[發明專利]減干涉準直膜、貼合型準直膜、圖像識別模組及制備方法

有效

• 申請號: 202010123030.7
• 申請日: 2020-02-27
• 公開（公告）號: CN113296278B
• 公開（公告）日: 2023-04-18
• 發明（設計）人: 唐海江;夏寅;高斌基;付坤;王小凱;鐘林;李剛;張彥
• 申請（專利權）人: 寧波激智科技股份有限公司
• 主分類號: G02B27/30
• 分類號: G02B27/30;G02B3/00;G06V40/13
• 代理公司: 北京德和衡律師事務所 11405
• 代理人: 陳浩

本發明屬于圖像識別領域，尤其涉及一種準直膜、一種減干涉準直膜、一種貼合型準直膜、一種圖像識別模組及其制備方法。為了解決傳統剛性準直片中兩層準直光闌對位難的問題，本發明提供一種準直膜、一種減干涉準直膜、一種貼合型準直膜、一種圖像識別模組及其制備方法。所述減干涉準直膜依次包括準直透鏡層、柔性基體層和一層準直孔層；所述準直透鏡層包含微透鏡陣列和肉厚；所述準直孔層包含準直孔陣列；所述準直透鏡層的微透鏡陣列為無序排布。本發明提供的減干涉準直膜能夠減輕光干涉現象，提高圖像識別準確率。本發明提供的圖像識別模組的識別準確率高，可應用于手機(OLED屏)等消費類電子產品的指紋解鎖等。

技術領域

本發明屬于圖像識別領域，尤其涉及減干涉準直膜、貼合型準直膜、圖像識別模組及制備方法。

背景技術

在圖像識別領域，常用的圖像傳感器如CMOS型或photo-TFT型，傳感器模組中一般都含有準直器件，用以加強信噪比，提高識別率，減少串擾。準直器件的功能(如圖1所示)主要是對圖像單點像素處的漫射光進行準直過濾，形成的法向的準直光或接近準直的光(信號)，可以順利傳輸到相應光電感應器處，而偏離法向的大角度光(噪音)只能極少地甚至無法進入非對應的光電感應器處，由此信噪比得以加強。

準直器件通常都具有頂部準直結構層和底部準直結構層：首先，頂層和底層雙層準直結構需要精確對位，否則會大大降低信號光的強度(如圖2所示)；其次，需增加頂層(入光)準直結構和底層(出光)準直結構之間距離，或縮小微結構尺寸(如圖3所示)，以提高整體長徑比，否則會增加串擾光的透過。

傳統的準直器件一般為剛性的準直片，如光纖集束切片，或是玻璃基兩側形成的微透鏡(Microlens)、準直光闌等，這類剛性準直片普遍需保持較高的厚度，一方面用以保持長徑比，一方面用以保持其機械性能，防止在應用環境中破碎。然而即便如此，這類剛性準直片仍然無法滿足大尺寸的圖像識別模組的應用。特別是還需要壓縮整體厚度的應用場合(如超薄大屏手機)，它將變得更脆，更易碎，生產良率更低，不論是性能，還是成本都無法滿足需求。另外顯而易見的是，此類剛性準直片更不可能在柔性圖像識別模組中。

除了光纖集束類的準直片(頂層和底層準直結構本就對齊)，絕大多數剛性準直片均需要完成兩層準直結構(準直光闌)的對位。然而，依次制備的兩層結構要進行高精度對位，具有相當大的難度：首先，需要非常復雜、昂貴的雙軸定位設備，定位過程繁瑣、耗時，若準直結構尺度小于50μm(圖像精度DPI508)，點陣規模必會達到每平米上億個點，生產效率極其低下；其次，這種對位方式實際上精度并不高，特別是準直結構的尺寸縮小，數量增加時，累積誤差會變得愈發明顯，導致信號光強度下降，而頻繁地原點校正也將變得更加費時。

綜上，傳統剛性準直片存在厚度高，厚度低的情況下易碎、性能差，兩層準直結構(準直光闌)的對位難、良率低、產能低的問題，難以在大尺寸、超薄、柔性的圖像識別領域中應用。

發明內容

為了解決傳統剛性準直片中兩層準直光闌對位難的問題，本發明提供減干涉準直膜、貼合型準直膜、圖像識別模組及制備方法。本發明提供的準直膜只包括一層準直孔層，解決了兩層準直光闌對位難的問題。與有序準直膜相比，本發明提供的減干涉準直膜能夠減輕光干涉現象，提高圖像識別準確率。

為了解決上述技術問題，本發明采用下述技術方案：

本發明提供一種準直膜，所述準直膜依次包括準直透鏡層、柔性基體層和準直孔層。

所述準直孔層為準直光闌。

本發明提供的準直膜只包括一層準直光闌。本發明提供的準直膜只包括一層準直孔層。

所述準直膜依次包括準直透鏡層、柔性基體層和一層準直孔層。

所述準直透鏡層置于柔性基體的上表面，準直孔層置于柔性基體的下表面。

所述準直透鏡層包含微透鏡陣列和肉厚。