[發(fā)明專利]一種腐蝕性、危險(xiǎn)性氣態(tài)前驅(qū)體的原子層沉積過(guò)程控制方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010126746.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-02-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111188028B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-06-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馮昊;秦利軍;張王樂(lè);龔婷;李建國(guó);惠龍飛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安近代化學(xué)研究所 |
| 主分類號(hào): | C23C16/455 | 分類號(hào): | C23C16/455;C23C16/52 |
| 代理公司: | 中國(guó)兵器工業(yè)集團(tuán)公司專利中心 11011 | 代理人: | 祁恒 |
| 地址: | 710065 陜西*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 腐蝕性 危險(xiǎn)性 氣態(tài) 前驅(qū) 原子 沉積 過(guò)程 控制 方法 | ||
1.一種腐蝕性、危險(xiǎn)性氣態(tài)前驅(qū)體的原子層沉積過(guò)程控制方法,其特征在于,該方法采用原子層沉積系統(tǒng),該原子層沉積系統(tǒng)使用的表征儀器設(shè)備包括X射線光電子能譜、掃描電子顯微鏡、場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡;所制備的薄膜為W,所用的兩種腐蝕性、危險(xiǎn)性氣態(tài)前驅(qū)體分別為Si2H6和WF6,基底材料為硅片,原子層沉積溫度為220℃;
所述原子層沉積系統(tǒng)包括有ALD反應(yīng)腔,在ALD反應(yīng)腔內(nèi)有用于放置基底的樣品臺(tái);
所述ALD反應(yīng)腔連接有第一種氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置、第二種氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置和真空泵抽氣氣動(dòng)閥門(mén);
通過(guò)管路與ALD反應(yīng)腔連接的惰性吹掃載氣、管路載氣排空氣動(dòng)閥門(mén)和管路載氣吹掃氣動(dòng)閥門(mén);以及
通過(guò)管路與ALD反應(yīng)腔連通的第一種前驅(qū)體儲(chǔ)存器和第二種前驅(qū)體儲(chǔ)存器;
所述第一種氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置和第二種氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置上均安裝有前驅(qū)體儲(chǔ)存器,減壓閥、微調(diào)泵、上游氣動(dòng)閥門(mén)、下游氣動(dòng)閥門(mén)、管路真空泵抽氣氣動(dòng)閥門(mén);
具體制備包括以下步驟:
步驟S1:開(kāi)啟第一種氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置的上游氣動(dòng)閥門(mén),由第一種前驅(qū)體儲(chǔ)存器向第一種氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置內(nèi)注入第一種氣態(tài)前驅(qū)體Si2H6,時(shí)間為t1=2s;
其中,氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置的空間體積范圍為10-1cm3~103cm3;前驅(qū)體儲(chǔ)存器采用的是儲(chǔ)存腐蝕性、危險(xiǎn)性氣態(tài)前驅(qū)體的氣瓶;
步驟S2:關(guān)閉第一種氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置的上游氣動(dòng)閥門(mén),關(guān)閉原子層沉積系統(tǒng)中的管路惰性載氣吹掃管路上的氣動(dòng)閥門(mén)、管路真空泵抽氣氣動(dòng)閥門(mén),以及ALD反應(yīng)腔的真空泵抽氣氣動(dòng)閥門(mén),開(kāi)啟管路載氣排空氣動(dòng)閥門(mén)(7),時(shí)間為t2=0.4s;
步驟S3:開(kāi)啟第一種氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置的下游氣動(dòng)閥門(mén),將第一種氣態(tài)前驅(qū)體Si2H6注入到ALD反應(yīng)腔內(nèi),在位于樣品臺(tái)上的基底表面發(fā)生準(zhǔn)靜止態(tài)擴(kuò)散吸附反應(yīng),時(shí)間為t3=10s;在準(zhǔn)靜止態(tài)擴(kuò)散吸附時(shí),原子層沉積系統(tǒng)的保壓壓力為50~5000Pa;
步驟S4:關(guān)閉第一種氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置的下游氣動(dòng)閥門(mén),關(guān)閉管路載氣排空氣動(dòng)閥門(mén),開(kāi)啟管路載氣吹掃氣動(dòng)閥門(mén)、管路真空泵抽氣氣動(dòng)閥門(mén)以及ALD反應(yīng)腔的真空泵抽氣氣動(dòng)閥門(mén),移除管路和ALD反應(yīng)腔( 9) 中過(guò)量的第一種氣態(tài)前驅(qū)體Si2H6和反應(yīng)產(chǎn)物,時(shí)間為t4=20s;惰性載氣吹掃所使用的惰性載氣種類為氮?dú)狻鍤饣蚝猓?/p>
步驟S5:開(kāi)啟第二種氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置的上游氣動(dòng)閥門(mén),由第二種前驅(qū)體儲(chǔ)存器向第二種氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置內(nèi)注入第二種氣態(tài)前驅(qū)體WF6,時(shí)間為t5=2s;
步驟S6:關(guān)閉第二種氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置的上游氣動(dòng)閥門(mén),關(guān)閉管路載氣吹掃氣動(dòng)閥門(mén)、管路真空泵抽氣氣動(dòng)閥門(mén)以及ALD反應(yīng)腔的真空泵抽氣氣動(dòng)閥門(mén),開(kāi)啟管路載氣排空氣動(dòng)閥門(mén),時(shí)間為t6=0.4s;
步驟S7:開(kāi)啟第二種氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置(12)的下游氣動(dòng)閥門(mén)(15),將第二種氣態(tài)前驅(qū)體WF6注入到ALD反應(yīng)腔(9)內(nèi),在基底(11)表面發(fā)生準(zhǔn)靜止態(tài)擴(kuò)散吸附反應(yīng),時(shí)間為t7=10s;在準(zhǔn)靜止態(tài)擴(kuò)散吸附時(shí),原子層沉積系統(tǒng)的保壓壓力為50~5000Pa;
步驟S8:關(guān)閉第二種氣態(tài)前驅(qū)體容量可調(diào)裝置的下游氣動(dòng)閥門(mén),關(guān)閉管路載氣排空氣動(dòng)閥門(mén),開(kāi)啟管路載氣吹掃氣動(dòng)閥門(mén)、管路真空泵抽氣氣動(dòng)閥門(mén)以及ALD反應(yīng)腔真空泵抽氣氣動(dòng)閥門(mén),移除管路和ALD反應(yīng)腔中過(guò)量的第二種氣態(tài)前驅(qū)體WF6和反應(yīng)產(chǎn)物,時(shí)間為t8=20s;
重復(fù)執(zhí)行步驟S1~步驟S8,分別為50、100、200、300周期,在硅片表面精確得到所需厚度的W納米薄膜。
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C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過(guò)氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時(shí)基體上,例如在隨后通過(guò)浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無(wú)機(jī)材料為特征的
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