[發明專利]基于優選小波基函數的模擬電路故障特征提取方法及系統

有效

• 申請號: 202010134689.2
• 申請日: 2020-03-02
• 公開（公告）號: CN111337819B
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發明（設計）人: 何怡剛;張朝龍;楊婷;時國龍;何鎏璐;熊元新;杜博倫;安寶冉
• 申請（專利權）人: 武漢大學
• 主分類號: G01R31/316
• 分類號: G01R31/316
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 張宇

1.一種基于優選小波基函數的模擬電路故障特征提取方法，其特征在于，包括：

獲取模擬電路在不同故障時的輸出信號；

依次應用基于不同小波基函數的小波變換方法提取各輸出信號的特征；

對于每種小波基函數提取的特征，計算各個故障的中心位置、各個故障數據點到中心位置的距離，故障數據點最遠位置和故障數據點平均位置；

由得到各個故障的中心位置，由O_j,k,i＝Distance(Mean_j,k,P_j,k,i)得到各個故障數據點到中心位置的距離，由maxO_j,k＝argmax{O_j,k,i}得到故障數據點最遠位置，由得到故障數據點平均位置，其中，j＝1…J，J為小波基函數的數量；k＝1…K，K為故障的數量；i＝1…N，N為單一故障的數據點個數；P_j,k,i為基于第j種小波基函數提取的特征中第k個故障第i個數據點的坐標位置，Distance為歐氏距離計算函數，O_j,k,i為基于第j種小波基函數提取的特征中第k個故障第i個數據點P_j,k,i到中心位置Mean_j,k的距離；

根據各個故障的中心位置、各個故障數據點到中心位置的距離，故障數據點最遠位置和故障數據點平均位置，得到各小波基函數提取特征的得分，進而根據得分確定用于模擬電路故障特征提取的最優小波基函數；

其中，由得到第j種小波基函數提取特征的得分，其中，m＝1…C(K，2)，是K種故障中第m個兩種故障組合，Judge_j,m是第m個兩種故障組合的得分，且

k₁,k₂表示兩種不同的故障。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，由Score_t＝argmax{Score_j}確定得分最高的小波基函數，若僅有一個得分最高的小波基函數，則將該得分最高的小波基函數作為模擬電路故障特征提取的最優小波基函數；

若滿足得分最高的小波基函數有S種，則將該S種小波基函數中滿足的第s種小波基函數作為模擬電路故障特征提取的最優小波基函數。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，小波基函數的數量等于特征的數量；第j種小波基函數提取的特征中第k個故障第i個數據點的坐標位置，為第j種小波基函數提取的特征中第k個故障第i個數據點的值。