[發明專利]圖像處理方法及裝置、電子設備和存儲介質

有效

• 申請號: 202010129399.9
• 申請日: 2020-02-28
• 公開（公告）號: CN111340048B
• 公開（公告）日: 2022-02-22
• 發明（設計）人: 劉建博;任思捷;王曉剛;李洪升
• 申請（專利權）人: 深圳市商湯科技有限公司
• 主分類號: G06V10/40
• 分類號: G06V10/40;G06V10/80;G06V10/26;G06K9/62;G06V10/764;G06V10/82
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

本公開涉及一種圖像處理方法及裝置、電子設備和存儲介質，所述方法包括：對待處理圖像進行特征提取，得到所述待處理圖像的第一特征圖；對所述第一特征圖進行權重預測，得到所述第一特征圖的權重特征圖，所述權重特征圖包括所述第一特征圖中特征點的權重值；根據所述權重特征圖，對所述第一特征圖中的特征點進行特征值調整，得到第二特征圖；根據所述第二特征圖，確定所述待處理圖像的處理結果。本公開實施例可提高圖像處理的精度。

技術領域

本公開涉及計算機技術領域，尤其涉及一種圖像處理方法及裝置、電子設備和存儲介質。

背景技術

在計算機視覺等領域，通常需要對圖像進行處理。相關技術的圖像處理方法通常會提取圖像的特征圖，根據特征圖分析圖像場景中的物體信息，進而得到圖像的處理結果。然而，相關技術的處理方式的特征感受視野有限，導致處理精度較差。

發明內容

本公開提出了一種圖像處理技術方案。

根據本公開的一方面，提供了一種圖像處理方法，包括：對待處理圖像進行特征提取，得到所述待處理圖像的第一特征圖；對所述第一特征圖進行權重預測，得到所述第一特征圖的權重特征圖，所述權重特征圖包括所述第一特征圖中特征點的權重值；根據所述權重特征圖，對所述第一特征圖中的特征點進行特征值調整，得到第二特征圖；根據所述第二特征圖，確定所述待處理圖像的處理結果。

在一種可能的實現方式中，所述對所述第一特征圖進行權重預測，得到所述第一特征圖的權重特征圖，包括：對所述第一特征圖的各個通道進行卷積核預測，確定所述第一特征圖的第一卷積核張量，所述第一卷積核張量的通道數與第一特征圖的通道數相同，所述第一卷積核張量的長度及寬度與預設的卷積核尺寸相對應；根據所述第一卷積核張量，對所述第一特征圖進行卷積處理，得到所述權重特征圖。

在一種可能的實現方式中，所述根據所述第一卷積核張量，對所述第一特征圖進行卷積處理，得到所述權重特征圖，包括：根據所述第一特征圖的第一卷積核張量以及預設的多個擴張率，對所述第一特征圖進行空洞卷積，得到所述第一特征圖的多個第四特征圖；對所述多個第四特征圖分別進行激活，得到多個第五特征圖；根據所述多個第五特征圖，確定所述第一特征圖的權重特征圖。

在一種可能的實現方式中，所述對所述第一特征圖的各個通道進行卷積核預測，確定所述第一特征圖的第一卷積核張量，包括：對所述第一特征圖分別進行卷積變換，得到所述第一特征圖的關鍵特征圖和檢索特征圖，所述關鍵特征圖的尺度與所述第一特征圖的尺度相同，所述檢索特征圖的長度及寬度與所述第一特征圖的長度及寬度相同，所述檢索特征圖的通道數與所述卷積核尺寸相對應；對所述關鍵特征圖和所述檢索特征圖分別進行重排列，得到所述關鍵特征圖的第一特征矩陣和所述檢索特征圖的第二特征矩陣；對所述第一特征矩陣和所述第二特征矩陣進行矩陣相乘，得到所述第一特征圖的第三特征矩陣；根據所述第三特征矩陣，確定所述第一特征圖的第一卷積核張量。

在一種可能的實現方式中，所述根據所述第三特征矩陣，確定所述第一特征圖的第一卷積核張量，包括：對所述第三特征矩陣進行重排列，得到所述第一特征圖的第二卷積核張量；對所述第二卷積核張量進行歸一化處理，確定所述第一特征圖的第一卷積核張量。

在一種可能的實現方式中，所述根據所述權重特征圖，對所述第一特征圖中的特征點進行特征值調整，得到第二特征圖，包括：對所述第一特征圖與所述權重特征圖進行元素相乘，得到所述第二特征圖。

在一種可能的實現方式中，所述方法還包括：對所述第一特征圖進行全局池化，得到所述第一特征圖的池化特征圖，所述池化特征圖的尺度與所述第一特征圖的尺度相同；

所述根據所述第二特征圖，確定所述待處理圖像的處理結果，包括：將所述第二特征圖與所述池化特征圖進行融合，得到融合特征圖；對所述融合特征圖進行分割，得到所述待處理圖像的處理結果。