[發明專利]多視角三維測量裝置在審
| 申請號: | 202010136333.2 | 申請日: | 2020-03-02 |
| 公開(公告)號: | CN111238399A | 公開(公告)日: | 2020-06-05 |
| 發明(設計)人: | 王德澤;吳趟;何博俠 | 申請(專利權)人: | 南京理工大學 |
| 主分類號: | G01B11/24 | 分類號: | G01B11/24 |
| 代理公司: | 南京理工大學專利中心 32203 | 代理人: | 岑丹 |
| 地址: | 214409 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 視角 三維 測量 裝置 | ||
本發明公開了一種多視角三維測量裝置,包括:橫梁,設置于橫梁上的水平導軌,與水平導軌滑動連接的第一、第二移臺,通過垂直轉軸分別設置在第一、第二移臺上的第一、第二相機,設置在橫梁上且位于第一、第二移臺之間的光源激光器,設置于第一、第二相機的公共視野范圍內水平表面上的置物臺,所述置物臺上表面設置有若干反光標注點。本發明結構簡單,測量方便。
技術領域
本發明屬于攝像測量裝置領域,具體為一種多視角三維測量裝置。
背景技術
在零件加工過程中,測量貫穿了工件加工的整個周期。在目前的自動化加工生產線中,用于測量工件半成品和工件成品的關鍵尺寸的各類測量系統已經得到較為廣泛的應用。但對于柔性化生產線來說,由于產線上工件特征差異較大,結構較復雜,每個工件的關鍵尺寸不完全相同,測量位置與方法也有一定的差異,單一的固定式測量裝置難以滿足質檢測量需求。為了解決這一問題,提出對工件進行三維測量,以獲取工件較為完整的尺寸信息,對工件的加工質量進行檢測?,F有的三維測量方法可分為接觸式與非接觸式兩種,其中接觸式三維測量,通過測量探頭與工件直接接觸,實現對工件三維尺寸的測量,精度高,但效率低,且對工件表面有損傷,難以應用到生產線的檢測測量中。在非接觸式測量方法中基于光學的三維測量技術是目前最常用的一種技術,它具有測量速度快、測量范圍廣以及測量精度高等優點。但是傳統的基于光學的三維測量技術中,相機與光源位置固定,成像范圍有限,對于不同尺度的復雜物體表面,存在難以測量與成像的視野盲區。
發明內容
本發明的目的在于提供了一種多視角三維測量裝置。
實現本發明目的的技術解決方案為:一種多視角三維測量裝置,包括:橫梁,設置于橫梁上的水平導軌,與水平導軌滑動連接的第一、第二移臺,通過垂直轉軸分別設置在第一、第二移臺上的第一、第二相機,設置在橫梁上且位于第一、第二移臺之間的光源激光器,設置于第一、第二相機的公共視野范圍內水平表面上的置物臺,所述置物臺上表面設置有若干反光標注點。
優選地,所述第一、第二移臺分別通過滑塊與水平導軌滑動連接。
優選地,所述激光器通過光源基座設置在橫梁上,所述光源基座包括固定端、連接端和調整頭,固定端固定連接于橫梁上,連接端與光源激光器固定連接,所述調整頭用于調整光源激光器發射角度。
優選地,所述激光器設置在橫梁的中點。
優選地,所述第一移臺能沿滑軌一端滑動且不超過滑軌中點,所述第二移臺能沿滑軌另一端滑動且不超過滑軌中點。
優選地,所述第一相機和第二相機參數型號完全相同。
本發明與現有技術相比,其顯著優點為:本發明在使用過程中,根據柔性生產線提供的目標工件的大概尺寸范圍,控制水平移臺和垂直轉軸,調整第一、第二相機與光源的相對位置關系,得到最佳的測量視場,并通過置物臺上未被工件遮擋的若干標志點,對調整之后的雙目系統進行自標定,然后對目標工件的三維尺寸進行精確測量與重建,結構簡單,測量方便。
下面結合附圖對本發明作進一步詳細描述。
附圖說明
圖1是本發明實施方式提供的多視角三維測量裝置的結構示意圖。
圖2是本發明實施方式提供的多視角三維測量裝置的正視圖。
圖3是本發明實施方式提供的多視角三維測量裝置的俯視圖。
圖4是本發明實施方式提供的多視角三維測量裝置的側視圖。
圖5是本發明實施方式提供的多視角三維測量裝置的置物臺的結構示意圖。
具體實施方式
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