[發明專利]一種射頻器件多工位調試工作站

在審

• 申請號: 202010135511.X
• 申請日: 2020-03-02
• 公開（公告）號: CN113364532A
• 公開（公告）日: 2021-09-07
• 發明（設計）人: 肖如吾;辛朝煥;邱文斌;盧凱;成慜
• 申請（專利權）人: 上海特普瑞通訊科技有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種射頻器件多工位調試工作站，包括用于測試的具備可復用主機的測試儀表或測試儀表集合，調試工作臺，所述調試工作臺包括多個工位，所述每個工位包括顯示裝置，其特征在于，所述調試工作臺還包括工作臺面，所述工作臺面中部有一開口，一柱形柜體從所述開口貫穿所述工作臺，所述具備可復用主機的測試儀表或測試儀表集合位于所述柱形柜體內部，主機可以同時處理來自所述多個工位的調試信息，并將結果顯示在所述顯示裝置上，所述多個工位和所述多個顯示裝置圍繞所述調試工作臺中部所述開口呈環形布置。

2.如權利要求1所述的多工位調試工作站，其特征在于，所述測試儀表包括矢量網絡分析儀，所述射頻器件為濾波器、雙工器、合路器等中的一個或多個。

3.如權利要求1或2所述的多工位調試工作站，其特征在于，所述工作臺面中部的開口連接一金屬框體支架，所述金屬框體支架底部包括一矩形底板，所述柱形柜體置于所述矩形底板上，所述框體支架底部安裝有至少一個滑輪，所述滑輪與地面接觸。

4.如權利要求1或2所述的多工位調試工作站，其特征在于，所述工作臺面可向下折疊收起。

5.如權利要求1或2所述的多工位調試工作站，其特征在于，所述工作臺面呈八邊形、圓形或長方形。