[發明專利]一種LED壽命特征參量自動采集系統

在審

• 申請號: 202010126327.9
• 申請日: 2020-02-28
• 公開（公告）號: CN111157870A
• 公開（公告）日: 2020-05-15
• 發明（設計）人: 石頡;申海鋒;孔維相;袁晨翔
• 申請（專利權）人: 蘇州科技大學
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01M11/02
• 代理公司: 北京科家知識產權代理事務所(普通合伙) 11427
• 代理人: 宮建華

本發明公開了一種LED壽命特征參量自動采集系統，包括LED壽命試驗模塊，包括用于放置待測LED的圓盤式測試臺架，所述測試臺架上設置有機械臂，所述機械臂上設置有檢測模塊，所述機械臂上還設置有驅動機械臂運動的執行機構；所述執行機構包括驅動機械臂旋轉的旋轉執行機構、驅動機械臂沿圓盤式測試臺架徑向運動的徑向伸縮執行機構和驅動機械臂沿圓盤式測試臺架軸向運動的軸向伸縮執行機構，本機構通過徑向伸縮執行機構和軸向伸縮執行機構，使得本試驗系統可以通過合理的拓撲擴展，實現擴大試驗樣本空間的目的，使壽命評估結果更加有效，同時本裝置使用照度計實現照度的測量，而照度可與光通量通過函數關系轉換，從而使得光通量的獲取更簡便準確。

技術領域

本發明涉及LED壽命檢測領域，特別涉及一種LED壽命特征參量自動采集系統。

背景技術

現有技術中，LED可以把電能轉化成光能，其具備效率高，光色純，應用靈活，光線質量高等特點，因此在許多光電控制設備中用作光源，在電子設備中用作信號顯示器。

然而LED在使用過程中，由于電流及外界環境的影響，其會不可避免的發生老化。LED的老化主要包括芯片的老化以及封裝的老化。芯片的老化機理，包括熱量積累導致的熱機械應力加強、芯片裂紋擴大，工藝不良導致的芯片粘結層完全脫離粘結面等。封裝的老化機理主要是高溫與潮濕導致封裝材料劣化，水汽滲入封裝材料內部，導致引線變質、PCB銅線銹蝕，水汽引入的可動導電離子會駐留在芯片表面，從而造成漏電。老化的LED燈發光效率會大大降低，光色的純度下降，甚至發生燒毀。

但是LED的老化不易直接觀察判斷，由于應用數量巨大，也不易通過全部檢測來判斷。作為現代化節能環保的燈具，一旦發生老化或燒毀，電路將失去指示功能，對維修工作帶來巨大的影響。這種現象對于某些重要電路，存在重大的安全隱患。

雖經過研發，目前已研發出LED檢測系統，但其中的特征量采集模塊還存在以下問題：

1、目前對LED的特征參量光通量進行采集時，基于統計的壽命評估方法要求試驗樣本數量足夠大，但目前的采集系統無法實現大規模試驗樣本的采集；

2、在進行LED光通量采集時，會受到相鄰LED光亮的影響，導致特征量采集不準確；

3、光通量的直接采集在自動實現過程中存在很大的困難。

發明內容

本發明解決的技術問題是提供一種LED壽命特征參量自動采集系統，以解決目前試驗樣本數量不多，從而對壽命評估結果精準度影響的問題。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：一種LED壽命特征參量自動采集系統，包括LED壽命試驗模塊，包括用于放置待測LED的圓盤式測試臺架，所述測試臺架上設置有機械臂，所述機械臂上設置有光照度計，所述機械臂上還設置有驅動機械臂運動的執行機構，所述光照度計四周設置有高度可調的阻光模塊；

所述執行機構包括驅動機械臂旋轉的旋轉執行機構、驅動機械臂沿圓盤式測試臺架徑向運動的徑向伸縮執行機構和驅動機械臂沿圓盤式測試臺架軸向運動的軸向伸縮執行機構；

還包括控制模塊和數據存儲與顯示模塊，所述控制模塊分別與執行機構、光照度計、數據存儲與顯示模塊連接。

進一步的是：所述圓盤式測試臺架上設置有用于給予執行機構復位信號的原點定位孔，所述原點定位孔處設置有紅外信號發射器，所述機械臂上設置有與紅外信號發射器配合使用的紅外信號接收器，所述紅外信號發射器和紅外信號接收器均與控制模塊連接。

進一步的是：所述阻光模塊為設置在機械臂四周的高度可調的擋板。

進一步的是：還包括用于記錄回路試驗電流、時間信息以及所有LED樣品的檢測數據并根據指令顯示數據的數據存儲與顯示模塊，所述數據存儲與顯示模塊與控制模塊連接。