[發(fā)明專利]陸相頁巖氣開發(fā)井型確定方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010134220.9 | 申請日: | 2020-03-02 |
| 公開(公告)號: | CN111322056A | 公開(公告)日: | 2020-06-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張濤;李相方;馮東;趙文;薛波;王泉波;楊國旗;雷開宇 | 申請(專利權(quán))人: | 中國石油大學(xué)(北京) |
| 主分類號: | E21B43/30 | 分類號: | E21B43/30;G06F30/20;G06Q10/06;G06Q50/02;G06F119/14 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 王天堯;湯在彥 |
| 地址: | 102249*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 頁巖 開發(fā) 確定 方法 裝置 | ||
1.一種陸相頁巖氣開發(fā)井型確定方法,其特征在于,包括:
確定目標(biāo)儲層的井型控制參數(shù);目標(biāo)儲層至少包括陸相頁巖氣儲層,井型控制參數(shù)反映目標(biāo)儲層的地質(zhì)特點;井型控制參數(shù)包括水平井可控縱向儲量占比,目標(biāo)儲層的脆性指數(shù),目標(biāo)儲層的薄砂層占比,以及目標(biāo)儲層水力壓裂時的傷害表征參數(shù);
水平井可控縱向儲量占比為水平井可控縱向地質(zhì)儲量與目標(biāo)儲層及其鄰近可采氣層的地質(zhì)儲量的比值;目標(biāo)儲層的脆性指數(shù)反映了目標(biāo)儲層水平井體積壓裂縫網(wǎng)的復(fù)雜程度;目標(biāo)儲層的薄砂層占比決定了水平井壓裂縫縱向穿透能力;目標(biāo)儲層水力壓裂時的傷害表征參數(shù)反映了進(jìn)行水力壓裂時對目標(biāo)儲層的傷害程度;
在目標(biāo)儲層的井型控制參數(shù)滿足預(yù)設(shè)條件時,確定目標(biāo)儲層的開發(fā)井型為直井;
在目標(biāo)儲層的井型控制參數(shù)不滿足預(yù)設(shè)條件時,確定目標(biāo)儲層的開發(fā)井型為水平井;
通過如下公式確定水平井可控縱向儲量占比:
其中,表示水平井可控縱向儲量占比,Gh表示水平井可控縱向地質(zhì)儲量,Gv,n表示目標(biāo)儲層及其鄰近可采氣層的地質(zhì)儲量,n表示目標(biāo)儲層及其鄰近可采氣層中待開采儲層的數(shù)量,k表示目標(biāo)儲層及其鄰近可采氣層中當(dāng)前待開采儲層的序號,Gv,k表示當(dāng)前待開采儲層的地質(zhì)儲量,hk表示當(dāng)前待開采儲層的平均有效厚度,表示當(dāng)前待開采儲層含氣頁巖的有效孔隙度,Sg,k表示當(dāng)前待開采儲層的原始含水飽和度,Tsc表示標(biāo)準(zhǔn)溫度,Tk表示當(dāng)前待開采儲層的平均地層溫度,psc表示標(biāo)準(zhǔn)壓力,pi,k表示當(dāng)前待開采儲層的平均地層壓力,Zi,k表示當(dāng)前待開采儲層的原始天然氣偏差系數(shù),ρb,k表示當(dāng)前待開采儲層的泥頁巖巖石密度,Gsd,k表示當(dāng)前待開采儲層可解吸的吸附氣含量,Gsdt,k表示解吸實驗測定的當(dāng)前待開采儲層的吸附氣含量,Vlost表示當(dāng)前待開采儲層采樣過程中的損失氣含量,Vmeasured表示當(dāng)前待開采儲層在自然狀態(tài)下的解吸氣含量,Vcrushed表示當(dāng)前待開采儲層在真空狀態(tài)下加熱粉碎前后的殘余氣含量;
通過如下公式確定目標(biāo)儲層的脆性指數(shù):
其中,Bbrit表示目標(biāo)儲層的脆性指數(shù),Ec表示目標(biāo)儲層的楊氏模量,Ecmax表示目標(biāo)儲層楊氏模量的最大值,Ecmin表示目標(biāo)儲層楊氏模量的最小值,Vc表示目標(biāo)儲層的泊松比,Vcmax表示目標(biāo)儲層泊松比的最大值,Vcmin表示目標(biāo)儲層泊松比的最小值;
通過如下公式確定目標(biāo)儲層的薄砂層占比:
其中,Wlayer表示目標(biāo)儲層的薄砂層占比,m表示目標(biāo)儲層中薄砂層的數(shù)量,j表示目標(biāo)儲層中當(dāng)前薄砂層的序號,hsand,j表示目標(biāo)儲層中當(dāng)前薄砂層的厚度,h表示目標(biāo)儲層中當(dāng)前薄砂層的平均有效厚度;
通過如下公式確定目標(biāo)儲層水力壓裂時的傷害表征參數(shù):
Wdamage=wclay×(w1+w2+w3);
其中,Wdamage表示目標(biāo)儲層水力壓裂時的傷害表征參數(shù),wclay表示黏土礦物在目標(biāo)儲層中所有礦石礦物中的組分占比,w1表示膨脹性黏土蒙脫石在黏土礦物中的組分占比,w2表示膨脹性黏土伊/蒙混層在黏土礦物中的組分占比,w3表示運移性黏土高嶺石在黏土礦物中的組分占比。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國石油大學(xué)(北京),未經(jīng)中國石油大學(xué)(北京)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010134220.9/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 商品開發(fā)方法、商品開發(fā)系統(tǒng)、商品開發(fā)程序以及存儲商品開發(fā)程序的存儲介質(zhì)
- 開發(fā)支援裝置和開發(fā)支援程序
- 用于web開發(fā)系統(tǒng)的開發(fā)方法和web開發(fā)系統(tǒng)
- 控制裝置、開發(fā)裝置、以及開發(fā)程序
- 系統(tǒng)開發(fā)裝置、程序開發(fā)方法及開發(fā)程序
- 軟件開發(fā)平臺及其開發(fā)方法
- 菜譜開發(fā)方法和菜譜開發(fā)系統(tǒng)
- EasyApp移動開發(fā)平臺和開發(fā)方法
- 開發(fā)支援裝置、開發(fā)支援方法以及存儲介質(zhì)
- 開發(fā)輔助裝置、開發(fā)輔助系統(tǒng)和開發(fā)輔助方法





