透所述石英薄片(7)照射在被識別物體(1)上,當所述石英薄片(7)破損時,石英薄片(7)的電導率發生變化,所述金屬電阻(8)根據檢測到的電導率變化控制外部設備停止發射光束。
2.根據權利要求1所述的衍射光學鏡片,其特征在于,所述若干凹槽在所述石英薄片(7)的下表面(72)呈點狀分布,
所述下表面(72)上與所述衍射光柵(711)相對應的位置為透光區域(721),所述透光區域(721)無所述凹槽;
所述凹槽遠離所述透光區域(721),且所述凹槽靠近所述石英薄片(7)的邊緣。
3.根據權利要求2所述的衍射光學鏡片,其特征在于,所述凹槽集中分布在所述石英薄片(7)的四周。
4.根據權利要求1所述的衍射光學鏡片,其特征在于,所述若干凹槽在所述石英薄片(7)的下表面呈陣列分布,所述陣列分布包括網格分布,所述網格包括多邊形網格,所述凹槽與所述多邊形網格的邊一一對應設置。
5.根據權利要求1所述的衍射光學鏡片,其特征在于,所述金屬電阻(8)與所述凹槽一一對應,所述金屬電阻(8)的形狀與所述凹槽的形狀一致。
6.根據權利要求1所述的衍射光學鏡片,其特征在于,所述金屬電阻(8)包括納米銀和石墨烯;
所述納米銀和石墨烯通過印旋涂和/或噴涂的方式填充在所述凹槽內形成所述金屬電阻(8)。
7.根據權利要求1所述的衍射光學鏡片,其特征在于,所述凹槽的形狀包括圓形、橢圓形、矩形、三角形和貝殼形。
8.一種具有檢測功能的衍射光學鏡片的制作方法,其特征在于,包括如下步驟:
S1:清洗帶有完整衍射光柵(711)的石英薄片(7),在所述石英薄片(7)刻有衍射光柵(711)的一面的相對面進行光刻顯影處理,在所述石英薄片(7)上對若干凹槽進行預定位;
S2:按照步驟S1在所述石英薄片(7)上獲得的預定位,對石英薄片(7)進行刻蝕,在所述石英薄片(7)上表面制得若干凹槽;
S3:在步驟S2制得的若干凹槽內涂覆銀漿,對所述銀漿進行預固化,獲得初步成型的金屬電阻(8);
S4:對步驟S3獲得的初步成型的金屬電阻(8)進行去膠處理,形成初步成型的金屬電阻網絡回路,對所述金屬電阻網絡回路進行固化處理,獲得成型金屬電阻網絡回路。
9.根據權利要求8所述的制作方法,其特征在于,對于步驟S3,所述涂覆銀漿包括噴涂和旋涂。
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