[發(fā)明專利]一種實(shí)時(shí)偵測(cè)閃存存取狀態(tài)與錯(cuò)誤的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010133348.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-03-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111240888A | 公開(公告)日: | 2020-06-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 莊建民;魏智汎;齊元輔;王宇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇華存電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/10 | 分類號(hào): | G06F11/10 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 226300 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 實(shí)時(shí) 偵測(cè) 閃存 存取 狀態(tài) 錯(cuò)誤 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種實(shí)時(shí)偵測(cè)閃存存取狀態(tài)與錯(cuò)誤的方法,包括閃存主控,所述閃存主控內(nèi)設(shè)有靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器和閃存控制器,所述閃存主控與存取界面通過(guò)私有指令雙向連接,所述閃存控制器與閃存陣列雙向連接。本發(fā)明涉及主控芯片內(nèi)部狀態(tài)寄存器的讀取記錄與輸出,以及實(shí)體位置映射與邏輯位置映射轉(zhuǎn)換后的解析問(wèn)題,通過(guò)此方法降低在存儲(chǔ)裝置問(wèn)題分析上的困難度并簡(jiǎn)化問(wèn)題分析的方法。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及閃存技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種實(shí)時(shí)偵測(cè)閃存存取狀態(tài)與錯(cuò)誤的方法。
背景技術(shù)
閃存(NAND Flash Memory)是一種長(zhǎng)壽命的非易失性(在斷電情況下仍能保持所存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)信息)的存儲(chǔ)器,數(shù)據(jù)刪除不是以單個(gè)的字節(jié)為單位而是以固定的區(qū)塊為單位(注意:NOR Flash 為字節(jié)存儲(chǔ)。),區(qū)塊大小一般為4MB到32MB。閃存是電子可擦除只讀存儲(chǔ)器(EEPROM)的變種,閃存與EEPROM不同的是,EEPROM能在字節(jié)水平上進(jìn)行刪除和重寫而不是整個(gè)芯片擦寫,而閃存的大部分芯片需要塊擦除。由于其斷電時(shí)仍能保存數(shù)據(jù),閃存通常被用來(lái)保存設(shè)置信息,如在電腦的BIOS(基本程序)、PDA(個(gè)人數(shù)字助理)、數(shù)碼相機(jī)中保存資料等。
在現(xiàn)今的閃存存儲(chǔ)裝置中,透過(guò)電腦端的作業(yè)系統(tǒng)去編輯邏輯位址對(duì)閃存存儲(chǔ)裝置做資料存取,并透過(guò)存儲(chǔ)裝置中的事務(wù)層(FTL, Flash transaction layer)轉(zhuǎn)化為閃存的實(shí)體位址對(duì)閃存的實(shí)體區(qū)塊做資料存取,但當(dāng)區(qū)塊存取錯(cuò)誤時(shí),研發(fā)人員無(wú)法實(shí)時(shí)得知在閃存區(qū)塊當(dāng)時(shí)的狀況與實(shí)體位置,必須離線透過(guò)特殊工具去判斷錯(cuò)誤方式與位置,且無(wú)法對(duì)應(yīng)作業(yè)系統(tǒng)邏輯位址與實(shí)體位置的相對(duì)應(yīng)關(guān)系。同時(shí)也定義了特定的讀寫資訊,讓工程師可以實(shí)時(shí)了解閃存內(nèi)的運(yùn)作方式是否正確。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種實(shí)時(shí)偵測(cè)閃存存取狀態(tài)與錯(cuò)誤的方法,以解決上述背景技術(shù)中提出的問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:一種實(shí)時(shí)偵測(cè)閃存存取狀態(tài)與錯(cuò)誤的方法,包括閃存主控,所述閃存主控內(nèi)設(shè)有靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器和閃存控制器,所述閃存主控與存取界面通過(guò)私有指令雙向連接,所述閃存控制器與閃存陣列雙向連接。
優(yōu)選的,一種實(shí)時(shí)偵測(cè)閃存存取狀態(tài)與錯(cuò)誤的方法,包括以下步驟:
A、當(dāng)閃存主控開始運(yùn)作時(shí),系統(tǒng)透過(guò)存取界面對(duì)閃存做資料操作;
B、當(dāng)閃存控制器發(fā)現(xiàn)操作錯(cuò)誤或是固件運(yùn)行到需要記錄與糾錯(cuò)或監(jiān)看的任何狀態(tài)時(shí),會(huì)將當(dāng)下需要的的資訊實(shí)時(shí)放入已規(guī)劃好特定空間的靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器中;
C、并透過(guò)界面的私有指令將其資料讀出并清空該區(qū)域,以便下次的錯(cuò)誤資訊存入。
優(yōu)選的,當(dāng)發(fā)現(xiàn)固件與軟件預(yù)先埋入的觸發(fā)點(diǎn)被觸發(fā)時(shí),將定義好錯(cuò)誤種類與方式將資料存入靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器中,具體步驟如下:
A、當(dāng)靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器內(nèi)的空間已填滿但私有指令尚未下達(dá)讀取時(shí),新的記錄分析資料可覆蓋舊資料,持續(xù)地向靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器做寫入;
B、或者也可以選擇在存儲(chǔ)器空間已滿時(shí)暫停存入資料,等待主機(jī)端將已記錄之訊息讀出并空出可用空間時(shí)再繼續(xù)錄入訊息。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明涉及主控芯片內(nèi)部狀態(tài)寄存器的讀取記錄與輸出,以及實(shí)體位置映射與邏輯位置映射轉(zhuǎn)換后的解析問(wèn)題,通過(guò)此方法降低在存儲(chǔ)裝置問(wèn)題分析上的困難度并簡(jiǎn)化問(wèn)題分析的方法。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明原理框圖;
圖2為本發(fā)明行為與狀態(tài)表示示意圖;
圖3為本發(fā)明流程圖;
圖4為本發(fā)明讀取錯(cuò)誤時(shí)流程圖。
具體實(shí)施方式
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于江蘇華存電子科技有限公司,未經(jīng)江蘇華存電子科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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- 專利分類
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過(guò)測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過(guò)處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過(guò)軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 實(shí)時(shí)解碼系統(tǒng)與實(shí)時(shí)解碼方法
- 實(shí)時(shí)穩(wěn)定
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